专利名称：数码产品故障检测方法
技术领域：
本发明涉及数码产品的检测技术，具体的说是涉及数码产品的故障检测方法。
背景技术：
对于目前的数码产品的故障检测基本上都是由修理工凭维修经验找故障点，逐一 排除，此方法对一些明显的故障维修还可以应付，但也很费时，效率极低，对一些隐性故障 就显得无能为力。甚至无法发现这些隐性故障，导致可能是一些完全可以克服的故障也要 更换元器件，增加了用户的维修成本。传统技术中还没有一种条理化、高效率的数码产品故 障检测方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对传统技术中数码产品故障不易检测，导致维 修费用高、费时的问题，提出一种高效率的数码产品故障检测方法。本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是数码产品故障检测方法，包括以 下步骤a.主芯片检测主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检 测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向RAM寄存器中某个地址写入 数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以 上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；b.内存检测数据口测试，包括bl.数据口第1位测试在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X01， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X01异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第1位无故障，否则 第1位有故障；b2.数据口第2位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X02， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X02异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第2位无故障，否则 第2位有故障；b3.数据口第3位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X03， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X03异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第3位无故障，否则 第3位有故障；b4.数据口第4位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X04， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X04异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第4位无故障，否则 第4位有故障；b5.数据口第5位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X05， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X05异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第5位无故障，否则 第5位有故障；b6.数据口第6位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X06， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X06异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第6位无故障，否则 第6位有故障；b7.数据口第7位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X07， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X07异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第7位无故障，否则 第7位有故障；b8.数据口第8位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X08， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X08异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第8位无故障，否则 第8位有故障；地址线测试对每一根地址线电平为1时的地址对应存储单元写入1的增量数据， 从该地址读出数据，将读出数据与1的增量数据进行异或运算，判断运算结果是否为0，如 果为0，则该地址线无故障，如果不为0，且该地址线对应的数据口无故障，则该地址线有故 障；c. FLASH检测数据口测试，包括cl.在内存中分配用以存储FLASH中的SECTOR 数据的临时空间；C2.将FLASH中的SECTOR数据读取至临时空间；c3.将临时空间中的前16个字节的数据分别修改为0X00、0X01、0X00、0X02、0X00、 0X04、0X00、0X08、0X00、0X10、0X00、0X20、0X00、0X40、0X00、0X80，并擦除 FLASH 中的原始 SECTOR 数据；c4.将临时空间中经过修改后的SECTOR数据写入FLASH ；c5.从FLASH中读取前16个字节的数据，分别赋值变量RDATA1、RDATA2、RDATA3、 RDATA4、RDATA5、RDATA6、RDATA7、RDATA8、RDATA9、RDATA10、RDATAl 1、RDATAl2、RDATAl3、 RDATA14、RDATA15、RDATA16。c6.