专利名称：一种钯饰品标准样品的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种标准样品，具体是一种钯或钯合金饰品标准样品。
背景技术：
随着人民生活水平的迅速提高，金、银、钼、钯装饰品已广泛深入大众生活，给人 们，特别是年轻女士增加了美感，使人民生活更加丰富多彩。目前金、银和钼饰品的标准已有，对规范市场起到了很好的作用，但还没有钯和钯 合金饰品的国家标准，为规范钯和钯合金市场，使检测钯或钯合金饰品质量有依据。钯呈银 白色，与钼外观非常相似，同属贵金属钼族金属。但同一重量的钯与钼相比，可制成更大体 形的饰品和更加复杂的款式，而价格相对便宜，目前市场上出现“钯白金”、“Pb白金”等含混 不清的名称，因此急需有钯饰品标准样品，以更好地规范市场，确保消费者利益。
发明内容
本发明的目的，是提供一种钯饰品标准样品，为钯或钯合金饰品的质量检测提供 依据。采用的技术方案是一种钯饰品标准样品，其特征在于标准样品预配值为第一组标准值含有Pd 99. 98%,标准偏差0. 02% ；第二组标准值含Pd 94. 74%，标准偏差0.08%，Cu 4. 72%、标准偏差0. 04%，Ag 0. 530%、标准偏差 0. 05% ；第三组标准值含Pd 89. 74%，标准偏差0.04%，Cu 9. 31 %、标准偏差0. 08%，Ag 0. 948%、标准偏差 0.011% ；第四组标准值含Pd 85. 10%，标准偏差0. 10%, Cu 13. 11%、标准偏差0. 10%, Ag 1.78%、标准偏差 0.06% ；第五组标准值含Pd 79. 75%，标准偏差0. 12%，Cu 20. 22%、标准偏差0. 12%。上述百分比为重量百分比。规格厚度为0. 18-0. 24mm, Φ 16mm 的圆片。本发明的钯饰品标准样品为钯或钯合金饰品的质量检测提供标准，有利于规范钯 饰品市场，确保消费者利益。一种钯饰品标准样品的制造方法取纯度钯(Pd^ 99. 99% ),纯铜(Cu ^ 99. 99% ),纯银(Ag 彡 99. 99% )按设计 含量比例放入中频炉中；加热到完全熔化后继续升温至1800°C保持3分钟；倒入已予热的 石墨模具(100X50X20mm)中；冷却后在700°C高温炉中退火45分钟；冷却后用50吨扎压 机进行压片；压片至IOmm厚时放入650°C高温炉中退火30分钟；冷却后继续压片；压片至 5mm厚时放入650°C高温炉中退火20分钟；冷却后继续压片；压片至Imm厚时放入650°C高温炉中退火10分钟；冷却后继续压片至0. 2mm厚左右的薄片；用带有Φ 16mm模具的冲床加 工成Φ 16mmX0. 2mm薄片。本发明的钯饰品的均勻性检查均勻性检查采用在50套钯饰品标准样品中随机抽出15套，进行均勻性检查，利用 极差法对测得数据进行检查，检查结果表明样品均勻性良好。数据见表一表一标准样品均勻性检验数据
权利要求
一种钯饰品标准样品，其特征在于该标准样品预配值为第一组标准值含有Pd 99.98％，标准偏差0.02％；第二组标准值含Pd 94.74％，标准偏差0.08％，Cu 4.72％、标准偏差0.04％，Ag 0.530％、标准偏差0.05％；第三组标准值含Pd 89.74％，标准偏差0.04％，Cu 9.31％、标准偏差0.08％，Ag 0.948％、标准偏差0.011％；第四组标准值含Pd 85.10％，标准偏差0.10％，Cu 13.11％、标准偏差0.10％，Ag 1.78％、标准偏差0.06％；第五组标准值含Pd 79.75％，标准偏差0.12％，Cu 20.22％、标准偏差0.12％。上述百分比为重量百分比；规格厚度为0.18 0.24mm，Ф16mm的圆片。
全文摘要
一种钯饰品标准样品，其特征在于该标准样品预配值为第一组标准值含有Pd 99.98％，标准偏差0.02％；第二组标准值含Pd 94.74％，标准偏差0.08％，Cu 4.72％、标准偏差0.04％，Ag 0.530％、标准偏差0.05％；第三组标准值含Pd 89.74％，标准偏差0.04％，Cu 9.31％、标准偏差0.08％，Ag 0.948％、标准偏差0.011％；第四组标准值含Pd 85.10％，标准偏差0.10％，Cu 13.11％、标准偏差0.10％，Ag 1.78％、标准偏差0.06％；第五组标准值含Pd 79.75％，标准偏差0.12％，Cu 20.22％、标准偏差0.12％。上述百分比为重量百分比；规格厚度为0.18-0.24mm，Ф16mm的圆片。本发明的钯饰品标准样品为钯或钯合金饰品的质量检测提供标准，有利于规范钯饰品市场，确保消费者利益。
文档编号G01N33/20GK101975846SQ20101027145
公开日2011年2月16日 申请日期2010年9月3日 优先权日2010年9月3日
发明者周国兴, 姜炳南, 张泉, 李岩松, 殷晓, 王德禹, 赵恩好 申请人:沈阳地质矿产研究所