自动测试设备的量测装置及方法
【专利摘要】本发明关于一种自动测试设备的量测装置及方法，其中量测装置包含：多个接脚参数量测单元，每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚，以产生一量测讯号；一模拟数字转换器，用以将量测讯号转换为一读值讯号；以及一控制单元，电性连接于模拟数字转换器，用以选择该多个接脚参数量测单元之一，并控制模拟数字转换器进行转换以接收读值讯号。如此，本发明可快速量测多个待测接脚，并进而达到缩短测试时间的目的。
【专利说明】自动测试设备的量测装置及方法
【技术领域】
[0001] 本发明是有关于一种量测装置及方法，其尤指一种自动测试设备的量测装置及方 法。
【背景技术】
[0002] 在所有电子器件（Device)的制造过程中，都存在着去伪存真的需要，这种需要实 际上就是一个测试过程。实现这种过程需要各种测试设备，这类设备就是所谓的自动测试 设备（Automatic Test Equipment,ATE)。而在自动测试领域中，如何缩短测试时间一直是 非常重要的课题，测试时间缩短即代表产品的成本降低。
[0003] 请参阅图1，其为习知技术的自动测试设备的电路图。如图所示，习知自动测试设 备包含有多个测试通道〇11、012-0111-1、0111，该多个测试通道011、012-0111-1、0111连接 于一参数量测单兀（Parametric Measurement Unit，PMU)，且每一测试通道包含一接脚参 数量测单兀（Per Pin Parametric Measurement Unit，PPMU)。参数量测单兀PMU用以提 供精准的四象限量测（VFM、IFVM、VMM)，但缺点是数量少，通常64个测试通道只能分配到 一个参数量测单元PMU，使参数量测单元PMU轮流对待测物的多个待测接脚ΡΙΝΙ、PIN2… ΡΙΝη-1、ΡΙΝη进行量测，因此会花费过多的时间。而该多个接脚参数量测单元PPMU可同时 分别量测该多个待测接脚CHI、CH2?CHn-l、CHn，但只能将所量测到的量测讯号MS输出至 一比较器，而比较量测讯号MS做通过/不通过（G0/N0-G0)量测，也就是说，该多个接脚参 数量测单元PPMU仅能用以测试每一个测试通道中的待测物是否可以使用，而无法读出实 际测试值，所以也较不精准，因此参数量测单元PMU与接脚参数量测单元PPMU各有优缺点。
[0004] 由上述可知，参数量测单元PMU可提供精准的四象限量测，但参数量测单元PMU数 量少，量测时间过长，该多个接脚参数量测单元PPMU可同时量测每一测试信道，量测速度 快，但只能提供通过/不通过的粗略量测。故，运用习知自动测试设备并无法达到既精准且 速度快的量测方式。
[0005] 再者，通常自动测试设备量测测试通道时，是由一主机透过一总线下达量测指令 至自动测试设备，当需要量测多个测试通道或需要同时量测待测物的不同组件时，主机在 测试每一测试通道前皆必须下达全部关闭的指令，接着再下达开启的指令以开启需量测的 测试通道，因此量测越多测试信道或组件则必须下达越多量测指令，所以，上述软件控制的 方式于量测许多测试信道或组件时，会有量测速度过慢的问题，且上述方式会占用总线过 多的资源。
[0006] 此外，由于参数量测单元PMU的成本较高，因此若增加参数量测单元PMU的数量， 即会增加整体自动量测设备的成本。 因此，本发明针对上述问题提供了一种利用控制单元依序选择多个接脚量测单元，使 该多个接脚参数量测单元依序量测多个待测接脚，如此，本发明利用控制单元的硬件电路 量测而达到快速量测该多个待测接脚的自动测试设备的量测装置及方法。
【发明内容】
[0007] 本发明的一目的，在于提供一种自动测试设备的量测装置与方法，其藉由一控制 单元的硬件电路而依序选择多个接脚参数量测单元，使该多个接脚参数量测单元依序量测 多个待测接脚，以快速量测该多个待测接脚，进而达到缩短测试时间的目的。
