专利名称：一种电子产品的测试方法、装置及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及仪器与仪表技术领域，更具体的说，是涉及ー种电子产品测试方法、装置及系统。
背景技术：
在研发和生产电子产品的过程中，需要对电子产品进行测试，以检测该电子产品是否符合相关要求，对电子产品进行测试，就是对电子产品的各个功能模块进行测试。随着电子产品的不断发展，电子产品的系列和型号越来越丰富，不同系列的电子产品由于实现的功能不同，所以测试方法不同，同一系列不同型号的电子产品中实现相同功能的功能模块的參数或电路可能不同，从而测试方法也不同，同一电子产品可能具有多种功能，对每ー种功能模块的测试的方法可能不同，所以电子产品测试的复杂度也越来越闻。目前，电子产品测试方法基本处于传统的手动或者半自动化测试，对电子产品进行测试时，可能需要研发多种测试方法，使用研发的多种方法一一对该系列的电子产品进行测试，从而使得电子产品的测试过程复杂。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了ー种电子产品测试方法、装置及系统，以克服现有技术中由于电子产品系列和型号不同而造成的测试方法不同，进而导致的电子产品测试过程复杂以及可维护性低的问题。为实现上述目的，本发明提供如下技术方案—种电子产品的测试方法，包括根据所述电子产品的标识获取测试信息，其中，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数；运行所述各条测试指令，并加载相应的參数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，获得与所述各条测试指令相对应的测试数据；判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围；在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试通过，在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试不通过。优选的，在根据所述电子产品的标 识获取测试信息的步骤之前还包括接收对运行与所述各条测试指令相关的程序代码所需要的參数进行修改的命令后，根据接收到的所述命令对相应的參数进行修改。优选的，在运行所述各条测试指令，并加载相应的參数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤(称为步骤A)之前还包括检测当前测试指令是否需要执行，如果否，则跳过所述当前测试指令继续判断下一条测试指令是否需要执行，如果是，则进入步骤A。
优选的，所述各条测试指令相互独立，所述测试指令中的參数包括功能模块选取參数以及测试參数，所述功能模块选取參数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试參数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值，其中，在运行所述各条测试指令，并加载相应的參数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，以获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤中具体包括在当前测试指令需要执行的情况下，运行所述当前测试指令，并加载与所述当前测试指令相对应的功能模块选取參数至相对应的程序代码中，选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块，再加载与所述当前测试指令相对应的测试參数至所述某个功能模块中，获得与所述当前测试指令相对应的测试数据。
优选的，在判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围的步骤之前还包括判断与所述各条测试指令相对应的测试结果的数值种类；在某ー测试指令对应的测试结果的数值是小数的情况下，将所述测试结果的数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转换后的整数作为与所述某ー测试指令相对应的测试数据，在与任一测试指令相对应的测试结果的个数大于I的情况下，计算各个测试结果的平均值，并将所述平均值作为所述任ー测试指令的测试数据。优选的，在加载相应的參数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，以获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤之后还包括检测是否暂停测试步骤的运行，如果是，则暂停测试步骤的运行并显示与当前测试指令相对应的测试数据以及相对应的标准数据范围，如果否，则继续运行测试步骤；检测是否跳转到指定测试指令，如果是，则跳转到所述指定测试指令并执行，如果否，则继续执行后续的测试指令；和/或，检测是否保存当前测试指令对应的测试数据，如果是，则保存，如果否，则不保存。优选的，在获得所述电子产品的测试通过或者不通过的结果后，所述测试方法还包括接收下ー个电子产品的标识，井根据下ー个电子产品的标识获取相应的测试信息；或，接收退出所述电子产品测试的请求后退出测试。ー种电子产品的测试装置，包括读取标识模块、测试信息获取模块、测试数据获取模块以及判断模块。读取标识模块，用于读取被测电子产品的标识；测试信息获取模块，用于根据所述读取标识模块所读取的所述标识获取与该标识对应的测试信息，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数；测试数据获取模块，用于运行所述各条测试指令，并加载相应的參数至与各条测试指令相对应的程序代码中，获得与所述各条测试指令相对应的测试数据；判断模块，用于判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围，在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试通过，以及在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试不通过。优选的，所述测试装置还包括參数修改模块，用于在接收到对运行与所述各条测试指令相关的程序代码所需要的參数进行修改的命令后，根据接收到的所述命令对相应的參数进行修改。优选的，所述测试装置还包括检测执行模块，用于检测当前测试指令是否需要执行，如果否，则跳过所述当前测试指令继续判断下一条测试指令是否需要执行，如果是，则触发所述测试数据获取模块。