专利名称：一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及大功率电芯测试装置领域，具体为一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路。
背景技术：
在大功率电芯测试设备充放电过程中电流往往达到60A以上，如果用单一的功率控制模块控制电流输出不是一件容易的事情。为了解决这一问题，目前的做法是用若干个低输出电流模块共同工作，从而达到所需要的电流。由于电芯充放电的要求需要对功率电源进行极性切换，切换电路如图2所示。根据图2容易得到电流模块并联的等效图3，由图3可以看出，当电流从电芯的负端出来后经过开关MOS管SI和SI’回到电源负端，但是从图可以看出SI与SI’等同于短接，所以经过SI与SI’的电流有可能一个很大，而另一个 很小的情况。这种方法的局限性有两点(I)功率模块并联电路不是均流；(2)由于电路回路不是均流，某支路可能出现较大电流，容易造成器件的损坏，所以系统可靠性较低。
实用新型内容本实用新型目的是提供一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路，以解决现有技术电芯测试装置中存在功率模块并联电路不均流的问题。为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案为一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路，包括有控制模块MCU、多个并接入控制模块MCU的功率模块，每个功率模块分别采用开关MOS管，多个开关MOS管的栅极并接入控制模块MCU，多个开关MOS管的源极共接入一个电池的正极，多个开关MOS管的漏极共接入一个功率电源的正极，其特征在于功率电源的负极通过多个相互并联的带温度探针的DC/DC电源模块接入电池的负极，多个DC/DC电源模块的温度探针分别一一对应接触多个开关MOS管。本实用新型由低电流输出的功率模块并联得到所需的大电流，利用多个彼此并联的DC/DC电源模块串联到各功率模块中，采样功率模块内的开关MOS管温度，根据温度调节支流大小，保证各支路均流。本实用新型利用小电流输出的功率模块并联得到相应的大电流。电流从功率电源正端由功率模块控制得到电流大小一样的支流输出，电流在大功率设备输出正端并联起来进入电芯正极流向电芯负极，从负极出来后经过各支路的开关MOS管，再经过相应的DC/DC电源模块，然后回到功率电源负端。当某个支路的开关MOS管通的电流增大时，开关MOS管的温度将会上升，那么DC/DC电源模块得到的采样温度则会增大，因此DC/DC电源模块控制其输出电流变小，使通过开关MOS管的电流变小，如果当某个支路的开关MOS管通过的电流变小时，开关MOS管的温度将会下降，那么DC/DC电源模块得到的采样温度则会减小，因此DC/DC电源模块控制其输出电流变大，使通过开关MOS管的电流变大。这样并联电路通过DC/DC电源模块的调节可以实现各支路均流。本实用新型电路简单，实用，各模块独立，避免了电流并联情况下的电流不均对半导体器件的损坏，提高了并联的可靠性和稳定性。
图I为本实用新型的电路示意图。图2为充放电切换的电路示意图。图3为充放电并联等效电路示意图。
具体实施方式
如图I所示。一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路，包括有控制模块MCU、两个并接入控制模块MCU的功率模块，一个功率模块采用开关MOS管Ql，另一个功率模块分别采用开关MOS管Q2，两个开关MOS管Ql、Q2的栅极并接入控制模块MCU，两个开关MOS管的源极共接入一个电池Battery的正极，两个开关MOS管Ql、Q2的漏极共接入一个功率电源的正极，功率电源的负极通过两个相互并联的带温度探针的DC/DC电源模块接入电池Battery的负极，两个DC/DC电源模块的温度探针分别一一对应接触开关MOS管。本实用新型由两个功率模块并联而成，由开关MOS管Ql与Q2控制支路电流，并联后的电流经过电芯，从电芯出来的电流又分流到各并联支路，由DC/DC电源模块采样开关MOS管的温度，然后根据温度的大小调节支路的电流。
权利要求1. 一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路，包括有控制模块MCU、多个并接入控制模 块MCU的功率模块，每个功率模块分别采用开关MOS管，多个开关MOS管的栅极并接入控制模块MCU，多个开关MOS管的源极共接入一个电池的正极，多个开关MOS管的漏极共接入一个功率电源的正极，其特征在于功率电源的负极通过多个相互并联的带温度探针的DC/DC电源模块接入电池的负极，多个DC/DC电源模块的温度探针分别一一对应接触多个开关MOS管。
专利摘要本实用新型公开了一种应用于大功率电芯测试设备的主动并联电路，包括有控制模块MCU、多个并接入控制模块MCU的功率模块，每个功率模块分别采用开关MOS管，开关MOS管的源极共接入电池的正极，漏极共接入功率电源的正极，功率电源的负极通过多个相互并联的带温度探针的DC/DC电源模块接入电池的负极，DC/DC电源模块的温度探针探测开关MOS管。本实用新型电路简单，实用，各模块独立，避免了电流并联情况下的电流不均对半导体器件的损坏，提高了并联的可靠性和稳定性。
文档编号G01R31/00GK202735428SQ201220305348
公开日2013年2月13日 申请日期2012年6月27日 优先权日2012年6月27日
发明者汤酉元 申请人:安徽省临泉县嘉柏列科技有限公司