[0008] 为了达到上述所指称的各目的与功效，本发明揭示了一种自动测试设备的量测装 置，其包含多个接脚量测单元、一模拟数字转换器与一控制单元。该多个接脚参数量测单元 中的每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚，以产生一量测讯号，模拟数字转换器用 以将量测讯号转换为一读值讯号，控制单元电性连接于模拟数字转换器，用以选择该多个 接脚参数量测单元之一，并控制模拟数字转换器进行转换以接收读值讯号。如此，本发明藉 由控制单元依序选择该多个接脚参数量测单元，使该多个接脚参数量测单元依序量测多个 待测接脚，以快速量测该多个待测接脚，进而达到缩短测试时间的目的。
[0009] 本发明更揭示了一种自动测试设备的量测方法，应用于一量测装置电性连接自动 测试设备的多个接脚参数量测单元，量测方法的步骤包含：依据一选择讯号选择该多个接 脚参数量测单元之一；驱使所选择的接脚参数量测单元量测对应的一待测接脚，以产生一 量测讯号；以及将所选择的接脚参数量测单元输出的量测讯号转换为一读值讯号。
[0010] 实施本发明产生的有益效果是：本发明藉由在多个接脚参数量测单元的输出端连 接一模拟数字转换器，以将该多个接脚参数量测单元输出的量测讯号转换为读值讯号，并 藉由一控制单元依序选择需量测的该多个接脚参数量测单元之一，以达到快速且精准的量 测多个待测接脚的目的。
【专利附图】
【附图说明】
[0011] 图1 :其为习知技术的自动测试设备的电路图；
[0012] 图2 :其为本发明的第一实施例的自动测试设备的量测装置的电路图；
[0013] 图3 :其为本发明的第一实施例的自动测试设备的量测装置的示意图；
[0014] 图4 :其为本发明的控制单元的方块图；
[0015] 图5 :其为本发明的校正电路的电路图；
[0016] 图6 :其为本发明的校正记忆电路的方块图；
[0017] 图7 :其为本发明的第二实施例的自动测试设备的量测装置的示意图；
[0018] 图8 :其为本发明的自动测试设备的量测方法的流程图；以及
[0019] 图9 :其为本发明的自动测试设备的量测方法的状态图。 【图号对照说明】
[0020] 10 模拟数字转换器 20 控制单元 21 查表单元 23 选择控制单元 25 校正记忆电路 251 第一正反器 252 选择器 253 第二正反器 254 增益记忆单元 255 补偿记忆单元 256 第三正反器 257 第四正反器 27 校正电路 271 乘法器 273 加法器 29 储存单元 40 主机 60 选择单元 CH1 测试通道 CH2 测试通道 CHn-Ι 测试通道 CHn 测试通道 Gain 增益参数 MS 量测讯号 Offset 补偿参数 ΡΙΝΙ 待测接脚 ΡΙΝ2 待测接脚 ΡΙΝη-1 待测接脚 ΡΙΝη 待测接脚 PMU 参数量测单元 PPMU 接脚参数量测单元 R_add 读取地址 S_add 储存地址 RWD 读写讯号 SP 选择参数 SS 选择讯号 VAL 读值讯号 VAL' 实际读值讯号
【具体实施方式】
[0021] 为了使本发明的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，特用较佳的 实施例及配合详细的说明，说明如下：
[0022] 首先，请参阅图2,其为本发明的第一实施例的自动测试设备的量测装置的电路 图。如图所示，本发明的量测装置包含多个接脚参数量测单元PPMU、一模拟数字转换器10 以及一控制单元20。该多个接脚参数量测单元PPMU分别设置于多个测试通道CHI、CH2··· CHn-l、CHn，并分别连接待测物的待测接脚PINUPIN2…PINn-l、PINn，而量测该多个待测接 脚PINUPIN2…PINn-l、PINn以分别产生一量测讯号MS，其中该多个待测接脚PINUPIN2... PINn-l、PINn可为同一待测物的接脚或分别为多个待测物的接脚。模拟数字转换器10连接 于该多个接脚参数量测单元PPMU的输出端，并用以将量测讯号MS转换为一读值讯号VAL。 控制单元20电性连接于模拟数字转换器10,并传送一选择讯号SS至该多个接脚参数量测 单元PPMU，以选择该多个接脚参数量测单元PPMU之一，以所选择的接脚参数量测单元PPMU 对其所对应的待测接脚（PIN1、PIN2…PINn-l、PINn之一）进行量测，并模拟数字转换器10 对接脚参数量测单元PPMU输出的量测讯号MS转换为读值讯号VAL。
