专利名称：面板缺陷测量尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量尺，尤其涉及一种测量有机发光显示器的面板缺陷的测量尺。
背景技术：
有机发光显示器(OLED)的面板缺陷测量一般需要测量一下几项(1)测量切割后 的的OLED显示屏基片玻璃棱角处缺陷大小；(2)测量切割后的OLED显示屏后盖玻璃棱角 处缺陷大小；C3)测量OLED显示屏基片玻璃与IC (驱动模块)绑定的边沿处缺陷大小；(4) 测量OLED显示屏基片玻璃另外3边沿处的缺陷大小；( 测量OLED显示屏基片与后盖玻 璃粘合时UV胶线压合后的宽度；(6)测量基片及后盖玻璃的表面缺陷大小(主要为凹坑)； (7)测量OLED显示屏偏光片的缺陷大小。传统工序中测量时，往往采用普通的测量工具(如 米尺、量角器等)，通过测量基片玻璃、后盖玻璃和偏光片上的缺陷的长和宽，看其长与宽是 否在规定的标准缺陷允许范围内，从而判断给有机发光显示器的面板是否合格。然而，使用普通测量工具测量有机发光显示器(0LED显示器)的面板缺陷，每次测 量时均需核对标准数据，而且测量并不方便，测量步骤多、人为误差大。因此，急需一种使用 方便、人为误差小的面板缺陷测量工具。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种使用方便、人为误差小的面板缺陷测量尺。为了实现上有目的，本实用新型公开了一种面板缺陷测量尺，用于有机发光显示 器的面板缺陷测量，所述面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图 样，所述缺陷图样包括测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷的第一缺陷图样、测量切割后的 后盖玻璃棱角处缺陷的第二缺陷图样、测量基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷的第三 缺陷图样、测量基片玻璃未切割的边沿处缺陷的第四缺陷图样、测量基片与后盖玻璃粘合 时胶线压合后宽度的长度图样、测量基片和后盖玻璃的表面缺陷的第五缺陷图样，以及测 量有机发光显示器的显示屏偏光片缺陷的第六缺陷图样。较佳地，所述缺陷图样由一组透明缺陷图样和一组阴暗缺陷图样组成。采用透明 的和不透明的两组图样作为缺陷图样，可以更好的、更加直观的测量OLED面板的缺陷。较佳地，所述第一缺陷图样呈长为2毫米，宽为1. 5毫米的长方形；所述第二缺陷 图样呈长为2毫米，宽为1. 5毫米的长方形；所述第三缺陷图样呈长为3毫米，宽为0. 5毫 米的长方形；所述第四缺陷图样呈长为4毫米，宽为1毫米的长方形；所述长度图样呈长 为1. 4毫米的带状；所述第五缺陷图样由三个并行排列的直径分别为0. 5毫米、1. 0毫米和 1. 5毫米的圆形组成；所述第六缺陷图样由五个并行排列的直径分别为0. 05毫米、0. 1毫 米、0. 15毫米、0. 2毫米和0. 3毫米的圆形组成。上述缺陷图样的规格大小是通过对OLED 生产过程中实验数据的分析总结得到的，使用上述缺陷图样可以准确的测量处OLED显示 器面板是否可用。[0008]较佳地，所述面板缺陷测量尺的边缘标示有刻度。使得本实用新型具有常用的长 度尺的功能，可以适用于多种场合，更加全面的测量面板的缺陷。较佳地，所述面板缺陷测量尺包括角度尺。在面板缺陷测量尺的尺面上标示有角 度尺，使得本实用新型具有测量角度功能，可以适用于多种场合，更加全面的测量面板的缺 陷。本实用新型面板缺陷测量尺上标示有机发光显示器面板的缺陷图样，所述缺陷图 样是本领域技术人员通过对OLED生产过程中实验数据的分析总结设置的，测量面板缺陷 时，直接将面板上的缺陷与面板缺陷测量尺上对应的缺陷图样比对，若该缺陷的投影的边 界超出缺陷图样的区域，则该OLED显示屏不可用，反之合格。与现有技术中使用长度尺和 角度尺等普通测量工具相比，本实用新型实现OLED显示器面板缺陷测量的专业化，其操作 简单，人为误差小。
