横机机头测试系统的制作方法

文档序号:5935429阅读:402来源:国知局
专利名称:横机机头测试系统的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种测试系统,尤其涉及一种横机机头的测试系统。
背景技术
横机机头包括机头箱和外设设备,横机机头测试系统是用于测试横机机头上各种外设设备的工作状况,现有横机机头连接的外设设备越来越多,但对横机机头上各种外设设备工作状况的测试却仍然采用各种外设设备分开测试的方法,每种外设设备的测试都需要采用不同的方法进行工作状况的测试,调整外设设备的工作参数,测试过程繁琐,浪费较多时间,且测试花费的成本高
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种横机机头的测试系统,解决了现有横机机头连接的外设设备越来越多,但对横机机头上各种外设设备工作状况的测试却仍然采用各种外设设备分开测试的方法,测试过程繁琐,浪费较多时间,且测试花费的成本高的问题。为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案一种横机机头测试系统,包括机头箱和外设设备,机头箱通过数据线连接外设设备,所述机头箱通过数据线连接有主控板,主控板通过数据线连接有触摸显示屏,触摸显示屏外接有USB接口。该横机机头测试系统是横机电控部分与横机机械部分连接的一个桥梁,它可通过USB接口导入预设的参数或通过触摸显示屏输入预设的参数,通过主控板对横机机头上各种外设设备的工作状况进行测试,方便测试,节省测试时间和测试成本,可迅速调整外设设备的工作参数,使外设设备精确运行。USB接口是为了升级主程序和加载花型、工作参数等文件,这种机头测试系统方便易用,测试直观,不需要安装在庞大的横机整机上。作为优选,所述外设设备包括动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器。操作触摸显示屏可通过主控板来控制动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器的运行。作为优选,所述机头箱通过CAN数据总线连接触摸显示屏。本实用新型的有益效果是(I)、该横机机头的测试系统可用于测试横机机头上各种外设设备的工作状况,方便测试,节省测试时间和测试成本;(2)、可迅速调整外设设备的工作参数,使外设设备精确运行。

图I是本实用新型的一种系统结构示意图;图2是本实用新型的另一种系统结构示意具体实施方式
[0011]下面通过具体实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步的具体描述实施例I :如附图I所示,一种横机机头测试系统,包括机头箱和外设设备,机头箱通过数据线连接外设设备,外设设备包括动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器,机头箱通过CAN数据总线连接有主控板,主控板通过数据线连接有触摸显示屏,触摸显示屏外接有USB接口,操作触摸显示屏可通过主控板来控制动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器的运行。实施例2 :如附图2所示,一种横机机头测试系统,包括机头箱和外设设备,机头箱通过数据线连接外设设备,外设设备包括动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器,机头箱通过CAN数据总线连接有带有主控板的触摸显示屏,该触摸显示屏与主控板是一体连接的,触摸显示屏外接有USB接口,操作触摸显示屏可通过主控板来控制动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器的运行。本实用新型使用时,通过USB接口导入预设的参数或通过触摸显示屏输入预设的参数,通过主控板对横机机头上各种外设设备的工作状况进行测试,可迅速调整外设设备的工作参数,使外设设备精确运行。USB接口是为了升级主程序和加载花型、工作参数等文件,这种机头测试系统方便易用,测试直观,不需要安装在庞大的横机整机上。以上所述的实施例只是本实用新型的一种较佳的方案,并非对本实用新型作任何形式上的限制,在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。
权利要求1.一种横机机头测试系统,包括机头箱和外设设备,机头箱通过数据线连接外设设备,其特征是,所述机头箱通过数据线连接有主控板,主控板通过数据线连接有触摸显示屏,触摸显示屏外接有USB接口。
2.根据权利要求I所述的横机机头测试系统,其特征是,所述外设设备包括动作电磁铁、换纱电磁铁、选针器、生克电机、度目电机、零位传感器和编码器。
3.根据权利要求I或2所述的横机机头测试系统,其特征是,所述机头箱通过CAN数据总线连接触摸显示屏。
专利摘要本实用新型公开了一种横机机头测试系统,包括机头箱和外设设备,机头箱通过数据线连接外设设备,所述机头箱通过数据线连接有主控板,主控板通过数据线连接有触摸显示屏,触摸显示屏外接有USB接口。该横机机头的测试系统可用于测试横机机头上各种外设设备的工作状况,方便测试,节省测试时间和测试成本,解决了现有横机机头连接的外设设备越来越多,但对横机机头上各种外设设备工作状况的测试却仍然采用各种外设设备分开测试的方法,测试过程繁琐,浪费较多时间,且测试花费的成本高的问题。
文档编号G01M13/00GK202382934SQ20112054692
公开日2012年8月15日 申请日期2011年12月23日 优先权日2011年12月23日
发明者杨贺, 胡军祥 申请人:浙江恒强科技股份有限公司
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