[0023] 基于上述，由于本发明利用控制单元20的硬件电路依序选择该多个接脚参数量 测单元PPMU，使该多个接脚参数量测单元PPMU依序量测该多个测试通道CH1 ΧΗ2···(?η-1、 CHn的待测接脚，以快速量测该多个测试通道CHI、CH2…CHn-1、CHn的待测物，进而达到缩 短测试时间的目的。
[0024] -般在量测装置Tester与主机40之间有总线BUS作为两者间的通讯传输，然而， 总线BUS的通讯时间会随主机40的中央处理器CPU的负载而变化，所以，若使用软件进行 量测则有可能进一步影响量测结果。再者，由于无法确定待测端的硬设备为何，最好的方法 即是完全由控制单元20的硬件电路本身控制整个量测程序，而可以确保量测结果不受主 机40总线BUS通讯时间的快慢影响。
[0025] 另外，本发明使用控制单元20的硬件电路控制量测程序的另一个好处是不占主 机40的资源，在模拟数字转换器10量测的期间，软件仍可透过主机40与总线BUS同时对 其他组件进行设定，例如存取内存或对温度或电压进行侦测等行为，进而可缩短测试与设 定的时间。
[0026] 此外，控制单元20更可对读值讯号VAL进行校正后产生一实际读值讯号VAL'，以 供一主机40读取。
[0027] 请一并参阅图3,其为本发明的第一实施例的自动测试设备的量测装置的示意图。 如图所示，本发明的模拟数字转换器10可同时连接任意数量的接脚参数量测单元PPMU。 控制单元20连接于该多个接脚参数量测单元PPMU，并输出选择讯号SS至所选择的接脚 参数量测单元PPMU，用以使所选择的接脚参数量测单元PPMU量测对应的待测接脚（ΡΙΝΙ、 ΡΙΝ2…ΡΙΝη-1、ΡΙΝη之一）而产生量测讯号MS，并传送量测讯号MS至模拟数字转换器10 以进行转换。
[0028] 以64个测试通道为例，一个模拟数字转换器负责16个测试通道的量测，第一个模 拟数字转换器负责测试信道CH1-CH16,第二个模拟数字转换器负责测试信道CH17-CH32， 第三个模拟数字转换器负责测试信道CH33-CH48,第四个模拟数字转换器负责测试信道 CH49-CH64,而第一个模拟数字转换器对应的控制单元设定为量测测试通道CH1、3、5,第二 个模拟数字转换器对应的控制单元设定为量测测试通道〇119、25、27，第三个模拟数字转换 器对应的控制单元设定为量测测试通道〇135、40、44，第四个模拟数字转换器对应的控制单 元设定为量测测试通道CH49、52、64时，于第一量测时间，第一个模拟数字转换器量测测试 信道CH1，第二个模拟数字转换器量测测试信道CH19,第三个模拟数字转换器量测测试信 道CH35,第四个模拟数字转换器量测测试信道CH49,而第二、三量测时间则以此类推。
[0029] 由上述可知，上述架构可同时量测4个测试通道，以增加自动测试设备量测的速 度。然而，本发明并不限定于上述的测试信道数量或模拟数字转换器数量。例如，多个测试 通道可由1至η个模拟数字转换器负责进行量测，η为该多个测试通道的总数。
[0030] 请一并参阅图4,其为本发明的控制单元的方块图。如图所示，控制单元20包含 一查表单元21、一选择控制单元23、一校正记忆电路25以及一校正电路27。查表单元21 储存多个选择参数SP，该多个选择参数SP对应于该多个接脚参数量测单元PPMU。选择控 制单元23电性连接于查表单元21，并依据该多个选择参数SP产生一选择讯号SS，选择讯 号SS用以选择该多个接脚参数量测单元PPMU之一，并使所选择的接脚参数量测单元PPMU 量测对应的待测接脚（PINUPIN2…ΡΙΝη-1、ΡΙΝη之一），而此选择讯号SS可视为一致能讯 号，用以致能所选择的接脚参数量测单元PPMU。
