光源筛检方法
【专利摘要】本发明是有关于一种光源筛检方法，包含以下步骤：（A）接收受测光源的量测数据；（B）转换量测数据以判断受测光源的CIE座标是否落在与参考光源相同的预定区间内，若判断结果为“是”，则执行步骤（C）；（C）由量测数据呈现光谱曲线，并由量测数据转换呈现转换光谱曲线；（D）依转换光谱曲线分析光谱曲线的反曲点数量及对应的波长；（E）判断受测、参考光源的光谱曲线的反曲点数量是否相同，若判断结果为“是”，则执行步骤（F）；（F）判断受测、参考光源的光谱曲线相对应反曲点的波长差值是否在波长差值范围内，若判断结果为“是”，则判定两者为同色同类型光源。
【专利说明】光源筛检方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种筛检方法，特别是涉及一种光源筛检方法。
【背景技术】
[0002]一般光源分析常会使用 CIE (Commission International de I’Eclairage,国际照明委员会)1931座标(以下简称CIE座标)来定义光源呈现的颜色。CIE座标通常以(x，y)的形式表示，每一个特定座标(a，b)对应呈现一种特定的颜色，且邻近座标(a，b)的座标(a+Ax，b+Ay)所呈现的颜色类似座标(a，b)呈现的颜色。举例来说，纯白色的CIE座标为(0.33,0.33)，所以邻近Cl E座标(0.33,0.33)的座标呈现出来的颜色就会是接近纯白色的颜色。
[0003]此外，每一特定CIE座标(a，b)对应的颜色可由不同波长的光线混合而成，也就是说光谱组成不同的光源也可能呈现出相同(或类似)的颜色，并对应相同(或相近)的CIE座标，此为CIE座标的同色异谱(metamerism)特性。因此,若以CIE座标分析不同的光源，当上述光源发出相同(或类似)颜色的光线而具有相同(或相近)的CIE座标时，无法从此分析结果判断上述光源的光谱特性是否类似。
[0004]举例来说，白光LED封装体光源可通过LED晶粒配合适当的荧光粉(例如蓝光LED晶粒配合黄色荧光粉)混光而成。两个发光颜色相同的蓝光LED晶粒分别配合成分、比例不同的黄色荧光粉，可构成具有相同(或类似)发光颜色的白光LED封装体光源，但上述白光LED封装体光源的光谱特性会因使用的荧光粉不同而有所差异。因此，使用一般的CIE座标虽可分析、定义前述白光LED封装体光源的颜色，但从CIE座标无法分析上述白光LED封装体的光谱特性，也无法得知上述白光LED封装体是否使用相同的晶粒或荧光粉组成。也就是说，仅通过CIE座标分析法对不同光源进行分析、筛检，仍有应用上的局限性。
[0005]由此可见，上述现有的光源分析在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。因此如何能创设一种新型结构光源筛检方法，亦成为当前业界极需改进的目标。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于，克服现有的光源分析存在的缺陷，而提供一种新型结构的光源筛检方法，所要解决的技术问题是使其在于提供一种在多个光源中，辨识、筛检出同色同类型(发光颜色相同且光谱特性类似)的光源的筛检方法，非常适于实用。
[0007]本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种光源筛检方法，其中:该光源筛检方法包含以下步骤:(A)接收受测光源的量测数据，该量测数据包括多个波长资讯及多个分别对应所述波长资讯的光强度资讯；(B)转换该量测数据以判断该受测光源的CIE座标是否落在与参考光源相同的预定区间内，若判断结果为“是”，则执行步骤(C) ; (C)通过该多个波长资讯和该多个光强度资讯以呈现该受测光源的光谱曲线，并将该受测光源的该光谱曲线中的光强度资讯分别转换为多个相对应的光强度变化量资讯，由所述波长资讯与所述光强度变化量资讯对应呈现该受测光源的转换光谱曲线；(D)依据该转换光谱曲线分析该光谱曲线的反曲点数量及各反曲点对应的波长；(E)判断该受测光源与该参考光源各自的光谱曲线的反曲点数量是否相同，若判断结果为“是”，则执行步骤(F);及斤)判断所有该受测光源与该参考光源的光谱曲线相对应反曲点的波长差值是否在预定对应的波长差值范围内，若判断结果为“是”，则判定该受测光源与参考光源为同色同类型光源。
[0008]本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
[0009]前述的光源筛检方法，其特征在于:步骤(B)还包含下列步骤:利用CIE15-2004中的计算方法，将该量测数据转换为该CIE1931座标，以判断该受测光源是否落在与该参考光源相同的该预定区间内。
