专利名称：总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明属于地球物理磁法勘查岩、矿石标本磁参数领域，特别涉及一种利用总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测方法及其装置。
背景技术：
自从我国的地面磁测仪器由自由质子磁力仪替代传统机械磁称后，地面磁法勘查的精度得到大幅度的提高。因为质子磁力仪测量的是地磁总场(T)的值，所以用它测定岩 (矿石)标本磁参数的装置与计算公式也做了相应的改变，在名为《地面高精度磁测技术规范》的附录C中给出了测量磁参数的计算公式高斯第二位置磁化率
权利要求
1.一种总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，该装置包括总场磁力仪 (21)、标本盒(22)、平板(23)和平板架(24)，所述标本盒(22)中装有岩石标本或矿石标本，所述总场磁力仪(21)包括上探头(27)、下探头(25)和探头支架(26)，其特征在于所述平板(23)通过平板架(24)进行支撑并置于平稳的正常地磁场中，并使位于平板上的与平板长轴相垂直的垂线对准磁北，所述总场磁力仪(21)放置于平板(23)长轴的一侧，所述平板(23)上设有滑槽，将内置有标本的标本盒(22)放在平板(23)的滑槽上进行滑动，保持所述总场磁力仪的下探头(25)中心与标本盒(22)中心等高。
2.如权利要求1所述的总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，其特征在于 所述总场磁力仪(21)放置于平板长轴中线的西侧或东侧，且与平板之间留有l_2mm的间距。
3.如权利要求1或2所述的总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，其特征在于所述标本装在立方体标本盒(22)内，且标本盒(22)的六个盒面分别用数字1-6标记。
4.一种总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测方法，其特征在于该方法采用的装置包括具有上、下探头(27、25)的总场磁力仪(21)、内置有标本的标本盒(22)和通过平板架(24)进行支撑的平板(23)，包括如下步骤A)选择平稳的地磁正常场，将平板架(24)安置牢固，采用罗盘将平板(23)调平，并使位于平板上的与平板长轴相垂直的垂线对准磁北，将总场磁力仪(21)安放在平板(23)的一侧，使总场磁力仪与平板之间留有间距，令总场磁力仪的下探头(25)中心与标本盒(22) 中心等高，以构成高斯第二位置进行测量；B)由总场磁力仪读出正常地磁总场Ttl，将内置有标本的标本盒置于平板的滑槽内，滑动标本盒，使总场磁力仪的读数明显偏离正常地磁场值Ttl，测量标本盒(22)中心与总场磁力仪的下探头(25)中心间的距离R ；C)保持标本盒的一面朝上，水平旋转标本盒(22)，依次使标本盒的四个侧面朝南，并通过总场磁力仪分别测得标本所处四方位的4个磁场值；上下倒置标本盒，使其另一面朝上，再次通过总场磁力仪分别测得标本所处四方位的4个磁场值，直至总场磁力仪分别测得标本盒的六面分别朝上且四个侧面依次朝南时的24个磁场值为止，通过Tij分别记录这 24个磁场值；D)测量标本盒(22)的体积V；E)将步骤A中测得的Ttl，步骤B中测得的R，步骤D中测得的V以及步骤C中测得的24 个磁场值分别代入下式得出标本的磁化率K和剩余磁化强度Mr 通过下式(1)得出磁化率K:
5.如权利要求4所述的总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测方法，其特征在于 所述总场磁力仪(21)放置于平板长轴中线的西侧或东侧，且与平板之间留有l_2mm的间距。
6.如权利要求4或5所述的总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测方法，其特征在于所述标本装在立方体标本盒(22)内，且标本盒(22)的六个盒面分别用数字1-6标记。
全文摘要
本发明涉及一种总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测方法及其装置，其采用的平测标本装置包括总场磁力仪、内置有标本的标本盒、平板和平板架，总场磁力仪包括探头和探头支架，将总场磁力仪测得参数代入下式，得到标本磁参数一磁化率K和剩余磁化强度Mr我国《地面高精度磁测技术规程》附录C中给出了总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的装置是斜测装置。本发明将斜测改为平测，平测装置不仅可以免去斜测因调斜不准产生的误差，而且，岩、矿石标本在斜面上不断翻转震动会产生倾斜位移，带来距离偏差的最大误差。本发明的平测方法及装置简单牢靠，可提高岩、矿石标本磁参数测量的精度。
文档编号G01R33/12GK102221680SQ20111008326
公开日2011年10月19日 申请日期2011年4月2日 优先权日2011年4月2日
发明者徐立忠, 王庆乙, 蒋彬 申请人:中色地科矿产勘查股份有限公司