专利名称：一种塞规的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量工具技术领域，更具体地说，是涉及一种用于检测孔径的塞 规。
背景技术：
在生产制造中，常使用塞规来对产品内孔进行检测。现有技术中的常用到的塞规， 一般为具有规定直径尺寸的圆柱结构，由于，在生产中孔径尺寸允许存在一定的偏差，故在 检测孔径时一般需用到具有极限尺寸的塞规来检测，根据这些塞规能否过通过来判断被测 孔径是否超出规定的范围。例如，在生产中，对于Φ彡5. Omm的孔，其偏差值为0.05mm，在检测时，以直径 为Φ (5. 0-0. 05) mm的塞规刚好通过，直径为Φ 5. Omm的塞规不能通过或刚好通过，直径为 Φ (5. 0+0. 05)mm的塞规不能通过为原则来判断孔径是否合格。同样地，对于0. 4mm彡Φ < 5. Omm的孔，其偏差值为0. 025mm,在检测时，以直径 为Φ (5. 0-0. 025) mm的塞规刚好通过，直径为Φ 5. Omm的塞规不能通过或刚好通过，直径为 Φ (5. 0+0. 025)mm的塞规不能通过为原则来判断孔径是否合格。因此，在检测孔径时，操作员需轮流取用不同的塞规进行测量，这样不仅效率低， 且频繁的重复动作增加了操作者的劳动强度，易出现漏用某种塞规的情况，进而可能出现 对产品的漏检。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种结构简单、使用方便可一次完成检 测的塞规。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是提供一种塞规，为一圆柱状芯 棒，所述芯棒具有至少两个外径不同的柱体。具体地，所述柱体为三个。进一步地，所述柱体的外径大小依次递增。更进一步地，所述柱体的长度相等。本实用新型提供的这种塞规，利用塞规上不同外径的柱体于被测孔径的通过情况 对被测孔径是否合格一次做出准确判断，使用方便，效率高，有效解决了现有技术中检测孔 径时需用到多个具有不同直径的塞规，造成使用不方便、效率低且易出现失漏检的问题。
图1是本实用新型提供一较佳实施例的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实 施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。请参照图1，为本实用新型提供的一较佳实施例的结构示意图。如图1中所示，所述塞规，为一圆柱状芯棒1，所述芯棒1具有至少两个外径不同 的柱体。本实施例中，所述柱体为三个。三个柱体的外径大小依次递增。根据三个柱体的 外径大小，由下至上依次分为所述塞规的通端11、中端12及止端13。所述通端11、中端12 及止端13的外径分别为被测孔径的最小极限尺寸，被测孔径的基本尺寸以及被测孔径的 最大极限尺寸。检测时，将芯棒1的通端11插入被测孔中，当通端11不能通过时，可直接 判定被测孔过小，不合格；当通端11可通过时，继续插入塞规，若中端12不能通过，可判定 被测孔合格，且可知被测孔径在小于基本尺寸的公差范围内，若中端12可以通过，则继续 插入塞规，当止端13可以通过，可判定被测孔过大，不合格，若止端13不能通过，可判定被 测孔合格，且被测孔径在大于基本尺寸的公差范围内。通过上述包含有通端11、中端12及 止端13的塞规，可一次检测出被测孔径是否合格，且可粗略测出被测孔径的尺寸范围。当 然，若不需了解被测孔径的尺寸范围，此处也可以将芯棒1上只设置两个柱体，即一个通端 和一个止端，以通端可以通过，止端不能通过作为孔径合格的原则进行检测。进一步地，本实用新型中柱体的长度相等，即通端11、中端12及止端13的长度相 等，这样使塞规更美观。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本 实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型 的保护范围之内。
权利要求一种塞规，为一圆柱状芯棒，其特征在于所述芯棒具有至少两个外径不同的柱体。
2.如权利要求1所述的一种塞规，其特征在于所述柱体为三个。
3.如权利要求2所述的一种塞规，其特征在于所述柱体的外径大小依次递增。
4.如权利要求1或2或3所述的一种塞规，其特征在于所述柱体的长度相等。
专利摘要本实用新型公开了一种塞规，为一圆柱状芯棒，所述芯棒具有至少两个外径不同的柱体。本实用新型提供的这种塞规，利用塞规上不同外径的柱体于被测孔径的通过情况对被测孔径是否合格一次做出准确判断，使用方便，效率高，有效解决了现有技术中检测孔径时需用到多个具有不同直径的塞规，造成使用不方便、效率低且易出现失漏检的问题。
文档编号G01B3/50GK201680788SQ20102016729
公开日2010年12月22日 申请日期2010年4月16日 优先权日2010年4月16日
发明者李刚, 杜玉芳, 杨青枝 申请人:深南电路有限公司