[0010]前述的光源筛检方法，其特征在于:若步骤(B)的判断结果为“否”，则判定该受测光源与该参考光源为异色光源。
[0011]前述的光源筛检方法，其特征在于:若该步骤(E)的判断结果为“否”，则判定该受测光源与该参考光源为同色相异类型光源。
[0012]前述的光源筛检方法，其特征在于:若该步骤(F)的判断结果为“否”，则判定该受测光源与该参考光源为同色相异类型光源。
[0013]前述的光源筛检方法，其特征在于:步骤(D)中该转换光谱曲线具有多个峰值点与多个谷值点，所述峰值点各对应峰值波长，所述谷值点各对应谷值波长，且所有的峰值波长或谷值波长皆为该受测光源的反曲点的波长。
[0014]本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种光源筛检方法，其中:该光源筛检方法包含以下步骤:通过CIE座标分析受测光源的CIE座标是否落在参考光源的预定区间内，以判别该受测光源与该参考光源是否具有相同或相近的发光颜色；及透过光谱曲线图分析该受测光源，以判别该受测光源与该参考光源是否具有相同或类似的光谱曲线。
[0015]本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
[0016]前述的光源筛检方法，其特征在于:该光谱曲线图分析更包含转换步骤，分别将该受测光源和该参考光源的光谱曲线转换为转换光谱曲线，通过该受测光源和该参考光源的转换光谱曲线以分析该光谱曲线的弯折差异。
[0017]前述的光源筛检方法，其特征在于:该光源筛检方法还包含计算步骤，通过计算各该光谱曲线的反曲点数量及对应各该反曲点的波长差值，来分析光谱曲线的弯折差异。
[0018]本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，本发明的主要技术内容如下:包含以下步骤:(A)接收受测光源的量测数据，该量测数据包括多个波长资讯及多个分别对应上述波长资讯的光强度资讯；(B)转换该量测数据以判断该受测光源的CIE座标是否落在与参考光源相同的预定区间内，若判断结果为“是”，则执行步骤(C) ; (C)通过该多个波长资讯和该多个光强度资讯以呈现该受测光源的光谱曲线，并将该受测光源的光谱曲线中的光强度资讯分别转换为多个相对应的光强度变化量资讯，由上述波长资讯与上述光强度变化量资讯对应呈现该受测光源的转换光谱曲线；(D)依据该转换光谱曲线分析该光谱曲线的反曲点数量及各反曲点对应的波长；(E)判断该受测光源与该参考光源各自的光谱曲线的反曲点数量是否相同，若判断结果为“是”，则执行步骤(F);及(F)判断所有该受测光源与该参考光源的光谱曲线相对应反曲点的波长差值是否在预定对应的波长差值范围内，若判断结果为“是”，则判定该受测光源与参考光源为同色同类型光源。进一步来说，本发明还提供一种光源筛检方法，该光源筛检方法包含以下步骤:通过CIE座标分析受测光源的CIE座标是否落在参考光源的预定区间内，以判别该受测光源与该参考光源是否具有相同或相近的发光颜色；及透过光谱曲线图分析该受测光源，以判别该受测光源与该参考光源是否具有相同或类似的光谱曲线。
[0019]借由上述技术方案，本发明光源筛检方法至少具有下列优点及有益效果:使用光谱曲线转换方法分析、比较该受测光源、该参考光源的相对应反曲点的特性，而判定两者为异色、同色相异类型或同色同类型光源。
[0020]通过本发明的光源筛检方法可分辨该受测光源与该参考光源是否为异色光源，并进一步判别该受测光源与该参考光源是否属于同色同类型的光源。实际应用上，可将已知荧光粉成分的LED封装体设定为该参考光源，并通过本发明光源筛选方法对未知荧光粉成分的LED封装体进行比对，即可筛检出与该参考光源同色同类型(突光粉、光谱曲线同类型)的LED封装体。另一方面，本发明光源筛检方法可对各种光源进行Cl E座标与光谱特性分析，因此可应用于LED封装体以外的光源分析与筛检，故确实能达成本发明的目的。
[0021]上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]图1是一流程图，说明本发明光源筛检方法的较佳实施例的执行步骤；
[0023]图2是一座标图，说明两种同色相异类型或同色同类型光源的多个LED封装体的CIE1931座标分布；
[0024]图3是两种同色相异类型光源的LED封装体的光谱曲线图；
[0025]图4是由图3进行数据转换后所得的转换光谱曲线图；
[0026]图5是说明光谱曲线与转换光谱曲线相对关系的示意图；
[0027]图6是两个同色同类型光源的LED封装体的光谱曲线图；及