优选的，所述各条测试指令相互独立，所述测试指令中的參数包括功能模块选取參数以及测试參数，所述功能模块选取參数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试參数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值，所述测试数据获取模块具体包括第一运行单元，用于在所述当前测试指令需要执行的情况下，运行所述当前测试指令，并加载与所述当前测试指令相对应的功能模块选取參数至相对应的程序代码中，选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块；第二运行单元，用于在所述第一运行单元执行完毕后，加载与所述当前测试指令相对应的测试參数至所述某个功能模块中，获得与所述当前测试指令相对应的测试数据；获取单元，用于在所述第二运行单元执行完毕后，获取相对应的测试数据。优选的，所述测试数据获取模块具体还包括处理单元，用于判断与所述各条测试指令相对应的测试结果的数值种类，在某ー测试指令对应的测试结果的数值是小数的情况下，则将所述测试结果的数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转换后的整数作为所述某ー测试指令相对应的测试数据，以及在任ー测试指令相对应的测试结果的个数大于I的情况下，计算各个测试结果的平均值，并将所述平均值作为所述任ー测试指令的测试数据。优选的，所述测试装置还包括暂停模块，用于在执行完当前测试步骤后，检测是否暂停测试步骤的运行，如果是，则暂停测试步骤的运行并显示与所述当前测试指令相对应的测试数据以及相对应的标准数据范围，如果否，则继续运行后续的测试步骤；跳转模块，用于检测是否跳转到指定测试指令，如果是，则跳转到所述指定测试指令并执行，如果否，则继续执行后续的测试指令；和/或，保存模块，用于检测是否保存当前测试指令对应的测试数据，如果是，则保存，如果否，则不保存。优选的，所述测试装置还包括触发模块，用于在获得所述电子产品的测试通过或者不通过的结果后，触发所述读取标识模块读取下一个电子产品的标识；或，退出测试模块，用于接收退出所述电子产品测试的请求后退出测试。ー种电子产品的测试系统，包括扫描仪、上位机、继电器开关控制箱以及测试数据获取模块，其中，所述扫描仪与所述上位机相连，所述上位机通过输入/输出接ロ与所述继电器开关控制箱相连，所述上位机通过串ロ分别与所述测试数据获取模块及所述电子产品相连，所述电子产品分别与所述测试数据获取模块及所述继电器开关控制箱相连；所述上位机根据所述扫描仪扫描所述电子产品的标识而获取测试信息，其中，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数，所述參数包括功能模块选取參数以及测试參数，所述功能模块选取參数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试參数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值；所述上位机在运行某一条测试指令吋，加载与所述某一条测试指令相对应的功能模块选取參数至相对应的程序代码中，产生控制命令；所述继电器开关控制箱根据所接收到所述控制命令选择所述电子产品中的相应的功能模块，所述上位机将与所述某一条测试指令相对应的测试參数通过所述测试数据获取模块发送至相应的功能模块中，获得与所述某ー测试指令相对应的测试数据，所述测试数据获取模块从所述被测电子产品中获取与所、述测试数据，并将所述测试数据发送至所述上位机，所述上位机将所述测试数据和相应的标准数据范围进行对比以获取对相应的功能模块测试是否通过的結果。经由上述的技术方案可知，采用本发明实施例公开的电子产品测试系统，由于测试信息是与电子产品的标识对应的，当扫描仪扫描出电子产品的标识后，上位机就可以根据该标识获取相应的测试信息，上位机首先根据功能模块选取參数确定出电子产品中的哪ー个功能模块需要被测试，然后在将相应的测试參数传送至该功能模块，该功能模块根据测试參数进行测试后产生测试数据，所述上位机从所述电子产品中获取测试数据，并将测试数据与相应的标准数据进行比较，得出该功能模块是否符合要求的结果，这样在对同一个电子产品或者不 同系列或型号的电子产品进行测试时，只需要对相应的测试信息进行修改即可。进ー步的，由于不需要修改硬件，只需要对测试信息进行修改，从而不需要研发多种测试电路，减化了硬件电路，节省了成本。本发明实施例所公开的电子产品测试方法、装置及系统，可以克服现有技术中由于电子产品系列和型号不同而造成的测试方法不同，进而导致的电子产品测试过程复杂以及可维护性低的问题，通过高效灵活的软件来完成各种测试项目自动化的应用，可靠性高，设计灵活，进而实现高效率的测试。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图I为本发明实施例公开的电子产品测试方法的流程图；图2为本发明实施例公开的电子产品的测试信息表的部分示意图；图3为本发明实施例公开的电子产品测试装置的结构示意图；图4为本发明实施例公开的电子产品测试系统的结构示意图；图5为本发明实施例公开的利用电子产品测试系统测试电子产品的流程图；图6为本发明实施例公开的电子产品测试系统进入等待状态的示意图；图7为本发明实施例公开的利用电子产品测试系统测试变频器的ー种测试系统结构示意图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。请參阅附图1，为本发明实施例公开的电子产品测试方法的流程图，该方法可以包括步骤SlOl :根据电子产品的标识获取测试信息。具体的，可以用电子产品中的条形码作为该电子产品的标识，可以利用扫描仪扫描电子产品的条形码，从而获得电子产品的标识。在获得电子产品的标识后，可以根据与该标识相对应的路径，例如...\\Invt_test_system\Data\目录,获得该电子产品的测试信息，其中，同一个型号的电子产品可以用同一个测试信息，电子产品的标识与该型号电子产品的测试信息相对应。测试信息可以包括至少一条用于测试电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数。其中，测试指令与程序代码相对应，测试指令可以作为触发相应的程序代码运行的命令，也就是当某个测试指令被执行后，会触发与该测试指令相对应的程序代码的运行，在进行测试时各个测试指令对应的程序代码的选取必须正确，否则电子产品在按照错误的程序代码进行测试后，得不到相应的测试数据在本实施例中，在步骤SlOl之前，还可以包括接收对运行与各条测试指令相关的程序代码所需要的參数进行修改的命令后，根据接收到的所述命令对相应的參数进行修改。优选的，各条测试指令相互独立。每一条测试指令都是可以各自独立运行，如果某一条测试指令对应的程序代码出现了错误，就很容易的检测出是哪一条测试指令对应的程序代码出现错误，可以直接对这条测试指令对应的程序代码进行修改，提高了软件的可维护性，对于不同的被测电子产品，只需加载相应的测试信息即可，不需对程序作任何改动，类似地，当电子产品的參数发生改变而需更改测试信息时，也只需更改测试信息中对应的參数，而不需更改程序代码，提高了软件的可维护性及可操作性。优选的，测试信息的存储方式可以以ニ维表格的方式进行存储，为了方便，在此将存储有测试信息的ニ维表格称为测试信息表格，为了让本领域技术人员更加清楚的理解本实施例中的测试信息表格，需要对实际应用中的测试信息表格进行ー下简单介绍，如图2所示，在该测试信息表格中的每一行可以是一条测试指令，一条条测试指令组成ー个电子产品完整的测试流程。请參阅附图2，为本发明实施例公开的电子产品的测试信息表的部分示意图，由于测试信息表可能有很多测试指令，在此不能一一列举，只从整体上进行解释，从图2中可以看出测试信息包括“测试步骤”、“测试项目”、“项目描迷”、“代码选择”、“參数1”、“參数2”、“參数3”、“參数4”、“是否暂停”、“下限”、“上限”、“単位”、“通过跳转”、“失败跳转”、“结果保