[0031] 校正记忆电路25电性连接于查表单元21，并用以储存多个增益参数Gain与多个 补偿参数Offset,该多个增益参数Gain与该多个补偿参数Offset对应该多个选择参数 SP，也就是说，每一个测试通道包含多个量测范围，而每一个量测范围皆具有一个增益参数 Gain与一个补偿参数Offse，其中量测范围的数量决定于接脚参数量测单元PPMU的规格。
[0032] 查表单元21依据主机40输出的一读写讯号RWD产生一读取地址R_add，读取地址 R_add对应选择讯号SS所选择的接脚参数量测单元PPMU,且校正记忆电路25依据读取地 址R_add输出对应所选择的接脚参数量测单元PPMU的增益参数Gain与补偿参数Offset。 校正电路27电性连接于校正记忆电路25与模拟数字转换器10,且校正电路27使用校正记 忆电路25输出的增益参数Gain与补偿参数Offset校正读值讯号VAL，并输出校正后的实 际读值讯号VAL'至主机40。
[0033] 例如，当查表单元21储存对应测试通道CH1、CH10与CH16的该多个接脚参数量测 单元PPMU的选择参数SP时，选择控制单元23依据该多个选择参数SP而依序传送对应测 试通道CHI、CH10与CH16的该多个接脚参数量测单元PPMU的选择讯号SS，使该多个接脚 参数量测单元PPMU依序分别量测待测接脚ΡΙΝΙ、PIN10与PIN16,当测试通道CH1的量测 单元PPMU量测待测接脚ΡΙΝΙ而产生读值讯号VAL时，校正记忆电路25依据此时的读取地 址R_add输出对应测试信道CH1的增益参数Gain与补偿参数Offset至校正电路27,使校 正电路27使用此增益参数Gain与补偿参数Offset校正此时的读值讯号VAL，接着依序执 行测试通道CH10与CH16的量测，而量测方式则以此列推，不再赘述。
[0034] 此外，于此实施例中，控制单元20更包含一储存单元29,用于接收并储存校正后 的实际读值讯号VAL'，以供主机40读取。
[0035] 另外，若于量测前需储存增益参数Gain与补偿参数Off set于校正记忆电路25中 时，校正记忆电路25依据读写讯号RWD判断为储存状态，因此校正记忆电路25依据一储存 地址S_add将此时主机40传送而来的增益参数Gain与补偿参数Offset储存至对应的地 址。其中，储存地址S_add是由主机40产生。例如，当主机40传送储存状态的读写讯号 RWD至查表单元21与校正记忆电路25,且主机40亦依序传送对应测试通道CHI、CH10与 CH16的储存地址S_add至校正记忆电路25时，校正记忆电路25依据对应储存状态的读写 讯号RWD而转为储存状态，且当对应测试信道CH1的储存地址S_add传送至校正记忆电路 25时，校正记忆电路25将此时主机40传送来的增益参数Gain与补偿参数Offset储存至 对应测试信道CH1的储存地址S_add，接着依序执行测试通道CH10与CH16的储存工作，而 其余则以此列推，不再赘述。
[0036] 请一并参阅图5,其为本发明的校正电路的电路图。如图所示，校正电路27包含一 乘法器271与一加法器273。乘法器271电性连接于模拟数字转换器10与校正记忆电路 25,接收增益参数Gain与读值讯号VAL，并将增益参数Gain与读值讯号VAL进行乘法运算 后输出。加法器273电性连接于乘法器271的输出端，接收补偿参数Offset与乘法运算后 的读值讯号VAL，并进行加法运算后产生实际读值讯号VAL'。
[0037] 请一并参阅图6,其为本发明的校正记忆电路的方块图。如图所示，校正记忆电路 25包含一第一正反器251、一选择器252、一第二正反器253、一增益记忆单兀254、一补偿记 忆单兀255、一第三正反器256以及一第四正反器257。第一正反器251电性连接于查表单 元21，并依据读写讯号RWD取得读取地址R_add且输出。选择器252可为一多任务器，其电 性连接于第一正反器251，并依据读写讯号RWD得知此时为写入模式或读取模式，而选择一 储存地址S_add或读取地址R_add的一输出。第二正反器253电性连接于选择器252,取得 选择器252输出的储存地址S_add或读取地址R_add并输出。