将0X00与RDATAl异或运算，运算结果重新赋值RDATAlJf 0X01与RDATA2异或运算，运算结果重新赋值RDATA2，将RDATAl与RDATA2异或运算，判断运算结果是否为0， 如果为0，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；将0X00与RDATA3异或运算，运算结果重新赋值RDATA3，将0X02与RDATA4异或运 算，运算结果重新赋值RDATA4，将RDATA3与RDATA4异或运算，判断运算结果是否为0，如果 为0，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；将0X00与RDATA5异或运算，运算结果重新赋值RDATA5，将0X04与RDATA6异或运 算，运算结果重新赋值RDATA6，将RDATA5与RDATA6异或运算，判断运算结果是否为0，如果 为0，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；将0X00与RDATA7异或运算，运算结果重新赋值RDATA7，将0X08与RDATA8异或运 算，运算结果重新赋值RDATASJf RDATA7与RDATA8异或运算，判断运算结果是否为0，如果 为0，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；将0X00与RDATA9异或运算，运算结果重新赋值RDATA9，将0X10与RDATA10异或 运算，运算结果重新赋值RDATAlOdf RDATA9与RDATA10异或运算，判断运算结果是否为0， 如果为0，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；将0X00与RDATAl 1异或运算，运算结果重新赋值RDATAllJf 0X20与RDATA12异 或运算，运算结果重新赋值RDATA12，将RDATAl 1与RDATA12异或运算，判断运算结果是否为 0，如果为0，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；将0X00与RDATA13异或运算，运算结果重新赋值RDATA13，将0X40与RDATA14异 或运算，运算结果重新赋值RDATA14，将RDATA13与RDATA14异或运算，判断运算结果是否为 0，如果为0，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；将0X00与RDATA15异或运算，运算结果重新赋值RDATA15，将0X80与RDATA16异 或运算，运算结果重新赋值RDATA16，将RDATA15与RDATA16异或运算，判断运算结果是否为 0，如果为0，则数据口第8位无故障，否则第8位有故障；d. IIC器件检测根据IIC器件的通信控制协议，对IIC器件发送控制命令，判断 在响应位有无SDA低电平，如果有，则IIC器件无故障，否则IIC器件有故障；e.三总线器件检测根据三总线器件的通信控制协议，对三总线器件写入初始数 据，再从输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，如果相同，则三总线器件无 故障，否则，三总线器件有故障。本发明的有益效果是故障检测更精准、提供维修效率、降低维修成本。
具体实施例方式本发明针对传统技术中数码产品故障不易检测，导致维修费用高、费时的问题，提 出一种高效率的数码产品故障检测方法。本发明通过对主芯片、内存、FLASH检测、三总线 器件分别写入数据，再通过输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，进而判断 器件有无故障，对于IIC器件，则是通过发送控制命令，判断在响应位有无SDA低电平，进而 判断IIC器件好坏。因此本发明对故障的检测可以精确到故障点，提高了维修效率，同时降 低维修成本。在具体实施上，本发明的实现方案如下本发明解决上述技术问题所采用的技术 方案是数码产品故障检测方法，包括以下步骤
7
a.主芯片检测主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检 测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向RAM寄存器中某个地址写入 数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以 上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；b.内存检测数据口测试，包括bl.数据口第1位测试在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X01， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X01异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第1位无故障，否则 第1位有故障；b2.数据口第2位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X02， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X02异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第2位无故障，否则 第2位有故障；b3.数据口第3位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X03， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X03异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第3位无故障，否则 第3位有故障；b4.数据口第4位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X04， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X04异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第4位无故障，否则 第4位有故障；b5.数据口第5位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X05， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X05异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第5位无故障，否则 第5位有故障；b6.数据口第6位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X06， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X06异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第6位无故障，否则 第6位有故障；b7.数据口第7位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X07， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X07异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第7位无故障，否则第1位有故障；b8.