专利名称：一种奇数齿或花键大径的测量方法及测量设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于測量待测量的奇数齿轮或花键大径的測量方法及其相应的測量设备。
背景技术：
三坐标即三坐标测量机，是指在三维可测的空间范围内，能够根据测头系统返回的点数据，通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸等測量能力的仪器，又称为三坐标测量仪或三坐标量床。现在各行业中对奇数齿轮大径的测量，由于无法使用通用量具如游标卡尺、外径千分尺等进行测量，一般需采用三座标测量，而三座标需在专门的场所，且测量效率低、成本较高，从而直接影响了现场的生产。
发明内容
鉴于上述现有技术存在的问题，提出了本发明。因此，本发明要解决的其中之一的技术问题是，如何对现有技术中测量奇数齿轮大径的方法进行改进，使其能够实现生产现场的快速測量。为解决上述技术问题，本发明提供了如下技术方案—种奇数齿或花键大径的測量方法，按照如下的计算公式进行测量其大径，即h值的
权利要求
1.一种奇数齿或花键大径的测量方法，其特征在于按照如下的计算公式进行测量其大径,即h值的 k r *tga .
2.如权利要求1所述的奇数齿或花键大径的测量方法，其特征在于测量h值必须满足以下两个基本条件 1)测量时两曲面相接触点必须有公法线； 2)静态下测量时必须满足力学上的静平衡条件即力平衡和力矩平衡。
3.一种依照如权利要求1所述的测量方法的测量设备，包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，其特征在于所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180° -360° /Z，其中，Z为奇数齿的齿数。
4.如权利要求3所述的测量设备，其特征在于所述主尺部件的刻度根据
5.如权利要求3所述的测量设备，其特征在于所述主尺部件为游标卡尺结构。
6.如权利要求5所述的测量设备，其特征在于所述游标卡尺结构为数显卡尺结构。
7.如权利要求3所述的测量设备，其特征在于所述主尺部件为外径千分尺结构。
8.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于所述外径千分尺结构为数显卡尺结构。
9.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于所述主尺部件的螺距根据
全文摘要
本发明公开了一种奇数齿或花键大径的测量方法及测量设备,该方法按照如下的计算公式进行测量其大径，即h值的其中，r为奇数齿或花键外廓圆的半径，α为180°/Z，Z为奇数齿的齿数；本发明能够解决各种规格奇数齿轮、花键的大径在生产现场的快速测量的问题，具有生产成本低、方便快捷等优点，极其适于生产应用。
文档编号G01B5/08GK103033115SQ20121057065
公开日2013年4月10日 申请日期2012年12月25日 优先权日2012年12月25日
发明者吴海艳, 王英惠 申请人:江苏森威集团飞达股份有限公司