[0038] 增益记忆单元254电性连接于第二正反器253,用以储存或读取该多个增益参数 Gain，也就是说，增益记忆单元254依据所接收到的储存地址S_add，将主机40输出的增益 参数Gain储存至增益记忆单元254中对应储存地址S_add的地址，或依据所接收到的读取 地址R_add，输出储存于增益记忆单元254中对应读取地址R_add的地址的增益参数Gain。 补偿记忆单元255电性连接于第二正反器253,用以储存或读取该多个补偿参数Offset, 也就是说，补偿记忆单元255依据所接收到的储存地址S_add，将主机40输出的补偿参数 Offset储存至补偿记忆单元255中对应储存地址S_add的地址，或依据所接收到的读取地 址R_add，输出储存于补偿记忆单元255中对应读取地址R_add的地址的补偿参数Offset。
[0039] 第三正反器256电性连接于增益记忆单元254,并依据读写讯号RWD将所接收到的 增益参数Gain输出至乘法器271。第四正反器257电性连接于补偿记忆单元255,并依据 读写讯号RWD将所接收到的补偿参数Offset输出至加法器273。其中，读写讯号RWD可以 由查表单元21或主机40所产生。
[0040] 请参阅图7,其为本发明的第二实施例的自动测试设备的量测装置的示意图。本实 施例与第一实施例的差异在于，本实施例的该多个接脚参数量测单元PPMU透过一选择单 元60连接至模拟数字转换器10,而其余不再赘述，其详细说明如下所述。
[0041] 如图所示，该多个接脚参数量测单元PPMU分别电性连接于选择单元60的多个输 入端，选择单元60的一输出端电性连接模拟数字转换器10,而选择单元60的一控制端则电 性连接控制单元20,并用以依据控制单元20输出的选择讯号SS选择该多个接脚参数量测 单元PPMU之一，以输出量测讯号MS至模拟数字转换器10,也就是说，控制单元20发出选择 讯号SS至选择单元60,以控制选择单元60依序选择该多个接脚参数量测单元PPMU量测 对应的待测接脚（ΡΙΝΙ、PIN2…PINn-1、PINn之一），即依序选择待测接脚ΡΙΝΙ、待测接脚 ΡΙΝ2…待测接脚ΡΙΝη-1与待测接脚ΡΙΝη，以依序传送量测讯号MS至模拟数字转换器10而 进行转换。其中，本实施例的选择单元60可为一多任务器。
[0042] 请一并参阅图8,其为本发明的自动测试设备的量测方法的流程图。本发明的自动 测试设备的量测方法应用于一量测电路，量测电路连接于该多个接脚参数量测单元PPMU， 量测电路包含模拟数字转换器10与控制单元20。本发明的量测方法首先执行步骤S10,储 存多个增益参数Gain与多个补偿参数Offset于校正记忆电路25,该多个增益参数Gain与 该多个补偿参数Offset。接着，执行步骤S20,储存多个选择参数SP于查表单元21，该多个 选择参数SP对应该多个接脚参数量测单元PPMU，选择控制单元12依据该多个选择参数SP 依序产生多个选择讯号SS。
[0043] 接着执行步骤S30,依据该多个选择讯号SS依序选择该多个接脚参数量测单元 PPMU。接着执行步骤S40,驱使所选择的接脚参数量测单元PPMU量测对应的一待测接脚 (ΡΙΝΙ…PINn之一），以产生对应的量测讯号MS。接着执行步骤S50,模拟数字转换器10将 所选择的接脚参数量测单元PPMU输出的量测讯号MS转换为读值讯号VAL。
[0044] 接着执行步骤S60,依据读写讯号RWD，查表单元21产生读取地址R_add，读取地址 R_add对应所选择的接脚参数量测单元PPMU，校正记忆电路25依据读取地址R_add输出对 应所选择的接脚参数量测单元PPMU的增益参数Gain与补偿参数Offset。接着执行步骤 S70,校正电路27使用所选择的增益参数Gain与补偿参数Offset校正经步骤S50产生的 读值讯号VAL，以产生实际读值讯号VAL'供主机40读取。