图1是本实用新型面板缺陷测量尺的示意图。图2是图1中A部分的放大示意图。图3是图1中B部分的放大示意图。图4是待测基片玻璃的缺陷示意图。图fe-图恥是使用本实用新型测量缺陷的示意图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施 方式并配合附图详予说明。参考图1，本实用新型面板缺陷测量尺100采用透明材料制成，其边缘处表示有刻 度，右上角处标示有角度尺(Angle meterUO，与现有技术相比，本实用新型面板缺陷测量 尺100的尺面上标示有有机发光显示器(OLED显示器)面板的缺陷图样。参考图1，所述缺陷图样包括第一缺陷图样(EL CORNER) 11，用于测量切割后的 OLED显示屏基片玻璃棱角处缺陷，所述第一缺陷图样11包括透明缺陷图样和阴暗缺陷图 样。其中，该第一缺陷图样11呈大小为2*1. 5mm的长方形，测量时，将缺陷与尺面上的第一 缺陷图样11相对比，如果缺陷的投影边界超出第一缺陷图样11的区域，则不可用。参考图1，所述缺陷图样包括第二缺陷图样(C/G CORNER) 12，用于测量切割后的 OLED显示屏后盖玻璃棱角处缺陷，所述第二缺陷图样12包括透明缺陷图样和阴暗缺陷图 样。其中，该第二缺陷图样12呈大小为2*1. 5mm的长方形，测量时，将缺陷与尺面上的第二 缺陷图样12相对比，如果缺陷的投影边界超出第二缺陷图样12的区域，则不可用。参考图1，所述缺陷图样包括第三缺陷图样(PAD 3*0. 5mm, ) 13，用于测量OLED显 示屏基片玻璃与驱动模块(IC)绑定的边沿处缺陷，所述第三缺陷图样13包括透明缺陷图 样和阴暗缺陷图样。其中，该第三缺陷图样13呈大小为3*0. 5mm的长方形，测量时，将缺陷 与尺面上的第三缺陷图样13相对比，如果缺陷的投影边界超出第三缺陷图样13的区域，则 不可用。参考图1，所述缺陷图样包括第四缺陷图样(Panel Side&Dummy Pad) 14，用于测量OLED显示屏基片玻璃另外3边沿处的缺陷，第四缺陷图样14包括透明缺陷图样和阴暗缺陷 图样。其中，该第四缺陷图样14呈大小为4*lmm的长方形，测量时，将缺陷与尺面上的第四 缺陷图样14相对比，如果缺陷的投影边界超出第四缺陷图样14的区域，则不可用。参考图1，所述缺陷图样包括长度图样(Resin Width) 15，用于测量OLED显示屏基 片与后盖玻璃粘合时UV胶线压合后的宽度，所述长度图样15包括透明缺陷图样和阴暗缺 陷图样。其中，该长度图样15呈长为1.4毫米的带状，测量时，如果胶线宽度小于量尺上标 示宽度1. 4mm，则不可用。参考图1，所述缺陷图样包括第五缺陷图样16，用于测量基片及后盖玻璃的表面 缺陷(主要为凹坑)，所述第五缺陷图样16包括透明缺陷图样和阴暗缺陷图样。所述第五 缺陷图样16由三个并行排列的直径分别为0. 5毫米、1. 0毫米和1. 5毫米的圆形组成，测量 时，将缺陷与尺面上的第五缺陷图样16相对比，如果缺陷的投影边界超出第五缺陷图样16 的区域，则不可用。参考图1-图3，所述缺陷图样包括第六缺陷图样17，用于测量OLED显示屏偏光片 的缺陷，所述第六缺陷图样17包括透明缺陷图样和阴暗缺陷图样。所述第六缺陷图样17 由五个并行排列的圆形组成，上述五个圆形的直径分别为0. 05毫米、0. 1毫米、0. 15毫米、 0. 2毫米和0. 3毫米。测量时，将缺陷与尺面上的第六缺陷图样17相对比，如果缺陷的投影 边界超出第六缺陷图样17的区域，则不可用。参考图4，基片玻璃20的缺陷示意图，基片20上具有切割后的基片玻璃棱角处的 缺陷21，基片玻璃另外三边沿处的缺陷22，基片玻璃的表面缺陷(图中为凹坑)23。