专利名称：热继电器双金属片检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于机电设备制造领域，具体涉及一种热继电器双金属片检测装置。
背景技术：
·[0002]热继电器是由流入热元件的电流产生热量，使有不同膨胀系数的双金属片发生形变，当形变达到一定距离时，就推动连杆动作，使控制电路断开，从而使接触器失电，主电路断开，实现电动机的过载保护。具体地，现有的热继电器中通常包括若干并列的双金属片，该双金属片由两种不同热膨胀系数的金属片辗压而成，当电动机过载时，通过发热元件的电流超过整定电流，双金属片受热向上弯曲脱离扣板，使常闭触点断开。由于常闭触点是接在电动机的控制电路中的，它的断开会使得与其相接的接触器线圈断电，从而接触器主触点断开，电动机的主电路断电，实现了过载保护。热继电器作为电动机的过载保护元件，以其体积小，结构简单、成本低等优点在生产中得到了广泛应用。热继电器中通常包括一电流触头，其位移的大小可以用于表征通过热继电器的电流的强弱，位移越大，则代表通过热继电器的电流越大，位移越小，则代表通过热继电器的电流越小。现有的热继电器双金属片检测装置中，通常设置有拨杆，用于与该电流触头配合，以模拟一定电流强度的检测环境。但是，由于该电流触头的位置通常毗邻热继电器的侧壁处，拨杆在下降并与电流触头配合的过程中常常会抵触撞击到热继电器的侧壁，导致检测不能顺利完成。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种热继电器双金属片检测装置，其通过设置一至少部分倾斜部位置位于拨杆位置更下方的预拨杆，避免拨杆在下降与电流触头配合的过程中与热继电器的侧壁抵触碰撞。为实现上述实用新型目的，本实用新型提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，所述热继电器双金属片检测装置包括探针，所述探针用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，所述拨杆用于与热继电器中电流触头相配合；预拨杆，所述预拨杆包括一倾斜部，所述预拨杆至少部分的倾斜部位置相较于所述拨杆的位置位于更下方。作为本实用新型的进一步改进，当所述探针与热继电器双金属片配合时，所述拨杆在越远离热继电器双金属片检测装置的位置，则所述热继电器中电流触头位移越大。[0012]作为本实用新型的进一步改进，所述拨杆与所述预拨杆平行。作为本实用新型的进一步改进，所述拨杆位置可调。作为本实用新型的进一步改进，当所述探针与热继电器双金属片配合时，所述拨杆的轴心线与所述预拨杆的轴心线确定的平面与所述热继电器的一侧壁平行。 作为本实用新型的进一步改进，所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。作为本实用新型的进一步改进，所述位移传感器包括直线位移传感器。作为本实用新型的进一步改进，所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。与现有技术相比，本实用新型通过设置一至少部分倾斜部位置位于拨杆位置更下方的预拨杆，避免拨杆在下降与电流触头配合的过程中与热继电器的侧壁抵触碰撞，保证检测过程顺利完成。
图I是本实用新型一实施方式热继电器双金属片检测装置的结构示意图；图2是本实用新型一实施方式热继电器双金属片检测装置中拨杆的结构示意图；图3是本实用新型一实施方式热继电器双金属片检测装置中预拨杆的结构示意图。
具体实施方式
以下将结合附图所示的具体实施方式
对本实用新型进行详细描述。但这些实施方式并不限制本实用新型，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本实用新型的保护范围内。参图I至图3，介绍本实用新型热继电器双金属片检测装置100的一具体实施方式
，其用于检测热继电器双金属片的位置状态，这里所说的热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头。该热继电器双金属片检测装置100包括探针10、位移传感器20、显示装置、拨杆30、以及预拨杆40。探针10用于与热继电器中双金属片配合。位移传感器20与探针10电性连接，该位移传感器20通过探针10检测热继电器双金属片的位置状态。位移传感器20可以例如采用电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器20、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。在本实施方式中，由于仅需检测热继电器双金属片的直线位置方向上状态，所以采用直线位移传感器20，其可以把直线机械位移量转换成电信号。显示装置与位移传感器20电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值。显示装置可以包括显示仪表、和/或电子显示器。拨杆30用于与热继电器中电流触头相配合，作为优选的实施方式，该拨杆30的位置可调，用于模拟不同电流强度的检测环境。在本实施方式中，探针10、位移传感器20、显示装置、以及拨杆30实质上都位于一可上下运动的基体50上。当热继电器被移送至一预定位置时，该基体50向下运动，拨杆30与热继电器中的电流触头配合，使得电路触头产生一定位移，以模拟一电流强度的检测环境；探针10与热继电器双金属片配合接触，并通过与其电性连接的位移传感器20检测出相应热继电器双金属片的位置状态，并在相应的显示装置上表征出来。同时，调节拨杆30朝越远离热继电器双金属片检测装置100的位置，则热继电器中电流触头位移越大，相应地模拟出更大的电流强度的检测环境，以提高检测结果的可靠性。在检测过程中，为了防止拨杆30抵触撞击到热继电器侧壁上，本实用新型的热继电器双金属片检测装置100设置有预拨杆40，其包括有一倾斜部41。该预拨杆40的至少部分倾斜部41的位置相较于拨杆30的位置位于更下方。该预拨杆40与拨杆30平行，并且拨杆30的轴心线与预拨杆40的轴心线确定的平面与热继电器的一侧壁平行。其可以通过倾斜部41引导预拨杆40本身插入热继电器的腔体内，这样，就保证了与其平行的拨杆30也可以顺利地插入热继电器的腔体内，并与电流触头相配合。本实用新型的热继电器双金属片检测装置100通过设置一至少部分倾斜部41位置位于拨杆30位置更下方的预拨杆40，避免拨杆30在下降与电流触头配合的过程中与热继电器的侧壁抵触碰撞，保证检测过程顺利完成。应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施方式中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本实用新型的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本实用新型的保护范围，凡未脱离本实用新型技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括探针，所述探针用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，所述拨杆用于与热继电器中电流触头相配合；预拨杆，所述预拨杆包括一倾斜部，所述预拨杆至少部分的倾斜部位置相较于所述拨杆的位置位于更下方。
2.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，当所述探针与热继电器双金属片配合时，所述拨杆在越远离热继电器双金属片检测装置的位置，则所述热继电器中电流触头位移越大。
3.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述拨杆与所述预拨杆平行。
4.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述拨杆位置可调。
5.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，当所述探针与热继电器双金属片配合时，所述拨杆的轴心线与所述预拨杆的轴心线确定的平面与所述热继电器的一侧壁平行。
6.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。
7.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括直线位移传感器。
8.根据权利要求I所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。
专利摘要本实用新型提供一种热继电器双金属片检测装置，其包括探针，其用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，其与探针电性连接，其通过探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，其与所述位移传感器电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，用于与热继电器中电流触头相配合，该拨杆位置可调；预拨杆，其包括一倾斜部，该预拨杆至少部分的倾斜部位置相较于所述拨杆的位置位于更下方。本实用新型热继电器双金属片检测装置通过设置一至少部分倾斜部位置位于拨杆位置更下方的预拨杆，避免拨杆在下降与电流触头配合的过程中与热继电器的侧壁抵触碰撞，保证检测过程顺利完成。
文档编号G01B21/00GK202734777SQ20122028278
公开日2013年2月13日 申请日期2012年6月15日 优先权日2012年6月15日
发明者沈皓然 申请人:苏州工业园区高登威科技有限公司