存”、“是否测试”等栏位。“测试步骤”表示测试指令的序列号，如果所有的测试指令都需要运行，那么就按照测试指令的序列号依次运行。“测试项目”表示各个测试指令的名称。“项目描述”表示测试指令名称的详细描述，即各个测试指令测试的目的，便于编程人员了解本步骤的功能或者控制的硬件端ロ名称，由于各个测试指令的测试目的都有描述，那么测试指令对操作员完全透明，操作员只需要了解各个测试指令的测试目的和相关參数的类型及意义就可以轻松完成一个电子产品完整的测试程序。“代码选择”表示各个测试指令对应的程序代码，其中，程序代码必须按编程要求正确选择，否则该系统在被测电子产品测试后，得不到相应的测试数据。“參数1”、“參数2”、“參数3”、“參数4”表示测试指令对应的程序代码运行需要的相关參数，即测试信息表格当前运行的程序代码用到的參数，其中，有的测试指令需要的參数可能少于4个，那么多余的參数指令会自动丢掉不理会，有的测试指令需要的參数可能多余4个，那么在对测试信息表格进行修改即可。“是否暂停”表示各个测试指令执行完毕后是否暂停，可以用字母“B” (Break的首字母大写)表示需要暂停，除字符“B”以外的“字符”或者“字符串”指令都判定为不需要暂停(即非“B”)，例如“A”、“b”、“EBF”等等系统会判定该测试步骤不需要暂停，因此如果需要观察某个测试步骤运行后的测试数据，在该测试步骤后的“是否暂停”表格处写入“B”即可，系统在检测到该“是否暂停”表格处为“B”，则在该测试步骤运行完毕后，暂停程序。在其他实施例中，当然也可以用其他字符表示需要暂停，用什么字符表示需要暂停不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要暂停作特殊限定。“下限”表示标准数据的下限。“上限”表示标准数据的上限，其中，“上限”和“下限”组成了标准数据的范围。
“单位”表示测试数据所用的単位。“通过跳转”表示测试指令执行完毕后，系统自动跳转到“通过跳转”表格位指定的测试指令继续执行。“失败跳转”表示测试指令执行失败后，系统自动跳转到“通过跳转”表格位指定的测试步骤继续执行。在本实施中，“通过跳转”和“失败跳转”组成了测试指令之间的流程转向，如果“通过跳转”和“失败跳转”对应表格位为空，则按表格的测试步骤从上至下依次运行。“结果保存”表示测试指令对应的测试数据是否需要保存，可以用字母“S”(Save的首字母大写)表示需要保存，除字符“S”以外的“字符”或者“字符串”指令都表示为不进行保存(即非“S”)，因此如果需要保存当前测试数据，在该测试指令后的“结果保存”表格处写入“ S”即可，系统在检测到该“结果保存”表格处为“S”，则会自动保存测试数据。在其他实施例中，当然也可以用其他字符表示需要保存，用什么字符表示需要保存不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要保存作特殊限定。“是否测试”表示测试指令是否需要运行，可以用字母“T”(Test的首字母大写)表示需要运行，除字符“T”以外的“字符”或者“字符串”指令都表示为不运行(即非“T”)，因此如果需要屏蔽本测试指令，在该测试指令对应的“是否测试”表格处写入非“T”即可，系统在检测到该“是否测试”表格处为非“T”，则系统在运行完上ー测试指令后自动跳过本测试指令去运行下ー测试指令。在其他实施例中，当然也可以用其他字符表示需要运行，用什么字符表示需要运行不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要运行作特殊限定。请继续參阅图1，步骤S102 :运行各条测试指令，并加载相应的參数至与各条测试指令相对应的程序代码中，获得与各条测试指令相对应的测试数据。在本实施例中，由于參数是运行与各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数，那么在运行程序代码前需要将參数加载至相应的程序代码中，然后在运行程序代码。具体的，运行与各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数可以有多个，也可以有ー个，參数个数视不同的实际情况而定，如果测试信息存储在测试信息表格中，那么參数有几个相 应的测试信息表格中就有几列，例如，有四个參数，那么测试信息表格中就有四列来表示參数信息，如上图2中的“參数1”、“參数2”、“參数3”以及“參数4”四列。在实际应用中，有的测试指令需要的參数可能少于4个，那么多余的參数指令相应的程序代码会自动丢掉不理会，有的测试指令需要的參数可能多余4个，那么在对测试信息表格中増加相应的參数列即可，也可以在建立测试信息表格时，测试信息表格中用来表示參数信息的列数的值为与各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数个数的最大值。在本实施例中，测试指令中的參数可以包括功能模块选取參数以及测试參数,功能模块选取參数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，测试參数是被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值，其中，步骤S102具体包括在当前测试指令需要执行的情况下，运行当前测试指令，并加载与当前测试指令相对应的功能模块选取參数至相对应的程序代码中，选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块，再加载与当前测试指令相对应的测试參数至该功能模块中，获得与当前测试指令相对应的测试数据。在本实施例中，在步骤S102之前还可以包括判断当前测试指令是否需要执行，如果是则进入步骤S102，如果否，则跳过当前测试指令判断下一条测试指令是否需要执行。具体的，主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应“是否测试”栏位上是字符“T”还是除字符“T”以外的其他字符或者字符串，如果是字符“T”则表示需要执行，如果是除字符“T”以外的其他字符或者字符串都表示为不执行。