专利名称：一种快速测量pcb阻抗测试装置的制作方法
技术领域：
—种快速测量PCB阻抗测试装置
技术领域：
本实用新型涉及PCB阻抗测试领域，特别是涉及一种快速测量PCB阻抗测试装置。背景技术：
阻抗测试是PCB行内中常见的一种功能性测试，行业中一般采用阻抗测试仪对其进行测量，阻抗测试装置包括数据处理中心、TRD时域反射仪、连接电缆、测试探头等部件。一般的阻抗板会在板边或板中间预留专用测试Coupon来等效板内转输线，以往的阻抗测试是由电缆连接TRD时域反射仪与测试探头，测试探头与PCB中的Coupon的信号与参照触点分别相连进行测量。有一种实际传输线即为测试Coupon的PCB产品，并在极小的尺寸内存在大量有阻抗要求的传输线。如按传统的测试方法用探头逐个测试，不仅生产效率极其低下，而且因测试探针的尖头频繁接触会对其产生压伤、静电等不良影响。
发明内容本实用新型旨在解决上述问题而提供一种安全可靠，测量准确的可快速测量PCB阻抗测试装置。为实现上述目的，本实用新型提供了一种可快速测量PCB阻抗测试装置，该测试装置包括数据处理中心、TRD时域反射仪、连接电缆、SSR继电转换中心及测试插座，所述数据处理中心连接TRD时域反射仪，该TRD时域反射仪与SSR继电转换中心连接，该SSR继电转换中心设有继电器，该继电器与所述测试插座相连接。所述TRD时域反射仪设有电缆插口，所述SSR继电转换中心设有电缆插口，所述连接电缆通过电缆插口与TRD时域反射仪上电缆插口相连接。
所述测试插座设有弹性触头。本实用新型通过测试插座的弹性触头与测试Coupon端点接触,SSR继电转换中心对测试端口的变换，以实现多台TRD时域反射仪同时测试与测试对象变换，达到快速阻抗测试的目的。与以往的阻抗测试装置相比，本实用新型极大的提高了生产效率与测试精度，减少了因阻抗测试造成的板面压伤。
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式下列实施例是对本实用新型的进一步解释和说明，对本实用新型不构成任何限制。如图1所示，本实用新型快速测量PCB阻抗测试装置包括数据处理中心1、TRD时域反射仪2、连接电缆3、SSR继电转换中心4及测试插座5。所述数据处理中心I是一台电脑，所述数据处理中心I连接TRD时域反射仪2，该TRD时域反射仪2设有电缆插口 201，所述SSR继电转换中心4设有电缆插口 402，所述连接电缆3通过SSR继电转换中心4上电缆插口 402与TRD时域反射仪2上电缆插口 201相连接。所述SSR继电转换中心4还设有继电器401，通过继电器401使SSR继电转换中心4与所述测试插座5相连接。如图1所示，所述测试插座5设有弹性触头，这些弹性触头接触点与待测PCB连接通过弹性触点将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换中心4的输入控制电路变换即可将测试端口间的变换，如此可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量。如图1所示,在本实施例中，待测试PCB有4组差分测试Coupon,每个测试Coupon包括4根连接线，所以在SSR继电转换中心4中采用了 16个固态SSR继电器来控制他们之间的通断，固态继电器401的输入控制信号同时加载在差分测试Coupon的4根连接线上，实现它们按每组4根连接线的同时通与断。尽管通过以上实施例对本实用新型进行了揭示，但本实用新型的保护范围并不局限于此，在不偏离本实用新型构思的条件下，对以上各构件所做的变形、替换等均将落入本实用新型的权利要求范围内。
权利要求1.种快速测量PCB阻抗测试装置，其特征在于，该测试装置包括数据处理中心(I)、TRD时域反射仪(2 )、连接电缆(3 )、SSR继电转换中心(4 )及测试插座(5 )，所述数据处理中心(I)连接TRD时域反射仪(2)，该TRD时域反射仪(2)与SSR继电转换中心(4)连接，该SSR继电转换中心(4 )设有继电器(401)，该继电器(401)与所述测试插座(5 )相连接。
2.权利要求1所述的快速测量PCB阻抗测试装置，其特征在于，所述TRD时域反射仪(2 )设有电缆插口( 201)，所述SSR继电转换中心(4 )设有电缆插口( 402 )，所述连接电缆(3)通过电缆插口(402)与TRD时域反射仪(2)上电缆插口(201)相连接。
3.权利要求1所述的快速测量PCB阻抗测试装置，其特征在于，所述测试插座(5)设有弹性触头。
专利摘要一种快速测量PCB阻抗测试装置包括数据处理中心、TRD时域反射仪、连接电缆、SSR继电转换中心及测试插座，所述数据处理中心连接TRD时域反射仪，该TRD时域反射仪与SSR继电转换中心连接，该SSR继电转换中心设有继电器，该继电器与所述测试插座相连接。本实用新型通过测试插座的弹性触头与测试Coupon端点接触，SSR继电转换中心对测试端口的变换，以实现多台TRD时域反射仪同时测试与测试对象变换，达到快速阻抗测试的目的，不仅极大的提高生产效率，而且改善了由测试探头产生的不良影响。
文档编号G01R27/04GK202929115SQ20122064470
公开日2013年5月8日 申请日期2012年11月29日 优先权日2012年11月29日
发明者彭江义 申请人:卓穗电子科技(深圳)有限公司