量测装置及量测方法
【专利摘要】一种量测装置及量测方法，该量测装置包含一可透光承载平台、一光反射单元及一光侦测单元。可透光承载平台包括一用于供发光二极管放置的第一面及一第二面，光反射单元对应设置于可透光承载平台的其中一面，光反射单元用于反射来自发光二极管的光至可透光承载平台的另外一面，光侦测单元对应设置于可透光承载平台的另外一面，光侦测单元与光反射单元相对设置，光侦测单元用于接收来自发光二极管的光以及来自光反射单元的反射光。该量测方法包含：制备前述量测装置、将发光二极管放置于可透光承载平台、点测发光二极管、发光二极管的光由光侦测单元接收以及由光反射单元反射至光侦测单元，及综合分析及计算所得的光性资料数据。借此提高量测精确度。
【专利说明】量测装置及量测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种量测装置，特别是涉及一种光学量测装置及量测方法。
【背景技术】
[0002]以往在量测发光二极管发光特性时，仅在发光二极管的上方收集光，但由于量测装置会反射光线而造成光量逸散，使得量测装置不够准确，无法满足需求。
[0003]因此，中国台湾专利TWI388809所提出的一种量测装置，是在发光二极管的上下方都设有光侦测单元，但此装置的成本较高，且计算时需合并上下方的光侦测单元所得的数据，在计算上也较为复杂。
[0004]而中国台湾专利TW201115124所提出的另一种量测装置，是将发光二极管放置于反射板上，而由位于上方的单一光侦测单兀接收发光二极管的光以及反射光，但由于反射板与发光二极管过于接近，部分光线会被遮蔽，而造成光性量测的误差。
[0005]由前述可知，一种可以降低成本、简化计算且可以精确量测的量测装置为目前市场所需。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于提供一种可以降低成本、简化计算且可以精确量测的量测装置。
[0007]本发明的另一个目的，即在提供一种可以降低成本、简化计算且可以精确量测的量测装置的量测方法。
[0008]本发明量测装置，其包含:
[0009]一个可透光承载平台，该可透光承载平台包括一个供发光二极管放置的第一面，及一个与该第一面相背设置的第二面；
[0010]一个光反射单元，对应设置于该可透光承载平台的其中一面，该光反射单元用于反射来自发光二极管的光至该可透光承载平台的另外一面；及
[0011]一个光侦测单元，对应设置于该可透光承载平台的另外一面，该光侦测单元与该光反射单元相对设置，该光侦测单元用于接收来自发光二极管的光以及来自该光反射单元的反射光。
[0012]本发明所述的量测装置，该光侦测单元包括一个积分球、一个连接于该积分球的光侦测器，及一个连接于该积分球的分光计。
[0013]本发明所述的量测装置，该光反射单元为一个弧状反射板。
[0014]本发明所述的量测装置，该光反射单元为一个片状反射板。
[0015]本发明所述的量测装置，该光反射单元为一个积分球。
[0016]本发明所述的量测装置，该光侦测单元对应设置于该可透光承载平台的第二面，该光反射单元对应设置于该可透光承载平台的第一面。
[0017]本发明所述的量测装置，该光侦测单元包括一个积分球，及一个连接于该积分球的光侦测器。
[0018]本发明所述的量测装置，该光侦测单元包括一个光侦测器或一个分光计。
[0019]本发明如前所述的量测装置的量测方法，其包含以下步骤:
[0020](A)制备一个如前所述的量测装置；
[0021](B)将多个发光二极管放置于该可透光承载平台的第一面；
[0022](C)利用点测方式使其中一个发光二极管发光；
[0023](D)该发光二极管的光由该光侦测单元接收，以及由该光反射单元反射至该光侦测单元接收；及
[0024](E)该光侦测单元对所得的光性数据进行综合分析及计算。
[0025]本发明所述的量测装置的量测方法，该光侦测单元包括一个积分球、一个连接于该积分球的光侦测器，及一个连接于该积分球的分光计，该步骤(D)中，是由该积分球收集该发光二极管的光，该步骤(E)中，是由该光侦测器与该分光计得到该发光二极管的光性数据。
[0026]本发明的有益效果在于:利用该光反射单元将光反射至该光侦测单元，使得本发明得以仅使用单一光侦测单元，即能完成对发光二极管的光线收集与分析计算的目的，确实能够降低成本与简化计算，此外，该光反射单元的设计并不遮蔽发光二极管的光线，故能够确实地将光线反射回该光侦测单元，确实提高了精确度。
【专利附图】
【附图说明】
[0027]图1是一个正视示意图，说明本发明量测装置放置发光二极管晶粒时的较佳实施例，其中光反射单元为弧状反射板；
[0028]图2是一个正视示意图，说明本较佳实施例放置发光二极管晶粒时的一变化态样，其中光反射单元为积分球；
[0029]图3是一个正视示意图，说明本较佳实施例放置发光二极管晶粒时的又一变化态样，其中光反射单元为片状反射板；
[0030]图4是一个正视示意图，说明本较佳实施例放置发光二极管晶圆时的态样，其中光反射单元为弧状反射板；
[0031]图5是一个正视示意图，说明本较佳实施例放置发光二极管晶圆时的一变化态样，其中光反射单元为积分球；
[0032]图6是一个正视示意图，说明本较佳实施例放置发光二极管晶圆时的又一变化态样，其中光反射单元为片状反射板；
[0033]图7是一个流程示意图，说明本发明量测装置的量测方法的较佳实施例。
【具体实施方式】
[0034]下面结合附图及实施例对本发明进行详细说明。
[0035]参阅图1，本发明量测装置I的较佳实施例包含一个可透光承载平台11、一个光反射单元12及一个光侦测单元13。
[0036]该可透光承载平台11包括一个供发光二极管2放置的第一面111，及一个与该第一面111相背设置的第二面112。
[0037]更进一步说明的是，该可透光承载平台11可设计为具有透明材质的片板113，适用于供已切割分离的发光二极管2晶粒放置，值得说明的是，所述发光二极管2之间有缝隙以用于透光，该可透光承载平台11也可以设计为具有一个透穿孔114，适用于供未切割的整片发光二极管晶圆20放置，如图4至图6所示。
