专利名称：一种led日光灯老化测试架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种老化测试架，特别涉及一种LED日光灯老化测试架。
背景技术：
LED日光灯具生产过程中要对灯具的元器件进行老化测试，以保证灯具的质量，现有市场上LED日光灯老化测试架不仅体积大而且重量重，不用时占用很大空间，搬动起来也不方便，同时对于不同长度的日光灯测试调节起来很不方便。
发明内容本实用新型的技术任务是针对以上现有技术不足而提供了一种LED日光灯老化测试架。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种LED日光灯老化测试架，包括万向轮、架体和堵头，其中，所述架体由对称的长方形支架通过两根短支架与两根长支架连接在一体而形成的梯形体，所述万向轮设置在架体底部四个角上，所述长方形架体上设有与LED日光灯相配合的堵头，所述堵头通过导线与控制器连接。所述长方形支架由四根横支架与两根竖支架连接而成的。本实用新型具有以下有益效果结构简单，设计合理，使用方便，能适应不同日光灯具老化测试，且一次可测试多个日光灯，节省时间安和操作。
附图I为本实用新型结构示意图。附图2为本实用新型长方形架体结构示意图。附图3为本实用新型侧视图。
具体实施方式
参照说明书附图对本实用新型作以下详细说明如图所示，一种LED日光灯老化测试架，包括万向轮3、架体2和堵头1，其中，所述架体2由对称的长方形支架4通过两根短支架5与两根长支架6连接在一体而形成的梯形体，所述万向轮3设置在架体2底部四个角上，所述长方形架体4上设有与LED日光灯相配合的堵头1，所述堵头I通过导线与控制器连接。所述长方形支架4由四根横支架42与两根竖支架41连接而成的。
权利要求1.一种LED日光灯老化测试架，包括万向轮、架体和堵头，其特征在于所述架体由对称的长方形支架通过两根短支架与两根长支架连接在一体而形成的梯形体，所述万向轮设置在架体底部四个角上，所述长方形架体上设有与LED日光灯相配合的堵头，所述堵头通过导线与控制器连接。
2.根据权利要求I所述的一种LED日光灯老化测试架，其特征在于所述长方形支架由四根横支架与两根竖支架连接而成的。
专利摘要本实用新型公开了一种LED日光灯老化测试架，包括万向轮、架体和堵头，其特征在于所述架体由对称的长方形支架通过两根短支架与两根长支架连接在一体而形成的梯形体，所述万向轮设置在架体底部四个角上，所述长方形架体上设有与LED日光灯相配合的堵头，所述堵头通过导线与控制器连接，该实用新型结构简单，设计合理，使用方便，能适应不同日光灯具老化测试，且一次可测试多个日光灯，节省时间和操作。
文档编号G01R31/44GK202383271SQ20112052527
公开日2012年8月15日 申请日期2011年12月15日 优先权日2011年12月15日
发明者庞彩燕, 李岩, 郑成德 申请人:日照迪莱特光电产业发展有限公司