以缺 陷22为例，测量基片玻璃20，将本实用新型面板缺陷测量尺上的第一缺陷图样11的透明 缺陷图样放置在基片玻璃20的缺陷22上方，参考图5a，如果缺陷22在尺面上的投影边界 超出第四缺陷图样14的透明缺陷图样的区域，该基片玻璃20不可用；参考图5b，如果缺陷 22在尺面上的投影在所述第四缺陷图样14的透明缺陷图样的区域内，该基片玻璃20的缺 陷22在允许误差内。其他几种OLED显示器面板上的缺陷测量方法与上述测量缺陷21的 测量方法类似，再次就不予详述。以上所揭露的仅为本实用新型的优选实施例而已，当然不能以此来限定本实用新 型之权利范围，因此依本实用新型申请专利范围所作的等同变化，仍属本实用新型所涵盖 的范围。
权利要求1.一种面板缺陷测量尺，用于有机发光显示器的面板缺陷测量，其特征在于所述面 板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样，所述缺陷图样包括测量切 割后的基片玻璃棱角处缺陷的第一缺陷图样、测量切割后的后盖玻璃棱角处缺陷的第二缺 陷图样、测量基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷的第三缺陷图样、测量基片玻璃未切 割的边沿处缺陷的第四缺陷图样、测量基片与后盖玻璃粘合时胶线压合后宽度的长度图 样、测量基片和后盖玻璃的表面缺陷的第五缺陷图样，以及测量有机发光显示器的显示屏 偏光片缺陷的第六缺陷图样。
2.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺，其特征在于所述缺陷图样由一组透明缺陷 图样和一组阴暗缺陷图样组成。
3.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺，其特征在于所述第一缺陷图样呈长2毫米， 宽1. 5毫米的长方形；所述第二缺陷图样呈长2毫米，宽1. 5毫米的长方形；所述第三缺陷 图样呈长3毫米，宽0. 5毫米的长方形；所述第四缺陷图样呈长4毫米，宽1毫米的长方形； 所述长度图样呈长1. 4毫米的带状；所述第五缺陷图样由三个并行排列的直径分别为0. 5 毫米、1.0毫米和1.5毫米的圆形组成；所述第六缺陷图样由五个并行排列的直径分别为 0. 05毫米、0. 1毫米、0. 15毫米、0. 2毫米和0. 3毫米的圆形组成。
4.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺，其特征在于所述面板缺陷测量尺的边缘标 示有刻度。
5.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺，其特征在于所述面板缺陷测量尺包括角度尺。
专利摘要本实用新型公开了一种面板缺陷测量尺，用于有机发光显示器的面板缺陷测量，该面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样，上述缺陷图样包括七种，分别用于测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷、切割后的后盖玻璃棱角处缺陷、基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷、基片玻璃未切割的边沿处缺陷、基片与后盖玻璃粘合时胶线压合后宽度的长度、基片和后盖玻璃的表面缺陷，以及有机发光显示器的显示屏偏光片缺陷。本实用新型直接将OLED显示器面板上的缺陷与尺面上的缺陷图样比对，若缺陷的投影边界超出缺陷图样的区域，则不可用。与现有技术相比，本实用新型实现了面板缺陷测量的专业化，操作简单，人为误差小。
文档编号G01B3/14GK201917282SQ20102063648
公开日2011年8月3日 申请日期2010年12月1日 优先权日2010年12月1日
发明者刘惠森, 杨明生, 王勇, 王学敬, 王曼媛, 范继良 申请人:东莞宏威数码机械有限公司