[0045] 其中，于步骤S70中校正电路27将读值讯号VAL先与所选择的增益参数Gain进 行乘法运算后，再与所选择的补偿参数Offset进行加法运算，以产生实际读值讯号VAL'。 此外，步骤S70中更依据主机40输出的读写讯号RWD取得并输出读取地址R_add至选择器 252,并依据读写讯号RWD驱使选择器252选择储存地址S_add或读取地址R_add输出，接 着取得储存地址S_add或读取地址R_add并输出至校正记忆电路25,使校正记忆电路25依 据储存地址S_add写入增益参数Gain、补偿参数Offset,或依据读取地址R_add驱使校正 记忆电路25输出所选择的增益参数Gain、补偿参数Offset。
[0046] 请一并参阅图9,其为本发明的自动测试设备的量测方法的状态图。此状态图表 示控制单元20的状态，如图所示，于量测前控制单元20处于闲置状态ST10,当控制单元20 接收到主机40传送来的一触发讯号时，则转换为检查状态ST20。于检查状态ST20时，控 制单元20依据查表单元21检查该多个测试通道CHl-CHn，并决定此时是哪一个测试通道 CHl-CHn要被量测，检查完成后转换为设定状态ST30。
[0047] 于设定状态ST30时，控制单元20传送选择讯号SS至此时要被量测的测试通道 (CHl-CHn之一）所对应的接脚参数量测单元PPMU，或传送对应此时要被量测的测试通道 (CHl-CHn之一）的选择讯号SS至选择单元60,使模拟数字转换器10连接正确的接脚参数 量测单元PPMU，设定完成后则转换为稳定状态ST40。稳定状态ST40用于延迟一段时间，以 稳定于设定状态ST30所进行的设定。
[0048] 接着，转换为读取状态ST50,于此状态时控制单元20传送一读取讯号至模拟数字 转换器10,使模拟数字转换器10开始读取量测讯号MS的值，并转换为读值讯号VAL，读取 完成后转换为校正状态ST60。于校正状态ST60时，控制单元20藉由增益参数Gain、补偿 参数Offset对读值讯号VAL进行校正后输出，校正结束后则转换为判断状态ST70。于判断 状态ST70时，控制单元20会判断是否已完成所有测试通道CHl-CHn的量测，若已完成，则 转换回闲置状态ST10,若未完成，则转换为检查状态ST20,控制单元20继续检查该多个测 试通道CHl-CHn，以决定此时需量测的测试通道（CHl-CHn之一）。
[0049] 综上所述，本发明的自动测试设备的量测装置及方法，藉由在多个接脚参数量测 单元的输出端连接一模拟数字转换器，以将该多个接脚参数量测单元输出的量测讯号转换 为读值讯号，并藉由一控制单元依序选择需量测的该多个接脚参数量测单元之一，以达到 快速且精准的量测多个待测接脚的目的。
[0050] 上文仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明实施的范围，凡依本发 明权利要求范围所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰，均应包括于本发明 的权利要求范围内。
【权利要求】
1. 一种自动测试设备的量测装置，其特征在于，其包含： 多个接脚参数量测单元，每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚，以产生一量测 讯号； 一模拟数字转换器，用以将该量测讯号转换为一读值讯号；以及 一控制单元，电性连接于该模拟数字转换器，用以选择该多个接脚参数量测单元之一， 并控制该模拟数字转换器进行转换以接收该读值讯号。
2. 如权利要求1项所述的量测装置，其特征在于，更包含： 一多任务器，具有一控制端、一输出端及多个输入端，该控制端电性连接该控制单兀， 该输出端电性连接该模拟数字转换器，该多个输入端则分别电性连接于该多个接脚参数量 测单元，并受控于该控制单元而选择该多个接脚参数量测单元之一，以输出该量测讯号至 该模拟数字转换器。