[0038]此外，在本较佳实施例中，该第一面111为顶面，该第二面112为底面。
[0039]该光反射单元12对应设置于该可透光承载平台11的其中一面，该光反射单元12用于反射来自发光二极管2的光至该可透光承载平台11的另外一面，在本较佳实施例中，该光反射单元12对应设置于该可透光承载平台11的第一面111。
[0040]配合参阅图1，该光反射单元12为一个弧状反射板121。
[0041]配合参阅图2，该光反射单元12为一个积分球122。
[0042]配合参阅图3，该光反射单元12为一个片状反射板123。
[0043]该光侦测单元13对应设置于该可透光承载平台11的另外一面，该光侦测单元13与该光反射单元12相对设置，在本较佳实施例中，该光侦测单元13对应设置于该可透光承载平台11的第二面112，该光侦测单元13用于接收来自发光二极管2的光以及来自该光反射单元12的反射光。
[0044]该光侦测单兀13包括一个积分球131、一个连接于该积分球131的光侦测器132,及一个连接于该积分球131的分光计133。
[0045]值得一提的是，该光侦测单元13也可以只包括该光侦测器132，或者，该光侦测单元13也可以只包括该积分球131及该光侦测器132，或者，该光侦测单元13也可以只包括该分光计133，或是只包括该积分球131及与该积分球131间采用光纤连接的分光计133，可以应量测需求而增减或修改该光侦测单元13的元件(图未示)。
[0046]此外，值得一提的是，该光侦测单元13也可以根据需求而与该光反射单元12互换位置设置。
[0047]配合参阅图7，本发明如前所述的量测装置I的量测方法，包含以下步骤:
[0048]步骤100，制备一个如前所述的量测装置I。
[0049]步骤200，将多个发光二极管2放置于该可透光承载平台11的第一面111。
[0050]步骤300，利用点测方式使其中一个发光二极管2发光，并在量测完成之后使下一个发光二极管2发光。
[0051]步骤400，该发光二极管2的光由该光侦测单元13接收，以及由该光反射单元12反射至该光侦测单元13接收，在本较佳实施例中，是由该积分球131收集该发光二极管2的光，值得说明的是，该发光二极管2的光线若有部分被该光侦测单元13反射，仍可以通过该光反射单元12将光线再度反射回去，以提高量测精确度。
[0052]步骤500，该光侦测单元13对所得的光性数据进行综合分析及计算，在本较佳实施例中，是由该光侦测器132与该分光计133得到该发光二极管2的光性数据。
[0053]本发明的功效如下:
[0054]一、利用该光反射单元12将光反射至该光侦测单元13，使得本发明得以仅使用单一光侦测单元13，即能完成对发光二极管2的光线收集与分析计算的目的，确实能够降低成本与简化计算。
[0055]二、该光反射单元12的设计并不遮蔽发光二极管2的光线，因该光反射单元12并不直接贴合在该发光二极管2的第一面111，而是与该发光二极管2有恰当的距离，故该光反射单元12能够确实地将光线反射回该光侦测单元13，确实提高了精确度。
【权利要求】
1.一种量测装置，其特征在于包含: 一个可透光承载平台，该可透光承载平台包括一个供发光二极管放置的第一面，及一个与该第一面相背设置的第二面； 一个光反射单元，对应设置于该可透光承载平台的其中一面，该光反射单元用于反射来自发光二极管的光至该可透光承载平台的另外一面；及 一个光侦测单元，对应设置于该可透光承载平台的另外一面，该光侦测单元与该光反射单元相对设置，该光侦测单元用于接收来自发光二极管的光以及来自该光反射单元的反射光。
2.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光侦测单元包括一个积分球、一个连接于该积分球的光侦测器，及一个连接于该积分球的分光计。
3.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光反射单元为一个弧状反射板。
4.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光反射单元为一个片状反射板。
5.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光反射单元为一个积分球。
6.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光侦测单元对应设置于该可透光承载平台的第二面，该光反射单元对应设置于该可透光承载平台的第一面。
7.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光侦测单元包括一个积分球，及一个连接于该积分球的光侦测器。
8.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于:该光侦测单元包括一个光侦测器或一个分光计。
9.一种如权利要求1所述的量测装置的量测方法，其特征在于包含以下步骤: (A)制备一个如权利要求1的量测装置； (B)将多个发光二极管放置于该可透光承载平台的第一面； (C)利用点测方式使其中一个发光二极管发光； (D)该发光二极管的光由该光侦测单元接收，以及由该光反射单元反射至该光侦测单元接收；及 (E)该光侦测单元对所得的光性数据进行综合分析及计算。
10.如权利要求9所述的量测装置的量测方法，其特征在于:该光侦测单元包括一个积分球、一个连接于该积分球的光侦测器，及一个连接于该积分球的分光计，该步骤(D)中，是由该积分球收集该发光二极管的光，该步骤(E)中，是由该光侦测器与该分光计得到该发光二极管的光性数据。
【文档编号】G01M11/02GK104458209SQ201310440456
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2013年9月24日 优先权日:2013年9月24日
【发明者】赖允晋, 庄翌晨, 杨戴隆, 洪育民 申请人:惠特科技股份有限公司