光源频闪测试装置制造方法

文档序号:6176535阅读:391来源:国知局
光源频闪测试装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种光源频闪测试装置,包括:一发射器,用于将电信号施加至被测试光源,生成发射角度变化的测试光信号;一接收器,用于接收测试光信号,将光信号转变为电信号;其中发射器与接收器为无线连接。本发明可以快速简易的测试光源频闪。
【专利说明】光源频闪测试装置
【技术领域】
[0001]本发明属于测试装置和照明领域,特别涉及一种光源频闪测试装置。
【背景技术】
[0002]根据研究表明,光源的低频频闪虽然人眼分辨不出来,但是会造成人的精神疲劳,如果长期在低频频闪的光源下工作或者生活,容易患中风等疾病。
[0003]目前常规测试光源频闪的方法主要是光学法,而这种方法的响应度慢,测试不准确,同时光学快速测量仪器价格昂贵。
[0004]因而,需要开发出一种简易的光源频闪测试装置,而采用电学法的话,响应度快,很适合测试光源的频闪。

【发明内容】

[0005]本发明的目的,在于提供一种光源频闪测试装置,可以快速简易的测试光源频闪。
[0006]为了达到上述目的,本发明提供一种光源频闪测试装置,包括:
[0007]—发射器,用于将电信号施加至被测试光源,生成发射角度变化的测试光信号;
[0008]一接收器,用于接收测试光信号,将光信号转变为电信号;
[0009]其中发射器与接收器为无线连接。
[0010]采用上述方案后,本发明具有以下功效:
[0011](I)、被测试光源安装在一个可变角度支架上,通过改变支架的角度可以使光发射支架与光电探测器之间的角度改变,装置简单,易于实现。
[0012](2)、通过本发明的测试光源频闪的装置,可以快速简易的测量光源的频闪,并且测量结果更准确,装置的成本低廉。
【专利附图】

【附图说明】
[0013]为进一步说明本发明的具体技术内容,以下结合实施例及附图详细说明如后,其中:
[0014]图1是本发明的结构示意图。
[0015]图2是本发明中的可变角度的光发射支架的结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]请参阅图1及图2所示,本发明提供一种光源频闪测试装置,包括:
[0017]—发射器1,用于将电信号施加至被测试光源,生成发射角度变化的测试光信号,所述发射器I包括电源11和与之连接的光发射支架12,所述电源11为可调的交流电源,频率为O-lOOHz,电压为0-500V,为测试光源供电,所述光发射支架12包括一固定支架121和与之连接的一可变角度支架120,该可变角度支架120用于夹持所述被测试光源,所述可变角度支架120的旋转轴的角度可调范围为0° -180° ;[0018]一接收器2,用于接收测试光信号,将光信号转变为电信号,所述接收器2包括一示波器14和与之连接的光电探测器15,所述光电探测器15为PIN光电探测器或是AH)光电探测器,所述示波器14是将电信号随时间的变化输出显示;
[0019]其中发射端组件I与接收器2为无线连接。
[0020]具体实施例如下:
[0021]在本实施例中需要测试的光源为LED球泡灯,LED球泡灯发射出的光信号13将在自由空间内传播,最终被接收器2接收,其发射出光信号为波长范围在380nm780nm之间的可见光。
[0022]在发射器I中,由电源11为LED球泡灯供电,电源11为0300V的交流调压器,其电压频率为50Hz。LED球泡灯在的电源11的供电下产生可见光测试信号13,可变角度光发射支架12可以调整可见光测试信号13发射方向。
[0023]在接收器2中,首先光电探测器15对发射器I发出的光信号进行检测,生成相应的电信号;示波器14用于测量及显示接收光电探测器15生成的电信号的时域波形曲线,通过测量到的响应时间、周期、频率、峰值电压等参数,可以得知被测光源的频闪情况。同时,示波器14具有高分辨率,高带宽和低噪音等优点,保证了测试的准确性。
[0024]光电探测器15是一种PIN光电探测器或是AH)光电探测器,用于接收上述发射器I发射出的光信号。而本实施例中的光电探测器15具有几个优点,如:光电探测器的光谱范围足够宽,工作波段处于380nm-780nm的可见光波长范围;光电转换效率高、对于一定的入射光信号功率,光电检测器能输出尽可能大的光电流;响应速度快、线性度好、频带宽;信号失真小;检测过程中附加噪声小;可靠性高,寿命长、工作电压低等。
[0025]以上实施例仅为说明本发明的技术思想,不能以此限定本发明的保护范围,凡是按照本发明提出的技术思想,在技术方案所做基础上所做的任何改动,均落入本发明保护范围之内。
【权利要求】
1.一种光源频闪测试装置,包括: 一发射器,用于将电信号施加至被测试光源,生成发射角度变化的测试光信号; 一接收器,用于接收测试光信号,将光信号转变为电信号; 其中发射器与接收器为无线连接。
2.如权利要求1所述的光源频闪测试装置,其中所述发射器包括电源和与之连接的光发射支架。
3.如权利要求2所述的光源频闪测试装置,其中所述电源为可调的交流电源,频率为O-1OOHz,电压为0-500V,为测试光源供电。
4.如权利要求2所述的光源频闪测试装置,其中所述光发射支架包括一固定支架和与之连接的一可变角度支架,该可变角度支架用于夹持所述被测试光源。
5.如权利要求4所述的光源频闪测试装置,其中所述可变角度支架的旋转轴的角度可调范围为0° -180°。
6.根据权利要求1所述的光源频闪测试装置,其中所述接收器包括一示波器和与之连接的光电探测器。
7.根据权利要求6所述的光源频闪测试装置,其中所述光电探测器为PIN光电探测器或是APD光电探测器。
8.根据权利要求6所述的光源频闪测试装置,其中所述示波器是将电信号随时间的变化输出显示。
【文档编号】G01M11/02GK103487238SQ201310424557
【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年9月17日 优先权日:2013年9月17日
【发明者】赵勇兵, 裴艳荣, 朱绍歆, 田婷, 郭金霞, 杨华, 伊晓燕, 王国宏, 李晋闽 申请人:中国科学院半导体研究所
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1