专利名称：一种半电波暗室装置及电磁兼容(emc)测试方法
技术领域：
本发明属于电磁兼容(EMC)测试领域，具体涉及一种半电波暗室装置及电磁兼容(EMC)测试方法，尤其涉及了一种对处于运动状态的电子产品的电磁兼容性进行测试的装置和方法。
背景技术：
电磁兼容(EMC)性能是评价电子产品的重要指标，包括电子产品在电磁场方面干扰大小(EMI)和抗干扰能力(EMS)的综合评定。EMI反映了电子产品工作时对外界发出的静电放电、电磁辐射的大小及对人体和环境产生的影响；EMS反映了电子产品的抗干扰能力，即在同一电磁环境下工作的各种电子设备和元器件能否正常工作，互不干扰。因此，如何对电子产品EMC性能进行准确可靠的测试显得尤为重要。目前国内对电子产品EMC性能测试多在半电波暗室进行，被测物品放置于可360旋转的非金属旋转桌上，可在固定位置对被测物品的EMC性能进行测试，但无法对在空间上处于运动状态的电子产品EMC性能进行测试。由于某些电子产品在使用过程的同时也可能发生移动，产生变化的电磁辐射或者抗干扰能力，因此对处于运动状态的电子产品的电磁兼容性进行测试也不容忽视。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种半电波暗室装置，及其对处于运动状态的电子产品的电磁兼容性进行测试的方法，使运动产品的EMC性能得到有效的测试。本发明为解决上述问题所采用的解决方案为:一种半电波暗室装置，包括屏蔽室外壳、吸波材料、天线、测试终端、旋转桌，其特点是:所述旋转桌下方设有滑轮，所述滑轮固定在以天线为中心的圆弧轨道上；所述旋转桌设有传导线，所述传导线与一控制电机相连，控制电机通过传导线驱动旋转桌以特定速率沿圆弧轨道运动。进一步，所述旋转桌为非金属旋转桌。进一步，所述圆弧轨道距天线中心的半径分别为2m、3m、5m和10m。进一步，所述控制电机通过传导线驱动旋转桌沿圆弧轨道运动速率为0m/s-4m/s根据上述半电波暗室装置，提出一种EMC性能测试方法，包括如下步骤:(I)将被测物品置于半电波暗室内的旋转桌上固紧；(2)调整旋转桌，使被测物品对准天线中心；(3)开启控制电机，使旋转桌在传导线的驱动下沿圆弧轨道以特定速率滑行；(4)根据测试需求，对被测物品EMC性能测试。按上述方案，第(3)步中旋转桌在传导线的驱动下沿圆弧轨道滑行速率为Om/s-4m/s。按上述方案，第(4)步中对被测物品EMC性能测试包括传导发射测试、辐射发射测试、传导敏感度测试和辐射敏感度测试，以上所述测试方法均按常用测试标准和步骤进行；本发明具有的优点和积极效果是:本发明能提供一种半电波暗室装置，及其对处于运动状态的电子产品的电磁兼容性进行测试的方法，使运动产品的EMC性能得到有效的测试。
图1为实施例中半电波暗室装置俯视图。其中，I屏蔽室外壳 2吸波材料3旋转桌4圆弧轨道5传导线6控制电机7天线8测试终端
具体实施例方式下面结合具体实施方式
对本发明作进一步说明，但不能作为本发明的限定。如图1所示:一种半电波暗室装置，包括屏蔽室外壳1、吸波材料2、天线7、测试终端8、旋转桌3,还包括用于驱动旋转桌运动的传导线5以及控制电机6 ;所述旋转桌3为非金属旋转桌，下方设有滑轮，所述滑轮固定在以天线为中心的圆弧轨道4上；所述旋转桌3设有传导线5，所述传导线5与所述控制电机6相连，控制电机6通过传导线5驱动旋转桌3以特定速率沿圆弧轨道4运动；所述圆弧轨道4为以天线为中心的圆弧，距天线中心的半径分别为2m、3m、5m和IOm ;所述旋转桌3沿圆弧轨道4运动速率为0m/s-4m/s。一种EMC性能测试方法，包括如下步骤:(I)将旋转桌3置于半径为3m的圆弧轨道4上，将被测物品置于半电波暗室内的旋转桌3上固紧；(2)调整旋转桌3，使被测物品对准天线中心；(3)开启控制电机6，使旋转桌3在传导线5的驱动下沿圆弧轨道4以4m/s的速率滑行；(4)根据测试需求， 通过天线7及测试终端8对被测物品进行辐射发射测试。
权利要求
1.一种半电波暗室装置，包括屏蔽室外壳、吸波材料、天线、测试终端、旋转桌，其特征在于: (1)所述旋转桌下方设有滑轮，所述滑轮固定在以天线为中心的圆弧轨道上； (2)所述旋转桌设有传导线，所述传导线与一控制电机相连，控制电机通过传导线驱动旋转桌以特定速率沿圆弧轨道运动。
2.根据权利要求1所述的一种半电波暗室装置，其特征在于:所述旋转桌为非金属旋转桌。
3.根据权利要求1所述的一种半电波暗室装置，其特征在于:所述圆弧轨道距天线中心的半径分别为2m、3m、5m和10m。
4.根据权利要求1所述的一种半电波暗室装置，其特征在于:所述控制电机通过传导线驱动旋转桌沿圆弧轨道运动速率为0m/s-4m/s。
5.一种在权利要求1所述的半电波暗室装置中进行的EMC性能测试方法，其特征在于:包括如下步骤: (1)将被测物品置于半电波暗室内的旋转桌上固紧； (2)调整旋转桌，使被测物品对准天线中心； (3)开启控制电机，使旋转桌在传导线的驱动下沿圆弧轨道以特定速率滑行； (4)根据测试需求，对被测物品EMC性能测试。
6.根据权利要求5所述的一种EMC性能测试方法，其特征在于:所述旋转桌在传导线的带动下沿圆弧轨通滑行速率为0m/s-4m/s。
7.根据权利要求5所述的一种EMC性能测试方法，其特征在于对被测物品EMC性能测试包括传导发射测试、辐射发射测试、传导敏感度测试和辐射敏感度测试。
全文摘要
本发明涉及一种半电波暗室装置及电磁兼容(EMC)测试方法。半电波暗室内设有以大线为中心的圆弧轨道，旋转桌设有传导线和滑轮，所述传导线与一控制电机相连，控制电机通过传导线驱动旋转桌以特定速率沿圆弧轨道运动。同时提出了一种EMC性能测试方法，即通过控制电机，使旋转桌在传导线的驱动下沿圆弧轨道以特定速率滑行，对被测物品EMC性能测试。通过本发明可以对处于运动状态的电子产品的EMC性能得到有效的测试。
文档编号G01R31/00GK103163392SQ20111041589
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日
发明者马强, 李阳, 田磊, 李伟, 朱长娥, 董宝林, 刘胜男, 李树雯 申请人:天津天维移动通讯终端检测有限公司