专利名称：一种新型筒形磁场轴心测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种筒形磁场轴心测量装置，属于磁场检测装置领域。
背景技术：
筒形磁场在电真空器件的研制与使用中具有关键性作用，磁场分布对电子注的性能影响显著，随着微波频率的提高，要求磁场的磁轴与微波腔的几何轴同心度越高。因此需要一种能够高精度检验磁场磁轴和磁场几何轴同心度的一种测量与校正装置。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供了一种新型筒形磁场轴心测量 装置，能够测量判断磁场磁轴与几何轴心是否重合，为测量和校正提供便利。为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案
一种新型筒形磁场轴心测量装置，包括法兰盘、探头、探头夹具及连接件。法兰盘为T型，通过螺钉固定在筒形磁场外围的装置上，法兰盘中心有通孔，法兰盘面均匀分布有若干测量孔，测量孔分布在同一圆周上。法兰盘通孔内套装有连接件，连接件顶端安装有旋转把手和转盘，连接件中心有通孔，探头从连接件通孔中穿过。连接件下端一侧通过螺钉连接探头夹具的一端，探头夹具的另一端夹持从连接件通孔中贯穿的探头，使探头形成U型。探头向上对应测量孔。本发明一种新型筒形磁场轴心测量装置，测量探头可通过探头夹具在筒形磁场上下法兰面进行与法兰中心等距离的旋转，通过测量平面轴对称上两点的R向磁场强度的相对差来确定这两点间的轴心位置是否几何中心点与磁轴重合。通过测量正交轴上的四点磁场强度相对差值，可以判断磁场磁轴与几何中心是否重合，为磁轴校正提供依据，并可依此根据相应的公式进行判断以及校正复查。
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中
图I是本发明一种新型筒形磁场轴心测量装置的结构示意 图2是法兰盘的俯视示意 图3是探头夹具的结构示意图。
具体实施例方式以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1、2、3所示，一种新型筒形磁场轴心测量装置，包括法兰盘I、探头7、探头夹具6及连接件5。法兰盘I为T型，通过螺钉固定在筒形磁场外围的装置上，法兰盘I中心有通孔，法兰盘面均匀分布有若干测量孔3，测量孔3分布在同一圆周上。法兰盘通孔内套装有连接件5，连接件5顶端安装有旋转把手4和转盘，连接件5中心有通孔，探头7从连接件通孔中穿过。连接件5下端一侧通过螺钉连接探头夹具6的一端，探头夹具6的另一端夹持从连接件通孔中贯穿的探头7，使探头形成U型 ，探头向上对应测量孔3。测量时，转动连接件顶端的旋转把手4，带动连接件5转动，连接件5带动探头夹具6转动，由于探头以连接件轴心为轴转动，因此探头以一个固定半径在磁场中转动，从而可以测量各点的磁场强度，进而测量某两点间的轴心位置是否几何中心与磁轴重合。本发明一种新型筒形磁场轴心测量装置，测量探头可通过探头夹具在筒形磁场上下法兰面进行与法兰中心等距离的旋转，通过测量平面轴对称上两点的R向磁场强度的相对差来确定这两点间的轴心位置是否几何中心点与磁轴重合。通过测量正交轴上的四点磁场强度相对差值，可以判断磁场磁轴与几何中心是否重合，为磁轴校正提供依据，并可依此根据相应的公式进行判断以及校正复查。最后应说明的是以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种新型筒形磁场轴心测量装置，其特征在于包括法兰盘、探头、探头夹具及连接件， 法兰盘为T型，通过螺钉固定在筒形磁场外围的装置上，法兰盘中心有通孔，法兰盘面均匀分布有若干测量孔，测量孔在同一圆周上； 法兰盘通孔内套装有连接件，连接件顶端安装有旋转把手和转盘，连接件中心有通孔，探头从连接件通孔中穿过； 连接件下端一侧连接探头夹具的一端，探头夹具的另一端夹持从连接件通孔中贯穿的探头，使探头形成U型； 探头向上对应测量孔。
2.根据权利要求I所述的，其特征在于连接件下端与探头夹具通过螺钉固定。
全文摘要
本发明提供一种新型筒形磁场轴心测量装置，包括法兰盘、探头、探头夹具及连接件，法兰盘固定在筒形磁场外围装置上，法兰盘中心有通孔，法兰盘面均匀分布有测量孔，法兰盘通孔内套装有连接件，连接件顶端安装有旋转把手和转盘，探头从连接件中心通孔中穿过；连接件下端一侧连接探头夹具的一端，探头夹具的另一端夹持从连接件通孔中贯穿的探头，使探头形成U型；探头向上对应测量孔。本发明一种新型筒形磁场轴心测量装置，测量探头可通过探头夹具在筒形磁场上下法兰面进行与法兰中心等距离的旋转，通过测量平面轴对称上两点的R向磁场强度的相对差来确定这两点间的轴心位置是否几何中心点与磁轴重合，为磁轴校正提供依据。
文档编号G01B7/312GK102706272SQ20121017452
公开日2012年10月3日 申请日期2012年5月31日 优先权日2012年5月31日
发明者余川, 刘廷军, 卢朝政, 屈劲, 张生帅, 潘文武, 胡进光, 薛长江, 鲜海鹏 申请人:中国工程物理研究院应用电子学研究所