数据口第8位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将 读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATAO ；在地址0X000000写入数据0X08， 再从该地址读取数据，将读取的数据与0X08异或运算，运算结果赋值变量RDATAl中；将 RDATAO与RDATAl异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第8位无故障，否则 第8位有故障；地址线测试对每一根地址线电平为1时的地址对应存储单元写入1的增量数据， 从该地址读出数据，将读出数据与1的增量数据进行异或运算，判断运算结果是否为0，如 果为0，则该地址线无故障，如果不为0，且该地址线对应的数据口无故障，则该地址线有故 障；c. FLASH检测数据口测试，包括cl.在内存中分配用以存储FLASH中的SECTOR 数据的临时空间；c2.将FLASH中的SECTOR数据读取至临时空间；c3.将临时空间中的前16个字节的数据分别修改为0X00、0X01、0X00、0X02、0X00、 0X04、0X00、0X08、0X00、0X10、0X00、0X20、0X00、0X40、0X00、0X80，并擦除 FLASH 中的原始 SECTOR 数据；c4.将临时空间中经过修改后的SECTOR数据写入FLASH ；c5.从FLASH中读取前16个字节的数据，分别赋值变量RDATA1、RDATA2、RDATA3、 RDATA4、RDATA5、RDATA6、RDATA7、RDATA8、RDATA9、RDATA10、RDATAl 1、RDATAl2、RDATAl3、 RDATA14、RDATA15、RDATA16。c6.将0X00与RDATAl异或运算，运算结果重新赋值RDATAlJf 0X01与RDATA2异 或运算，运算结果重新赋值RDATA2，将RDATAl与RDATA2异或运算，判断运算结果是否为0， 如果为0，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；将0X00与RDATA3异或运算，运算结果重新赋值RDATA3，将0X02与RDATA4异或运 算，运算结果重新赋值RDATA4，将RDATA3与RDATA4异或运算，判断运算结果是否为0，如果 为0，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；将0X00与RDATA5异或运算，运算结果重新赋值RDATA5，将0X04与RDATA6异或运 算，运算结果重新赋值RDATA6，将RDATA5与RDATA6异或运算，判断运算结果是否为0，如果 为0，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；将0X00与RDATA7异或运算，运算结果重新赋值RDATA7，将0X08与RDATA8异或运 算，运算结果重新赋值RDATASJf RDATA7与RDATA8异或运算，判断运算结果是否为0，如果 为0，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；将0X00与RDATA9异或运算，运算结果重新赋值RDATA9，将0X10与RDATA10异或 运算，运算结果重新赋值RDATAlOdf RDATA9与RDATA10异或运算，判断运算结果是否为0， 如果为0，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；将0X00与RDATAl 1异或运算，运算结果重新赋值RDATAllJf 0X20与RDATA12异 或运算，运算结果重新赋值RDATA12，将RDATAl 1与RDATA12异或运算，判断运算结果是否为 0，如果为0，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；将0X00与RDATA13异或运算，运算结果重新赋值RDATA13，将0X40与RDATA14异
9或运算，运算结果重新赋值RDATA14，将RDATA13与RDATA14异或运算，判断运算结果是否为 0，如果为0，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；将0X00与RDATA15异或运算，运算结果重新赋值RDATA15，将0X80与RDATA16异 或运算，运算结果重新赋值RDATA16，将RDATA15与RDATA16异或运算，判断运算结果是否为 0，如果为0，则数据口第8位无故障，否则第8位有故障；d. IIC器件检测根据IIC器件的通信控制协议，对IIC器件发送控制命令，判断 在响应位有无SDA低电平，如果有，则IIC器件无故障，否则IIC器件有故障；e.三总线器件检测根据三总线器件的通信控制协议，对三总线器件写入初始数 据，再从输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，如果相同，则三总线器件无 故障，否则，三总线器件有故障。
权利要求
数码产品故障检测方法，其特征在于包括以下步骤a.主芯片检测主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向RAM寄存器中某个地址写入数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；b.内存检测数据口测试，包括b1.数据口第1位测试在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X01，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X01异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；b2.数据口第2位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X02，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X02异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；b3.数据口第3位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X03，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X03异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；b4.数据口第4位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X04，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X04异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；b5.