低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室、低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。所要解决的技术问题是低频和高频不能同时测试。
【专利说明】低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统。
【背景技术】
[0002]随着计算机、程控仪器、数字信号处理的发展，电磁兼容自动测试技术得到显著的发展，使电磁兼容测试工作的效率和精度都得到很大的提高。但由于仪器厂家众多，电磁兼容测试项目繁杂，得到的测试数据通常需要进一步的处理才能符合实际测试项目的需求。因此对具体测试项目开发相关的自动测试软件，以及对测试数据进一步的分析和处理并将其加入自动测试软件中成为现阶段电磁兼容侧试工作的重要方向。而目前，电磁主要有低频和高频两种，但现在还不能进行同时测试。
【发明内容】
[0003]为克服上述技术问题，本发明提供了一种低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统。
[0004]克服上述技术问题的技术手段是:低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室，还包括低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。
[0005]本发明的有益效果是:由于设置了低频测试系统和高频测试系统，当低频测量天线接收到信号时，通过低频预放、滤波器组、接收机处理后即可进入到第一控制计算机内，当高频测量天线接收到信号时，通过、高频预放、高通滤波器、频谱仪处理则能进入到第二控制计算机内，从而实现了低频和高频的同时测试，这样，不仅降低了成本，而且提高了效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1为本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0007]下面结合附图和【具体实施方式】对本发明进行进一步详细说明。
[0008]如图1所示，低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室1、低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线21、低频射频切换开关22、低频预放、滤波器组24、接收机25和第一控制计算机26 ;高频测试系统包括依次连接的高频测量天线31、高频射频切换开关32、高频预放、高通滤波器34、频谱仪35和第二控制计算机36 ;其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。
[0009]本发明的有益效果是:由于设置了低频测试系统和高频测试系统，当低频测量天线接收到信号时，通过低频预放、滤波器组、接收机处理后即可进入到第一控制计算机内，当高频测量天线接收到信号时，通过、高频预放、高通滤波器、频谱仪处理则能进入到第二控制计算机内，从而实现了低频和高频的同时测试，这样，不仅降低了成本，而且提高了效率。
【权利要求】
1.低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室，其特征在于:还包括低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。
【文档编号】G01R31/00GK104007334SQ201310068709
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2013年2月25日 优先权日:2013年2月25日
【发明者】张博钧, 杨子安, 曹珺飞, 张运转, 马守健 申请人:深圳电信研究院