专利名称：复杂截面回转体构件的壁厚测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及厚度测量领域，尤其涉及一种回转体构件的壁厚测量装置。
背景技术：
随着轻量化的趋势，各种轻量化不等厚的复杂截面产品日渐增多，为准确控制成形件成形时截面形状即各处轻量化厚度的有效分布，对成形后零件厚度的测量尤其重要， 其中对复杂截面回转体构件的壁厚进行精确测量一直是一个难题，尤其是如何对其中长轴线的构件尤其难测。采用传统常规测量工具如游标卡尺、螺旋测微器等测量时，由于器具本身尺寸限制，难以伸入回转体深处对构件厚度直接测量，而采用卡规、卡钳方式时，受测量端绞支结构限制，可测量深度范围有限。超声波测厚仪等测量方便，但测试时受被测材质、接触温度、 测量曲率限制。因此，通常对一复杂截面回转体构件，常采用将需要测量的区域进行破坏性剖开，测量该处厚度。这种方法测量结果可靠准确，但增加了切割成本、增加了测量时间，也破坏了零件，不利于对正常的生产零件进行测量。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种复杂截面回转体构件的壁厚测量装置，该装置实现了对复杂截面回转体构件的壁厚的准确测量，操作简单，具有高的测量效率和精度。本实用新型是这样实现的一种复杂截面回转体构件的壁厚测量装置，包括支撑架、长杆百分表和小砧，所述支撑架为U形，支撑架的一端顶部通过螺钉固定安装长杆百分表，支撑架的另一端顶部固定安装小砧，所述长杆百分表和小砧相配合。所述支撑架上开有减重孔。本实用新型复杂截面回转体构件的壁厚测量装置能准确测量复杂截面回转体构件的壁厚，有助于对车轮旋压时测量壁厚分布及变化进行深入研究，提供复杂变壁厚长回转体构件壁厚分布的准确数据，对旋压成形过程中出现的壁厚缺陷提供有力的技术支持， 推进了旋压技术的快速发展。
图1为本实用新型复杂截面回转体构件的壁厚测量装置测量时的示意图。图中1支撑架、2长杆百分表、3小砧、4螺钉、5减重孔、6复杂截面回转体构件。
具体实施方式
下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。应理解，这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型表述的内容之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。实施例1如图1所示，一种复杂截面回转体构件的壁厚测量装置，包括支撑架1、长杆百分表2和小砧3，所述支撑架1为U形，支撑架1的一端顶部通过螺钉4固定安装长杆百分表 2，支撑架1的另一端顶部固定安装小砧3，所述长杆百分表2和小砧3相配合。为了保证测量结果的准确性，支撑架1的刚度至关重要。但若只考虑刚度，则带来负面后果就是支撑架1自重太大，使得该装置难以操控。为此本实用新型中支撑架1的截面才用工字形进行减重，在支撑架1上还开有一定数量的减重孔5，这样的结构在保证该测量装置刚度的前提下实现了有效减重，提高了该装置的可操控性。进行测量时，首先确定长杆百分表2的测量零位，然后手持支撑架1的底部，将支撑架1伸入复杂截面回转体构件6，直到长杆百分表2到达待测截面，放下长杆百分表2的表头，使表头垂直并紧贴待测截面外壁，将小砧紧靠待测截面内壁，前后左右晃动支撑架1， 观察读数，找出最小读数，即为待测截面壁厚。
权利要求1.一种复杂截面回转体构件的壁厚测量装置，其特征是包括支撑架(1)、长杆百分表 (2)和小砧(3)，所述支撑架(1)为U形，支撑架(1)的一端顶部通过螺钉固定安装长杆百分表0)，支撑架(1)的另一端顶部固定安装小砧(3)，所述长杆百分表( 和小砧(3) 相配合。
2.如权利要求1所述的复杂截面回转体构件的壁厚测量装置，其特征是所述支撑架 (1)上开有减重孔(5)。
专利摘要本实用新型涉及厚度测量领域，尤其涉及一种回转体构件的壁厚测量装置。一种复杂截面回转体构件的壁厚测量装置，包括支撑架、长杆百分表和小砧，所述支撑架为U形，支撑架的一端顶部通过螺钉固定安装长杆百分表，支撑架的另一端顶部固定安装小砧，所述长杆百分表和小砧相配合。本实用新型复杂截面回转体构件的壁厚测量装置能准确测量复杂截面回转体构件的壁厚，有助于对车轮旋压时测量壁厚分布及变化进行深入研究，提供复杂变壁厚长回转体构件壁厚分布的准确数据，对旋压成形过程中出现的壁厚缺陷提供有力的技术支持，推进了旋压技术的快速发展。
文档编号G01B5/06GK202166389SQ201120252209
公开日2012年3月14日 申请日期2011年7月18日 优先权日2011年7月18日
发明者仝广, 石磊, 肖华, 韩非 申请人:宝山钢铁股份有限公司