数据口第5位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X05，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X05异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；b6.数据口第6位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X06，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X06异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；b7.数据口第7位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X07，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X07异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；b8.数据口第8位测试，在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X00异或运算，运算结果赋值变量RDATA0；在地址0X000000写入数据0X08，再从该地址读取数据，将读取的数据与0X08异或运算，运算结果赋值变量RDATA1中；将RDATA0与RDATA1异或运算，判断运算结果是否为0，如果是，则数据口第8位无故障，否则第8位有故障；地址线测试对每一根地址线电平为1时的地址对应存储单元写入1的增量数据，从该地址读出数据，将读出数据与1的增量数据进行异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则该地址线无故障，如果不为0，且该地址线对应的数据口无故障，则该地址线有故障；c.FLASH检测数据口测试，包括c1.在内存中分配用以存储FLASH中的SECTOR数据的临时空间；c2.将FLASH中的SECTOR数据读取至临时空间；c3.将临时空间中的前16个字节的数据分别修改为0X00、0X01、0X00、0X02、0X00、0X04、0X00、0X08、0X00、0X10、0X00、0X20、0X00、0X40、0X00、0X80，并擦除FLASH中的原始SECTOR数据；c4.将临时空间中经过修改后的SECTOR数据写入FLASH；c5.从FLASH中读取前16个字节的数据，分别赋值变量RDATA1、RDATA2、RDATA3、RDATA4、RDATA5、RDATA6、RDATA7、RDATA8、RDATA9、RDATA10、RDATA11、RDATA12、RDATA13、RDATA14、RDATA15、RDATA16。c6.将0X00与RDATA1异或运算，运算结果重新赋值RDATA1，将0X01与RDATA2异或运算，运算结果重新赋值RDATA2，将RDATA1与RDATA2异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第1位无故障，否则第1位有故障；将0X00与RDATA3异或运算，运算结果重新赋值RDATA3，将0X02与RDATA4异或运算，运算结果重新赋值RDATA4，将RDATA3与RDATA4异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第2位无故障，否则第2位有故障；将0X00与RDATA5异或运算，运算结果重新赋值RDATA5，将0X04与RDATA6异或运算，运算结果重新赋值RDATA6，将RDATA5与RDATA6异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第3位无故障，否则第3位有故障；将0X00与RDATA7异或运算，运算结果重新赋值RDATA7，将0X08与RDATA8异或运算，运算结果重新赋值RDATA8，将RDATA7与RDATA8异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第4位无故障，否则第4位有故障；将0X00与RDATA9异或运算，运算结果重新赋值RDATA9，将0X10与RDATA10异或运算，运算结果重新赋值RDATA10，将RDATA9与RDATA10异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第5位无故障，否则第5位有故障；将0X00与RDATA11异或运算，运算结果重新赋值RDATA11，将0X20与RDATA12异或运算，运算结果重新赋值RDATA12，将RDATA11与RDATA12异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第6位无故障，否则第6位有故障；将0X00与RDATA13异或运算，运算结果重新赋值RDATA13，将0X40与RDATA14异或运算，运算结果重新赋值RDATA14，将RDATA13与RDATA14异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第7位无故障，否则第7位有故障；将0X00与RDATA15异或运算，运算结果重新赋值RDATA15，将0X80与RDATA16异或运算，运算结果重新赋值RDATA16，将RDATA15与RDATA16异或运算，判断运算结果是否为0，如果为0，则数据口第8位无故障，否则第8位有故障；d.IIC器件检测根据IIC器件的通信控制协议，对IIC器件发送控制命令，判断在响应位有无SDA低电平，如果有，则IIC器件无故障，否则IIC器件有故障；e.三总线器件检测根据三总线器件的通信控制协议，对三总线器件写入初始数据，再从输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，如果相同，则三总线器件无故障，否则，三总线器件有故障。
全文摘要
本发明涉及数码产品的检测技术，具体的说是涉及数码产品的故障检测方法。本发明公开了一种高效率的数码产品故障检测方法，解决传统技术中的数码产品故障不易检测，导致维修费用高、费时的问题。其技术方案的要点可概括为通过对主芯片、内存、FLASH检测、三总线器件分别写入数据，再通过输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，进而判断器件有无故障，对于IIC器件，则是通过发送控制命令，判断在响应位有无SDA低电平，进而判断IIC器件好坏。本发明对故障的检测可以精确到故障点，提高了维修效率，同时降低维修成本，适用于数码产品故障检测。
文档编号G01R31/28GK101915891SQ201010253338
公开日2010年12月15日 申请日期2010年8月13日 优先权日2010年8月13日
发明者李前富 申请人:四川长虹电器股份有限公司