在其他实施例中，当然也可以用除“ T”以外的其他字符表示需要运行，用什么字符表示需要运行不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要运行作特殊限定。在本实施例中，在步骤S102之后还可以包括检测是否暂停测试步骤的运行，如果是，则暂停测试步骤的运行并显示与当前测试指令相对应的测试数据以及相对应的标准数据范围，如果否，则继续运行测试步骤；检测是否跳转到指定测试指令，如果是，则跳转到所述指定测试指令并执行，如果否，则继续执行后续的测试指令；和/或，检测是否保存当前测试指令对应的测试数据，如果是，则保存，如果否，则不保存。具体的，“检测是否暂停测试步骤的运行”主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应的“是否暂停”栏位上是字符“B”还是除字符“B”以外的其他字符或者字符串，如果是字符“B”则表示需要暂停，如果是除字符“B”以外的其他字符或者字符串都判定为不需要暂停，在其他实施例中，当然也可以用除“B”以外的其他字符或者字符串表示需要暂停，用什么字符表示需要暂停不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要暂停作特殊限定。同样的，“检测是否跳转到指定测试指令”主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应的“通过跳转”栏位与“失败跳转”栏位上的字符，其中，“通过跳转”是指测试指令完毕后， 系统自动跳转到“通过跳转”栏位上指定的测试指令继续执行，“失败跳转”是指测试指令执行失败后，系统自动跳转到“失败跳转”栏位上指定的测试指令继续执行，“通过跳转”和“失败跳转”组成了测试指令之间的流程转向，如果测试信息表格中这两个栏位为空，则顺序执行后续的测试指令。同样的，“检测是否保存当前测试指令对应的测试数据”主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应的“结果保存”栏位上是字符“S”还是除字符“S”以外的其他字符或者字符串，如果是字符“S”则表示进行保存，系统在检测到该“结果保存”栏位处为“S”则会自动保存测试数据，如果是除字符“S”以外的其他字符或者字符串则表示不进行保存。在其他实施例中，当然也可以用除“S”以外的其他字符或者字符串表示需要进行保存，用什么字符表示需要进行保存不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要进行保存作特殊限定。
步骤S103 :判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围，如果是，则进入步骤S104，如果任一条测试数据不符合相对应的标准数据，则进入步骤S105。具体的，若测试信息存储在测试信息表格中，那么可以通过判断测试数据是否大于或等于标准数据的下限以及小于或等于标准数据的上限，如果是，则进入步骤S104，如果否，则进入步骤S105。在本实施例中，在步骤S103之前还可以包括判断与各条测试指令相对应的测试结果的数值种类；在某ー测试指令对应的测试结果的数值是小数的情况下，将所述测试结果的数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转换后的整数作为与所述某ー测试指令相对应的测试数据，在与任ー测试指令相对应的测试结果的个数大于I的情况下，计算各个测试结果的平均值，并将所述平均值作为所述任ー测试指令的测试数据。具体的，该步骤主要是为了将测试结果进行处理，得到便于机器与标准数据范围相比较的数值，在不同的应用中对测试结果的处理操作不同，例如如果测试电子产品的带负载能力，对接有负载的电子产品进行测试获得测试结果1，再对未接负载的同一电子产品进行测试获得测试结果2，此时的处理操作可以为取测试结果I与测试结果2差的绝对值，并将此绝对值作为测试数据，若测试结果I与测试结果2差的绝对值为小数，则将该数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转化成的整数作为与测试数据，当然某ー测试指令在执行后获得的测试结果就是整数，那么可以直接将该整数作为这条测试指令对应的测试数据，当然在不同的实际应用中，也可以在整数的基础上进行其他操作。步骤S104 :判定电子产品的测试通过。步骤S105 :判定电子产品的测试不通过。在本实施例中，在步骤S104或步骤S105之后，还可以包括接收下ー个电子产品的标识，井根据下ー个电子产品的标识获取相应的测试信息；或，接收退出所述电子产品测试的请求后退出测试。具体的，当执行完所有的测试指令后，会得到最終的测试結果，然后结束整个电子产品的测试，当然如果只需要检测被测电子产品中某一功能模块是否符合要求时，也可以只执行与该功能模块相关的测试指令，然后结束整个测试。在结束整个电子产品的测试后，可以进入等待状态，等待接收下ー个电子产品的标识，然后进行测试，或在接收到退出测试后退出电子产品测试，例如，可以是测试员按下“退出测试”按钮后，退出整个测试。本发明实施例公开的这种电子产品的测试方法与传统测试方法相比，由于每一条测试指令都是可以各自独立运行的，如果某一条测试指令出现了错误，那么就很容易检测出是哪一条测试指令出现了错误，可以直接对这条测试指令进行修改，提高了软件的可维护性，对于不同的被测电子产品，只需加载相应的测试信息即可，不需对程序作任何改动，类似地，当电子产品的參数发生改变而需更改测试參数吋，也只需更改测试信息里的对应參数，而不需更改程序代码，例如如果被测电子产品为控制三相交流传感器和变频器，而这两个仪器都是用Mod-bus协议的通信模块，只是地址、功能码等參数不一样，这样在操作这两个仪器吋，不需要修改测试指令对应的程序代码，只需要修改对应的參数即可，这样整个测试方法的代码少，不会有相同冗余的代码。并且不需要研发多种测试方法就能完成整个测试过程，且简单实用。上述本发明公开的实施例中详细描述了方法，对于本发明的方法可采用多种形式的测试装置实现，因此本发明还公开了一种测试装置，下面给出具体的实施例进行详细说明。请參阅图3，为本发明实施例公开的电子产品测试装置的结构示意图，该电子产品测试装置可以包括读取标识模块301、测试信息获取模块302、测试数据获取模块303以及判断模块304，其中读取标识模块301，用于读取被测电子产品的标识。具体的，读取标识模块301可以为扫描仪，电子产品的标识可以为该电子产品的条形码，可以利用扫描仪扫描电子产品的条形码的方法获得电子产品的标识。 测试信息获取模块302，用于根据所述读取模块获取的所述标识，获取与该标识对应的测试信息。具体的，在获得电子产品的标识后，可以根据与该标识相对应的路径，例如:··· \\Invt_test_system\Data\目录,获得该电子产品的测试信息,其中，同一个型号的电子产品可以用同一个测试信息，电子产品的标识与该型号电子产品的测试信息相对应。测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数。