3. 如权利要求1项所述的量测装置，其特征在于，其中该控制单元包含： 一查表单元，用以储存多个选择参数，该多个选择参数对应该多个接脚参数量测单 元； 一选择控制单元，电性连接于该查表单元，用以依据该多个选择参数产生一选择讯号 用以选择该多个接脚参数量测单元之一； 一校正记忆电路，电性连接于该查表单元，用以储存多个增益参数与多个补偿参数，该 多个增益参数与该多个补偿参数对应该多个选择参数，该查表单元依据一读写讯号产生一 读取地址，该读取地址对应所选择的该接脚参数量测单元，该校正记忆电路依据该读取地 址输出该增益参数与该补偿参数；以及 一校正电路，电性连接于该校正记忆电路与该模拟数字转换器，并使用该校正记忆电 路输出的该增益参数与该补偿参数校正该读值讯号。
4. 如权利要求3项所述的量测装置，其特征在于，其中该校正电路包含： 一乘法器，电性连接于该模拟数字转换器与该校正记忆电路，用以将该增益参数与该 读值讯号进行乘法运算；以及 一加法器，电性连接于该乘法器，用以将该乘法器的输出与该补偿参数进行加法运算。
5. 如权利要求4项所述的量测装置，其特征在于，其中该校正记忆电路更包含： 一第一正反器，电性连接于该查表单元，用以依据该读写讯号取得并输出该读取地 址； 一选择器，电性连接于该第一正反器，用以依据该读写讯号选择一储存地址或该读取 地址输出； 一第二正反器，电性连接于该选择器，用以取得该选择器输出的该储存地址或该读取 地址，而输出该储存地址或该读取地址至一增益记忆单元与一补偿记忆单元，以写入或读 取该增益参数或该补偿参数； 一第三正反器，电性连接于该增益记忆单元，用以依据该读写讯号输出对应的该增益 参数至该乘法器；以及 一第四正反器，电性连接于该补偿记忆单元，用以依据该读写讯号输出对应的该补偿 参数至该加法器。
6. 如权利要求4项所述的量测装置，其特征在于，其中该控制单元更包含： 一储存单元，用以储存该乘法器与该加法器校正后的该读值讯号，以供一主机读取。
7. -种自动测试设备的量测方法，其特征在于，该量测方法应用于一量测电路，该量测 电路电性连接该自动测试设备的多个接脚参数量测单元，该量测方法的步骤包含： 依据一选择讯号选择该多个接脚参数量测单元之一； 驱使所选择的该接脚参数量测单元量测对应的一待测接脚，以产生一量测讯号；以及 将所选择的该接脚参数量测单元输出的该量测讯号转换为一读值讯号。
8. 如权利要求7项所述的量测方法，其特征在于，其中更包含： 储存多个选择参数于一查表单元，该多个选择参数对应该多个接脚参数量测单元，以 依据该多个选择参数产生该选择讯号； 储存多个增益参数与多个补偿参数于一校正记忆电路，该多个增益参数与该多个补偿 参数对应该多个选择参数； 依据一读写讯号，该查表单元产生一读取地址，该读取地址对应所选择的该接脚参数 量测单元，该校正记忆电路依据该读取地址输出该增益参数与该补偿参数；以及 使用所选择的该增益参数与该补偿参数校正该读值讯号。
9. 如权利要求8项所述的量测方法，其特征在于，其中于使用所选择的该增益参数与 该补偿参数校正该读值讯号的步骤中，包含： 将该增益参数与该读值讯号进行乘法运算；以及 将该补偿参数与进行乘法运算后的该读值讯号进行加法运算。
10. 如权利要求8项所述的量测方法，其特征在于，其中于使用所选择的该增益参数与 该补偿参数校正该读值讯号的步骤中，包含： 依据该读写讯号取得并输出该读取地址至一选择器； 依据该读写讯号驱使该选择器选择一储存地址或该读取地址输出；以及 取得该选择器输出的该储存地址或该读取地址，而输出该储存地址或该读取地址至该 校正记忆电路，用以依据该储存地址写入该增益参数与该补偿参数于该校正记忆电路或依 据读取地址驱使该校正记忆电路输出所选择的该增益参数与该补偿参数。
【文档编号】G01R31/00GK104101789SQ201310122280
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2013年4月3日 优先权日:2013年4月3日
【发明者】张友青, 林士闻 申请人:致茂电子(苏州)有限公司