本发明涉及半导体激光管的测试设备，具体的说是一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法。
背景技术：
半导体激光管由于具有体积小、效率高、使用方便等特点得到了广泛的应用，根据半导体激光管的特性可知，半导体激光管输出光功率和波长随激光管的驱动电流大小和工作温度的变化而变化。现有的半导体激光管出厂时厂家一般会提供其输出光功率和驱动电流的关系曲线，也叫做P-I曲线，厂家提供的P-I曲线是一个一般规律的曲线，不同的激光管的P-I曲线和厂家提供的P-I曲线之间存在差异，同时厂家也会提供一个输出激光波长变化量和工作温度之间的比例系数，比如0.2nm/℃，这个系数也叫做波长温度系数，厂家提供的波长温度系数也是一个一般规律的系数，在不同温度下这个系数会有差异，并且不同的激光管的波长温度系数和厂家提供的值也会有差异。但在半导体激光器的很多应用、研究中需要准确的掌握激光器的特性，这就需要一种能够准确、快速获得某一半导体激光器的相关特性的方法和装置。
技术实现要素：
本发明针对现有技术中存在的不足，提出一种结构合理、操作简便，能够快速准确获知半导体激光器的功率和波长特性的半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法。本发明通过以下措施达到：一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置，其特征在于设有用于控制整个装置工作状态的微处理器，与微处理器相连接的用于向待测半导体激光管输出不同电流值的可控电流源，与微处理器相连接的用于为待测半导体激光管提供不同环境温度的可调恒温箱，与微处理器相连接的用于对待测半导体激光管输出的光信号进行衰减处理的可调光衰减器，与可调光衰减器的光信号输出端相连接的分光比为1:1的光耦合器，与1:1光耦合器的一路光信号输出端相连接的光功率计，与1:1光耦合器的另一路光信号输出端相连接的光谱仪，其中光功率计、光谱仪的测量结果输出端分别与微处理器的通信端口相连接。本发明中还设有与微处理器相连接的LCD触摸显示屏，用于向微处理器设置工作参数，包括设置可控电流源的驱动电流值Iout值、可调恒温箱的环境温度T值以及可调光衰减器的衰减值M，并将相关参数经LCD显示屏输出。本发明中还设有与微处理器相连接的U盘，用于存储检测结果及相关工作参数。本发明中还设有与微处理相连接的打印机，用于打印输出检测结果。本发明中微处理器采用ARM微处理器。一种半导体激光管功率和波长特性自动测试方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一：利用上述装置，将待测半导体激光管的电流信号输入端与可控电流源的输出端相连接，待测半导体激光管的光信号输出端与可调光衰减器的输入端相连接，并将半导体激光管置于可调恒温箱内，步骤二：微处理器控制可调恒温箱的温度为T，在T温度值下，微处理器控制可控电流源向待测半导体激光管输出驱动电流...