其中，测试指令与程序代码相对应，测试指令可以作为触发相应的程序代码运行的命令，也就是当某个测试指令被执行后，会触发与该测试指令相对应的程序代码的运行，在进行测试时各个测试指令对应的程序代码的选取必须正确，否则电子产品在按照错误的程序代码进行测试后，得不到相应的测试数据。测试数据获取模块303，用于运行各条测试指令，并加载相应的參数至与各条测试指令相对应的程序代码中，获得与各条测试指令相对应的测试数据。优选的，各条测试指令相互独立，测试指令中的參数包括功能模块选取參数以及测试參数，功能模块选取參数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，测试參数是被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值，测试数据获取模块303具体包括第一运行单元3031，用于在当前测试指令需要执行的情况下，运行当前测试指令，并加载与当前测试指令相对应的功能模块选取參数至相对应的程序代码中，选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块；第二运行单元3032，用于在第一运行单元执行完毕后，加载与当前测试指令相对应的测试參数至某个功能模块中，获得与当前测试指令相对应的测试数据；获取单元3033，用于在第二运行单元执行完毕后，获取相对应的测试数据。测试数据获取模块303还可以包括处理单元3034，用于判断与各条测试指令相对应的测试结果的数值种类，在某ー测试指令对应的测试结果的数值是小数的情况下，则将测试结果的数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转换后的整数作为该测试指令相对应的测试数据，在任ー测试指令相对应的测试结果的个数大于I的情况下，计算各个测试结果的平均值，并将平均值作为该测试指令的测试数据。
具体的，在不同的应用中对测试结果的处理操作不同，例如如果测试电子产品的带负载能力，对接有负载的电 子产品进行测试获得测试结果1，再对未接负载的同一电子产品进行测试获得测试结果2，此时的处理操作可以为取测试结果I与测试结果2差的绝对值，并将此绝对值作为测试数据，若测试结果I与测试结果2差的绝对值为小数，则将该数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转化成的整数作为与测试数据，当然某ー测试指令在执行后获得的测试结果就是整数，那么可以直接将该整数作为这条测试指令对应的测试数据，当然在不同的实际应用中，也可以在整数的基础上进行其他操作。判断模块304，用于判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围，在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下，判定电子产品的测试通过，在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下，判定电子产品的测试不通过。电子产品测试装置还可以包括參数修改模块305，用于在接收到对运行与各条测试指令相关的程序代码所需要的參数进行修改的命令后，根据接收到的命令对相应的參数进行修改。具体的，各条测试指令相互独立。每一条测试指令都是可以各自独立运行，如果某一条测试指令对应的程序代码出现了错误，就很容易的检测出是哪一条测试指令对应的程序代码出现错误，可以直接对这条测试指令对应的程序代码进行修改，提高了软件的可维护性，对于不同的被测电子产品，只需加载相应的测试信息即可，不需对程序作任何改动，类似地，当电子产品的參数发生改变而需更改测试信息时，也只需更改测试信息中对应的參数，而不需更改程序代码，提高了软件的可维护性及可操作性。该电子产品测试装置还可以包括暂停模块306，用于在执行完当前测试步骤后，检测是否暂停测试步骤的运行，如果是，则暂停测试步骤的运行并显示与所述当前测试指令相对应的测试数据以及相对应的标准数据范围，如果否，则继续运行后续的测试步骤。具体的，主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应的“是否暂停”栏位上是字符“B”还是除字符“B”以外的其他字符或者字符串，如果是字符“B”则表示需要暂停，如果是除字符“B”以外的其他字符或者字符串都判定为不需要暂停，在其他实施例中，当然也可以用除“B”以外的其他字符或者字符串表示需要暂停，用什么字符表示需要暂停不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要暂停作特殊限定。该电子产品测试装置还可以包括跳转模块307，用于检测是否跳转到指定测试指令，如果是，则跳转到所述指定测试指令并执行，如果否，则继续执行后续的测试指令。具体的，主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应的“通过跳转”栏位与“失败跳转”栏位上的字符，其中，“通过跳转”是指测试指令完毕后，系统自动跳转到“通过跳转”栏位上指定的测试指令继续执行，“失败跳转”是指测试指令执行失败后，系统自动跳转到“失败跳转”栏位上指定的测试指令继续执行，“通过跳转”和“失败跳转”组成了测试指令之间的流程转向，如果测试信息表格中这两个栏位为空，则顺序执行后续的测试指令；和/或，存储模块308，用于检测是否保存当前测试指令对应的测试数据，如果是，则保存，如果否，则不保存。具体的，主要是看图2所示的测试信息表格中当前测试指令所对应的“结果保存”栏位上是字符“S”还是除字符“S”以外的其他字符或者字符串，如果是字符“S”则表示进行保存，系统在检测到该“结果保存”栏位处为“S”则会自动保存测试数据，如果是除字符“S”以外的其他字符或者字符串则表示不进行保存。在其他实施例中，当然也可以用除“S”以外的其他字符或者字符串表示需要进行保存，用什么字符表示需要进行保存不影响本发明的实现，所以在本发明实施例中就不对用什么字符表示需要进行保存作特殊限定。该电子产品测试装置还可以包括触发模块309，用于在获得所述电子产品的测试通过或者不通过的结果后，触发所述读取标识模块301读取下ー个电子产品的标识；或，退出测试模块310，用于接收退出所述电子产品测试的请求后退出测试。电子产品测试装置还可以包括检测执行模块311，用于检测当前测试指令是否需要执行，如果否，则跳过所述当前测试指令继续判断下一条测试指令是否需要执行，如果是，则触发测试数据获取模块303。本发明实施例公开的电子产品测试装置与传统测试装置相比，由于每一条测试指令都是可以各自独立运行的，如果某一条测试指令出现了错误，那么就很容易检测出是哪一条测试指令出现了错误，可以直接对这条测试指令进行修改，提高了软件的可维护性，对于不同的被测电子产品，只需加载相应的测试信息即可，不需对程序作任何改动，类似地，当电子产品的參数发生改变而需更改测试參数时，也只需更改测试信息里的对应參数，而不需更改程序代码，例如如果被测电子产品为控制三相交流传感器和变频器，而这两个仪器都是用Mod-bus协议的通信模块，只是地址，功能码等參数不一样，这样在操作这两个仪器吋，不需要修改测试指令对应的程序代码，只需要修改对应的參数即可，这样整个测试方法的代码少，不会有相同冗余的代码。