[0028]图7是由图6进行数据转换后所得的转换光谱曲线图。
【具体实施方式】
[0029]为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的光源筛检方法其【具体实施方式】、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0030]本实施例使用光谱分析仪器量测LED封装体的光学特性而得到一笔量测数据(如表一)，该量测数据被储存于电脑中，以供后续进行的分析与筛选步骤。前述光谱分析仪器是使用一台积分球(integrating sphere)配合一台 LED 测试机(LED optical & electrictester)进行量测，但不以此为限。
[0031]参阅表一为对应一个LED封装体的量测数据(仅摘录部分数据作为代表)，该量测数据包括位于特定波长区间(wavelength interval)内的多个波长(wavelength)资讯以及多个分别对应上述波长资讯的光强度(Intensity)资讯。上述光强度资讯已经过正规化(normalization)处理，以便于多笔量测数据之间的比较分析，但上述光强度资讯也可以使用其原始数据进行分析而不作正规化处理，不限于此处公开的内容。
[0032]检测该LED封装体时，是将该光谱分析仪器的波长区间通过该电脑设定为380nm-780nm,且每隔特定波长间距(wavelength variation, Δ λ )例如Inm取光强度资讯。但要注意的是，该波长区间与该波长间距可根据需要而弹性设定，不限于此处公开的内容。
[0033]
【权利要求】
1.一种光源筛检方法，其特征在于:该光源筛检方法包含以下步骤: (A)接收受测光源的量测数据，该量测数据包括多个波长资讯及多个分别对应所述波长资讯的光强度资讯； (B)转换该量测数据以判断该受测光源的CIE座标是否落在与参考光源相同的预定区间内，若判断结果为“是”，则执行步骤(C)； (C)通过该多个波长资讯和该多个光强度资讯以呈现该受测光源的光谱曲线，并将该受测光源的该光谱曲线中的光强度资讯分别转换为多个相对应的光强度变化量资讯，由所述波长资讯与所述光强度变化量资讯对应呈现该受测光源的转换光谱曲线； (D)依据该转换光谱曲线分析该光谱曲线的反曲点数量及各反曲点对应的波长； (E)判断该受测光源与该参考光源各自的光谱曲线的反曲点数量是否相同，若判断结果为“是”，则执行步骤(F);及 (F)判断所有该受测光源与该参考光源的光谱曲线相对应反曲点的波长差值是否在预定对应的波长差值范围内，若判断结果为“是”，则判定该受测光源与参考光源为同色同类型光源。
2.根据权利要求1所述的光源筛检方法，其特征在于:步骤⑶还包含下列步骤:利用CIE15-2004中的计算方法，将该量测数据转换为该CIE1931座标，以判断该受测光源是否落在与该参考光源相同的该预定区间内。
3.根据权利要求1所述的光源筛检方法，其特征在于:若步骤(B)的判断结果为“否”，则判定该受测光源与该参考光源为异色光源。
4.根据权利要求1所述的光源筛检方法，其特征在于:若该步骤(E)的判断结果为“否”，则判定该受测光源与该参考光源为同色相异类型光源。
5.根据权利要求1所述的光源筛检方法，其特征在于:若该步骤(F)的判断结果为“否”，则判定该受测光源与该参考光源为同色相异类型光源。
6.根据权利要求1所述的光源筛检方法，其特征在于:步骤(D)中该转换光谱曲线具有多个峰值点与多个谷值点，所述峰值点各对应峰值波长，所述谷值点各对应谷值波长，且所有的峰值波长或谷值波长皆为该受测光源的反曲点的波长。
7.一种光源筛检方法，其特征在于:该光源筛检方法包含以下步骤: 通过CIE座标分析受测光源的CIE座标是否落在参考光源的预定区间内，以判别该受测光源与该参考光源是否具有相同或相近的发光颜色；及 透过光谱曲线图分析该受测光源，以判别该受测光源与该参考光源是否具有相同或类似的光谱曲线。
8.根据权利要求7所述的光源筛检方法，其特征在于:该光谱曲线图分析更包含转换步骤，分别将该受测光源和该参考光源的光谱曲线转换为转换光谱曲线，通过该受测光源和该参考光源的转换光谱曲线以分析该光谱曲线的弯折差异。
9.根据权利要求8所述的光源筛检方法，其特征在于:该光源筛检方法还包含计算步骤，通过计算各该光谱曲线的反曲点数量及对应各该反曲点的波长差值，来分析光谱曲线的弯折差异。
【文档编号】G01M11/02GK103543003SQ201210247469
【公开日】2014年1月29日 申请日期:2012年7月17日 优先权日:2012年7月17日
【发明者】鲁裕康 申请人:光宝电子(广州)有限公司, 光宝科技股份有限公司