Led测试方法及系统的制作方法

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Led测试方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种方法及系统,特别是指一种用于测试LED的测试方法及系统。
【背景技术】
[0002] 市场上兜售的产品在进入市场之前,均会对其进行大量的测试,以保障产品的质 量。如,一 LED,在进入市场前,测试人员通过会将LED插接在一电路板上,然后根据LED闪 烁或正常亮灯的情况来认为的判断所述LED是否正常。然而,人为的判断使得测试结果往 往不够准确,且人为的判断效率低下,人力成本也极其高。

【发明内容】

[0003] 鉴于以上内容,有必要提供一种可方便测试LED的测试方法及系统。
[0004] 一种LED测试方法,包括以下步骤:连接一测试装置与一待测LED ;连接一感应器 至所述测试装置上;吸附所述感应器的一探测头至所述待测LED上;感应所述待测LED的 状态;根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常。
[0005] 进一步地,所述测试装置与所述待测LED通过一连接器连接。
[0006] 进一步地,所述感应器为一光敏感应器。
[0007] 进一步地,在步骤根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED 是否正常之后,还包括步骤:根据所述感应器感应到的待测LED的状态为闪烁时记录待测 LED闪烁的次数,并在记录到的待测LED闪烁的次数超过一预设闪烁次数值时分析出所述 待测LED不正常。
[0008] 进一步地,步骤根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是 否正常之后,还包括步骤:根据所述感应器感应到的待测LED的状态为常亮时分析出所述 待测LED正常,并在所述待测LED正常时记录所述待测LED的波长信息。
[0009] 一种LED测试系统,包括:一测试装置与一待测LED连接;一感应器与所述测试装 置连接;所述感应器的一探测头吸附至所述待测LED上;所述感应器感应所述待测LED的 状态;所述测试装置中的一分析模组根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述 待测LED是否正常。
[0010] 进一步地,所述测试装置与所述待测LED通过一连接器连接。
[0011] 进一步地,所述感应器为一光敏感应器。
[0012] 进一步地,所述测试装置中的一记录模组根据所述感应器感应到的待测LED的状 态为闪烁时记录待测LED闪烁的次数,所述分析模组在所述记录模组记录到的待测LED闪 烁的次数超过一预设闪烁次数值时分析出所述待测LED不正常。
[0013] 进一步地,所述分析模组根据所述感应器感应到的待测LED的状态为常亮时分析 出所述待测LED正常,所述记录模组在所述分析模组分析出所述待测LED正常时记录所述 待测LED的波长信息。
[0014] 相较于现有技术,在上述LED测试方法及LED测试系统中,所述感应器感应到所述 待测LED的状态后将其发送至测试装置的分析模组中,所述分析模组即可分析出所述待测 LED是否正常。这样,无需人工对待测LED进行判断,方便快捷又节约成本。
【附图说明】
[0015] 图1是本发明LED测试系统的一较佳实施方式的一结构示意图。
[0016] 图2是本发明LED测试方法的一较佳实施方式的一流程图。
[0017] 主要元件符号说明
【主权项】
1. 一种LED测试方法,包括以下步骤: 连接一测试装置与一待测LED ; 连接一感应器至所述测试装置上; 吸附所述感应器的一探测头至所述待测LED上; 感应所述待测LED的状态; 根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常。
2. 如权利要求1所述的LED测试方法,其特征在于:所述测试装置与所述待测LED通 过一连接器连接。
3. 如权利要求1所述的LED测试方法,其特征在于:所述感应器为一光敏感应器。
4. 如权利要求1所述的LED测试方法,其特征在于:在步骤根据所述感应器感应到的 待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常之后,还包括步骤:根据所述感应器感应到的 待测LED的状态为闪烁时记录待测LED闪烁的次数,并在记录到的待测LED闪烁的次数超 过一预设闪烁次数值时分析出所述待测LED不正常。
5. 如权利要求4所述的LED测试系统,其特征在于:步骤根据所述感应器感应到的待 测LED的状态来分析所述待测LED是否正常之后,还包括步骤:根据所述感应器感应到的待 测LED的状态为常亮时分析出所述待测LED正常,并在所述待测LED正常时记录所述待测 LED的波长信息。
6. 一种LED测试系统,包括: 一测试装置与一待测LED连接; 一感应器与所述测试装置连接; 所述感应器的一探测头吸附至所述待测LED上;所述感应器感应所述待测LED的状 态; 所述测试装置中的一分析模组根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述 待测LED是否正常。
7. 如权利要求6所述的LED测试系统,其特征在于:所述测试装置与所述待测LED通 过一连接器连接。
8. 如权利要求6所述的LED测试系统,其特征在于:所述感应器为一光敏感应器。
9. 如权利要求6所述的LED测试系统,其特征在于:所述测试装置中的一记录模组根 据所述感应器感应到的待测LED的状态为闪烁时记录待测LED闪烁的次数,所述分析模组 在所述记录模组记录到的待测LED闪烁的次数超过一预设闪烁次数值时分析出所述待测 LED不正常。
10. 如权利要求9所述的LED测试系统,其特征在于:所述分析模组根据所述感应器感 应到的待测LED的状态为常亮时分析出所述待测LED正常,所述记录模组在所述分析模组 分析出所述待测LED正常时记录所述待测LED的波长信息。
【专利摘要】一种LED测试方法,包括以下步骤:连接一测试装置与一待测LED;连接一感应器至所述测试装置上;吸附所述感应器的一探测头至所述待测LED上;感应所述待测LED的状态;根据所述感应器感应到的待测LED的状态来分析所述待测LED是否正常。本发明还进一步提供了一种LED测试系统。
【IPC分类】G01R31-26
【公开号】CN104678271
【申请号】CN201310624312
【发明人】谭笔徽
【申请人】鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2013年11月30日
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