并且不需要研发多种测试装置，本发明实施例公开的电子产品的测试装置自身就可以完成整个测试过程，且简单实用。请參阅图4，为本发明实施例公开的电子产品的测试系统的结构示意图，该测试系统可以包括扫描仪401、上位机402、继电器开关控制箱403以及测试数据获取模块303，其中扫描仪401与上位机402相连，上位机402通过输入/输出接ロ与继电器开关控制箱403相连，上位机402通过串ロ分别与测试数据获取模块303及电子产品404相连，电子产品404分别与测试数据获取模块303及继电器开关控制箱403相连；其中详细的工作原理如下上位机402根据扫描仪401扫描电子产品404的标识而获取测试信息。上位机402在运行测试指令a时，加载与测试指令a相对应的功能模块选取參数至相对应的程序代码中，产生控制命令。继电器开关控制箱403根据所接收到控制命令选择电子产品404中的相应的功能模块，上位机402将与测试指令a相对应的测试參数通过测试数据获取模块303发送至相应的功能模块中，获得与测试指令a相对应的测试数据，测试数据获取模块303从电子产品404中获取与测试指令a相对应的测试数据，并将该测试数据发送至上位机402，上位机402将所述测试数据和相应的标准数据范围进行对比以获取对相应的功能模块测试是否通过的結果。其中，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的參数，所述參数包括功能模块选取參数以及测试參数，所述功能模块选取參数、是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试參数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值。在电子产品测试系统与电子产品404连接后，电子产品测试系统首先对自身内部的各个仪器进行初始化(例如继电器开关控制箱403等)。初始化完毕后等待扫描仪401扫描电子产品的标识。该步骤只需要在电子产品测试系统开启后执行一次即可，在ー个电子产品测试完毕后，在测试另外ー个电子产品时不需要执行该步骤，当然根据不同的实际情况，也可在姆测试ー个电子产品后执行一次。电子产品测试系统还可以包括显示器405，用于显示上位机402获取的功能模块测试是否通过的結果。也就是在该测试数据落在相应的标准数据范围时判定相应的功能模块测试通过，以及在该测试数据没有落在相应的 标准数据范围时判定相应的功能模块测试不通过，并借助显示器405显示功能模块测试是否通过的結果。在本实施例中，上位机402存储有多种不同型号的电子产品404的测试信息，由于测试信息是与电子产品404的标识所属型号对应的，因此，当扫描仪401扫描出电子产品404的标识后，上位机402就可以根据该标识获取相应的测试信息，上位机402首先根据功能模块选取參数确定出电子产品中的哪ー个功能模块需要被测试，再将相应的测试參数传送至该功能模块，在该功能模块进行测试后，上位机402在从电子产品404中获取测试数据，并将测试数据与相应的标准数据进行比较，得出该功能模块是否符合要求的結果。本实施例所提供的这种电子产品测试系统在对同一个电子产品的不同系列或不同型号的电子产品进行测试时，只需要对相应的测试信息进行修改即可。进ー步的，由于不需要修改硬件，只需要对测试信息进行修改，从而不需要研发多种测试电路，减化了硬件电路，节省了成本，通过高效灵活的软件来完成各种测试项目自动化的应用，可靠性高，设计灵活，进而实现高效率的测试。为了本领域技术人员更好的理解本发明实施例所公开的电子产品测试系统，下面将详细的介绍电子产品测试系统在测试电子产品404时的流程。请參阅图5，为本发明实施例公开的利用电子产品测试系统测试电子产品的流程图。步骤S501 :初始化參数。在电子产品测试系统与电子产品404连接后，电子产品测试系统首先对自身内部的各个仪器进行初始化(例如继电器开关控制箱403等)。初始化完毕后等待操作员扫描电子产品404的标识。步骤S502 :等待接收扫描仪401扫描的电子产品404的标识。步骤S503 :在接收到电子产品404的标识后，获取与该标识对应的测试信息。步骤S504 :执行当前测试指令。电子产品测试系统一次可以执行一条测试指令，如果测试信息存储在测试信息表中，可以按照测试指令的序列号(即图2表中的测试步骤)依次执行的。步骤S505 :在当前测试指令执行完毕后，判断是否结束该电子产品的测试，如果是，则进入步骤S506，如果否，则返回步骤S504。对某个电子产品进行测试，可以将所有与该电子产品相关的测试指令都执行，也可以只执行部分测试指令。
步骤S506 :判断是否结束测试任务，如果是，则进入步骤S508，如果否，则进入步骤 S507。如果想要测试6个电子产品，那么测试任务就是对6个电子产品进行测试，也就是说当前电子产品测试完毕后，检测是否继续测试下一个电子产品，如果已经检测完6个电子产品，那么测试任务就结束了，如果没有检测完6个电子产品，那么就继续检测下一个电
子产品。步骤S507 :判断是否接收到下一个电子产品的标识，如果是，则返回步骤S502，如果否，则进入步骤S508。步骤S508:退出测试。在电子产品测试完毕后，电子产品测试系统可以进入等待状态，如图6所示，为本发明实施例公开的电子产品测试系统进入等待状态的示意图。从图6中可以看出上一个进行测试的电子产品是不符合要求的，所以显示“产品不良”，在上一个电子产品的测试完毕后，电子产品测试系统处于等待状态，等待下一个电子产品标识的输入即“条码输入”，如果此时有电子产品的标识输入，则电子产品测试系统接收到“0K”按钮被点击后，就会进入后续测试步骤，图6中还有“退出测试”的按钮，如果电子产品测试系统接收到该按钮被点击后，就会退出测试。在实际的应用中，由于应用场景的不同，测试数据获取模块303的具体硬件表现形式也可能不同，在变频器的测试系统中，与测试数据获取模块303相对应的硬件为万用表、RS-232转RS-485模块、三相交流传感器，以下将例举在实际应用中利用该电子产品测试系统测试变频器的实例以示说明。请参阅图7，为本发明实施例公开的利用电子产品测试系统测试变频器的一种测 试系统结构示意图，该系统可以包括扫描仪401、继电器开关控制箱403、万用表701、RS_232转RS-485模块702、三相交流传感器703、上位机402及显示器405，其中上位机402存储有测试信息，测试信息包括至少一条测试电子产品的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围及与各条测试指令相关的程序代码运行需要的参数，其中扫描仪401及显示器405与上位机402相连；上位机402通过输入/输出接口(I/
