专利名称：一种过流检测电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种应用电路，具体的涉及ー种过流检测电路。
背景技术：
当电路处于正常工作吋，电子器件正常工作，但是如果电路处于过流状态，电子器件的使用寿命将大大降低，因此我们有必要检测电路是否处于过流状态。现有的过流检测电路形形色色种类繁多，但大多结构复杂，而采用复杂电路结构的驱动电路来完成电机过电流检测的功能，这样一方面成本会有所提高，另外一方面，电路结构一旦复杂化后，其背后的不稳定因素也在増加，如此便在无形之中降低了产品合格率。
发明内容
为克服现有技术中的不足，本发明的目的在于提供ー种结构简单的过流检测电路。为了解决上述技术问题，实现上述目的，本发明采用了如下技术方案
ー种过流检测电路，包括光耦，取样电流信号通过第二电阻连接可控硅的负极，第一工作电源通过第一电阻连接发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接所述光耦的一个输入端，所述光耦的另ー个输入端接地，所述光耦的ー个输出端连接第二工作电源，所述光耦的另ー个输出端输出所述取样电流信号的相应电压。进ー步的，可变电阻的中心抽头与ー个固定引脚接地，可变电阻的另ー个固定引脚连接第一接线端，第二接线端与地之间连接电容，第三接线端与地之间连接上拉电阻。本发明的过流检测电路的工作过程如下
电机正常工作时，取样电流小，即可控硅门级触发电流较小，可控硅处于管段状态，发光二极管指示灯亮，光耦导通，此时光耦输出高电平。当电机的电流增加到一定程度时(过流吋)，取样电阻取出的电压使可控硅门级触发导通，发光二极管正极电位被拉低且灯灭掉，光耦关断，此时光耦输出低电平，供单片机去判断。本发明具有以下优点
本发明的过流检测电路的结构简单，使用方便。上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式
由以下实施例及其附图详细给出。
图I为本发明的过流检测电路的电路原理图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明的技术实施过程做进ー步说明。
參见图I所示，ー种过流检测电路，包括光耦，取样电流信号PROTECT通过第二电阻R2连接可控硅SCRl的负极，第一工作电源Vl通过第一电阻Rl连接发光二极管LEDl的正极，所述发光二极管LEDl的负极连接所述光耦Ul的一个输入端，所述光耦的另ー个输入端接地，所述光耦Ul的ー个输出端连接第二工作电源，所述光耦Ul的另ー个输出端输出所述取样电流信号PROTECT的相应电压。进ー步的,可变电阻R4的中心抽头与ー个固定引脚接地，可变电阻R4的另ー个固定引脚连接第一接线端1，第二接线端2与地之间连接电容Cl，第三接线端3与地之间 连接上拉电阻R3。上述实施例只是为了说明本发明的技术构思及特点，其目的是在于让本领域内的普通技术人员能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡是根据本发明内容的实质所作出的等效的变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。
权利要求
1.ー种过流检测电路，包括光耦(U1)，其特征在于取样电流信号(PROTECT)通过第二电阻(R2)连接可控硅(SCRl)的负极，第一工作电源(Vl)通过第一电阻(Rl)连接发光二极管(LEDl)的正极，所述发光二极管(LEDl)的负极连接所述光耦(Ul)的一个输入端，所述光耦的另一个输入端接地，所述光耦(Ul)的ー个输出端连接第二工作电源，所述光耦(Ul)的另ー个输出端输出所述取样电流信号(PROTECT)的相应电压。
2.根据权利要求书I所述的过流检测电路，其特征在于可变电阻(R4)的中心抽头与ー个固定引脚接地，可变电阻(R4)的另ー个固定引脚连接第一接线端(1)，第二接线端(2)与地之间连接电容(Cl)，第三接线端(3)与地之间连接上拉电阻(R3)。
全文摘要
本发明公开了一种过流检测电路，包括光耦，取样电流信号通过第二电阻连接可控硅的负极，第一工作电源通过第一电阻连接发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接所述光耦的一个输入端，所述光耦的另一个输入端接地，所述光耦的一个输出端连接第二工作电源，所述光耦的另一个输出端输出所述取样电流信号的相应电压。本发明的电路结构简单，使用方便。本发明可应用在电机过电流检测的电路中。
文档编号G01R19/165GK102841240SQ20111016940
公开日2012年12月26日 申请日期2011年6月22日 优先权日2011年6月22日
发明者胡国良, 魏王江 申请人:苏州合欣美电子科技有限公司