O口)与继电器开关控制箱403相连，继电器开关控制箱403分别与变频器704及万用表701相连；上位机402通过通用接口总线(General-Purposelnterface Bus, GPI B)卡与万用表701相连；上位机402通过串口与RS-232转RS-485模块702相连，RS-232转RS-485模块702分别与变频器704及三相交流传感器703相连，三相交流传感器703与变频器704相连。其中详细的工作原理如下上位机402根据扫描仪401扫描出的变频器704的标识，获取变频器704的测试信息，并根据功能模块选取参数通过输入/输出接口控制继电器开关控制箱403选择变频器704中需要进行测试的某一功能模块。具体过程与图4中描述的过程一样。上位机402将某一功能模块测试需要的测试参数通过串口及RS-232转RS-485模块702发送给变频器704，在某一功能模块根据相应的测试参数进行测试之后，产生测试数据，上位机402通过万用表701从继电器开关控制箱403中获取该测试数据、或者通过RS-232转RS-485模块702获取该测试数据，亦或者通过三相交流传感器703与RS-232转RS-485模块702获取该测试数据，上位机402将获取的所述测试数据与相应的标准数据范围相比较，获得某一功能模块是否符合要求的结果，并在显示器405中显示该结果。上位机402还可以在将测试数据和相应的标准数据范围进行相比较之前，将测试数据根据预定规则进行处理，相应的，上位机402将处理后的测试数据和相应的标准数据范围进行比较，获得电子产品中的某一功能模块是否符合要求的结果。采用本发明实施例公开的系统，不需要研发多种测试电路，减化了硬件电路，节省了成本，通过高效灵活的软件来完成各种测试项目自动化的应用，可靠性高，设计灵活，进而实现高效率的测试。上述实施例所公开的电子产品测试方法、装置及系统可以是基于LabVIEW的虚拟仪器测试平台而设计的电子产品测试方法、装置及系统，可以进行自动控制电子产品的测试点位置，也就是在电子产品的不同的待测试功能模块对该电子产品的各项性能指标自动进行检测，该测试平台可实现多产品、多型号测试，是个开放的测试系统，具有很强的升级扩展能力。不仅如此，本发明实施例所公开的电子产品测试方法、装置及系统，不需要研发多种测试电路，减化了硬件电路，节省了成本，通过高效灵活的软件来完成各种测试项目自动化的应用，可靠性高，设计灵活，进而实现高效率的测试。本说明书中对于实施例公开的电子产品测试装置而言，由于其与实施例所公开的电子产品测试方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见电子产品测试方法部分说明即可。还需要说明的是在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者
设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个......”限定的要素，并
不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的 一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
权利要求
1.一种电子产品的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括根据所述电子产品的标识获取测试信息，其中，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的参数；运行所述各条测试指令，并加载相应的参数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，获得与所述各条测试指令相对应的测试数据；判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围；在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试通过，在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试不通过。
2.根据权利要求I所述的测试方法，其特征在于，在根据所述电子产品的标识获取测试信息的步骤之前还包括接收对运行与所述各条测试指令相关的程序代码所需要的参数进行修改的命令后，根据接收到的所述命令对相应的参数进行修改。
3.根据权利要求I所述的测试方法，其特征在于，在运行所述各条测试指令，并加载相应的参数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤(称为步骤A)之前还包括检测当前测试指令是否需要执行，如果否，则跳过所述当前测试指令继续判断下一条测试指令是否需要执行，如果是，则进入步骤A。
4.根据权利要求I所述的测试方法，其特征在于，所述各条测试指令相互独立，所述测试指令中的参数包括功能模块选取参数以及测试参数，所述功能模块选取参数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试参数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值，其中，在运行所述各条测试指令，并加载相应的参数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，以获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤中具体包括在当前测试指令需要执行的情况下，运行所述当前测试指令，并加载与所述当前测试指令相对应的功能模块选取参数至相对应的程序代码中，选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块，再加载与所述当前测试指令相对应的测试参数至所述某个功能模块中，获得与所述当前测试指令相对应的测试数据。
5.根据权利要求I所述的测试方法，其特征在于，在判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围的步骤之前还包括判断与所述各条测试指令相对应的测试结果的数值种类；在某一测试指令对应的测试结果的数值是小数的情况下，将所述测试结果的数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转换后的整数作为与所述某一测试指令相对应的测试数据，在与任一测试指令相对应的测试结果的个数大于I的情况下，计算各个测试结果的平均值，并将所述平均值作为所述任一测试指令的测试数据。
6.根据权利要求I所述的测试方法，其特征在于，在加载相应的参数至与所述各条测试指令相对应的程序代码中，以获得与所述各条测试指令相对应的测试数据的步骤之后还包括检测是否暂停测试步骤的运行，如果是，则暂停测试步骤的运行并显示与当前测试指令相对应的测试数据以及相对应的标准数据范围，如果否，则继续运行测试步骤；检测是否跳转到指定测试指令，如果是，则跳转到所述指定测试指令并执行，如果否，则继续执行后续的测试指令； 和/或，检测是否保存当前测试指令对应的测试数据，如果是，则保存，如果否，则不保存。
7.根据权利要求I所述的测试方法，其特征在于，在获得所述电子产品的测试通过或者不通过的结果后，所述测试方法还包括接收下一个电子产品的标识，并根据下一个电子产品的标识获取相应的测试信息；或，接收退出所述电子产品测试的请求后退出测试。
8.一种电子产品的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括读取标识模块，用于读取被测电子产品的标识；测试信息获取模块，用于根据所述读取标识模块所读取的所述标识，获取与该标识对应的测试信息，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的参数；测试数据获取模块，用于运行所述各条测试指令，并加载相应的参数至与各条测试指令相对应的程序代码中，获得与所述各条测试指令相对应的测试数据；判断模块，用于判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围，在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试通过，以及在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试不通过。
9.根据权利要求8所述测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括参数修改模块，用于在接收到对运行与所述各条测试指令相关的程序代码所需要的参数进行修改的命令后，根据接收到的所述命令对相应的参数进行修改。
10.根据权利要求8所述测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括检测执行模块，用于检测当前测试指令是否需要执行，如果否，则跳过所述当前测试指令继续判断下一条测试指令是否需要执行，如果是，则触发所述测试数据获取模块。
11.根据权利要求8所述测试装置，其特征在于，所述各条测试指令相互独立，所述测试指令中的参数包括功能模块选取参数以及测试参数，所述功能模块选取参数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试参数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值，所述测试数据获取模块具体包括第一运行单元，用于在所述当前测试指令需要执行的情况下，运行所述当前测试指令，并加载与所述当前测试指令相对应的功能模块选取参数至相对应的程序代码中，选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块；第二运行单元，用于在所述第一运行单元执行完毕后，加载与所述当前测试指令相对应的测试参数至所述某个功能模块中，获得与所述当前测试指令相对应的测试数据；获取单元，用于在所述第二运行单元执行完毕后，获取相对应的测试数据。
12.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述测试数据获取模块具体还包括处理单元，用于判断与所述各条测试指令相对应的测试结果的数值种类，在某一测试指令对应的测试结果的数值是小数的情况下，则将所述测试结果的数值乘以10的整倍数以转换成整数，并将转换后的整数作为所述某一测试指令相对应的测试数据，以及在任一测试指令相对应的测试结果的个数大于I的情况下，计算各个测试结果的平均值，并将所述平均值作为所述任一测试指令的测试数据。
13.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括暂停模块，用于在执行完当前测试步骤后，检测是否暂停测试步骤的运行，如果是，则 暂停测试步骤的运行并显示与所述当前测试指令相对应的测试数据以及相对应的标准数据范围，如果否，则继续运行后续的测试步骤；跳转模块，用于检测是否跳转到指定测试指令，如果是，则跳转到所述指定测试指令并执行，如果否，则继续执行后续的测试指令；和/或，保存模块，用于检测是否保存当前测试指令对应的测试数据，如果是，则保存，如果否，则不保存。
14.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括触发模块，用于在获得所述电子产品的测试通过或者不通过的结果后，触发所述读取标识模块读取下一个电子产品的标识；或，退出测试模块，用于接收退出所述电子产品测试的请求后退出测试。
15.—种电子产品的测试系统,其特征在于,包括扫描仪、上位机、继电器开关控制箱以及测试数据获取模块，其中所述扫描仪与所述上位机相连，所述上位机通过输入/输出接口与所述继电器开关控制箱相连，所述上位机通过串口分别与所述测试数据获取模块及所述电子产品相连，所述电子产品分别与所述测试数据获取模块及所述继电器开关控制箱相连；所述上位机根据所述扫描仪扫描所述电子产品的标识而获取测试信息，其中，所述测试信息包括至少一条用于测试所述电子产品的特定功能的测试指令、与各条测试指令相对应的标准数据范围以及运行与所述各条测试指令相对应的程序代码所需要的参数，所述参数包括功能模块选取参数以及测试参数，所述功能模块选取参数是用于选取被测电子产品中需要测试的某个功能模块的依据，所述测试参数是所述被测电子产品中各个功能模块在测试时需要的数值；所述上位机在运行某一条测试指令时，加载与所述某一条测试指令相对应的功能模块选取参数至相对应的程序代码中，产生控制命令；所述继电器开关控制箱根据所接收到所述控制命令选择所述电子产品中的相应的功能模块，所述上位机将与所述某一条测试指令相对应的测试参数通过所述测试数据获取模块发送至相应的功能模块中，获得与所述某一测试指令相对应的测试数据，所述测试数据获取模块从所述被测电子产品中获取与所述测试数据，并将所述测试数据发送至所述上位机，所述上位机将所述测试数据和相应的标准数据范围进行对比以获取对相应的功能模块测试是否通过的结果 。
全文摘要
一种电子产品的测试方法、装置及系统，该方法包括根据电子产品的标识获取测试信息；运行各条测试指令，并加载相应的参数至与各条测试指令相对应的程序代码中，获得与各条测试指令相对应的测试数据；判断所获得的各条测试数据是否符合各自相对应的标准数据范围；在所获得的各条测试数据都符合各自相对应的标准数据范围的情况下，判定所述电子产品的测试通过，在任一条测试数据不符合相对应的标准数据范围的情况下，判定电子产品的测试不通过。本发明实施例公开的测试方法在测试不同电子产品时，只需要修改测试信息中相应的参数即可，不需要研发多种测试方法就能完成整个测试过程，且简单实用。
文档编号G01R31/00GK102636704SQ20121005492
公开日2012年8月15日 申请日期2012年3月5日 优先权日2012年3月5日
发明者游开宗, 王德武, 米杰 申请人:深圳市英威腾电气股份有限公司