一种本振信号检测装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种本振信号检测装置，所述检测装置包括：故障确定装置和至少一个混频检测通道，每个所述混频检测通道包括：第一取样部，与第一混频器的第一本振信号连接，用于将所述第一本振信号转变为第一检测信号；第一比较部，与所述第一取样部连接，用于将所述第一检测信号与第一基准电压相比较；第二取样部，与第二混频器的第二本振信号连接，用于将所述第二本振信号转变为第二检测信号，所述第二本振信号与所述第一本振信号不同；第二比较部，与所述第二取样部连接，用于将所述第二检测信号与第二基准电压相比较；所述故障确定装置，分别与所述第一比较部、所述第二比较部相连，用于确定所述第一本振信号或者所述第二本振信号是否故障。
【专利说明】一种本振信号检测装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及测控【技术领域】，特别是涉及一种本振信号检测装置。
【背景技术】
[0002]随着雷达技术的不断发展，雷达系统对接收机的可靠性提出了越来越高的要求，混频器作为雷达接收机的核心，其可靠性则显得尤为重要，目前大多数雷达接收机系统中的混频器采用的是单管混频技术，即依靠单个混频二极管实现射频信号和本振信号的变频功能的技术。对于接收机中的混频器来讲，本振信号是否能正确施加直接影响到混频器的工作性能，而现有技术中还没有一种针对雷达接收机本振信号是否被正确施加进行检测的技术。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是提供一种本振信号检测装置，用以解决现有技术中无法针对雷达接收机本振信号是否被正确施加进行检测的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本发明提供一种本振信号检测装置，包括:故障确定装置和至少一个混频检测通道，每个所述混频检测通道包括:第一取样部，与第一混频器的第一本振信号连接，用于将所述第一本振信号转变为第一检测信号；第一比较部，与所述第一取样部连接，用于将所述第一检测信号与第一基准电压相比较；第二取样部，与第二混频器的第二本振信号连接，用于将所述第二本振信号转变为第二检测信号，所述第二本振信号与所述第一本振信号不同；第二比较部，与所述第二取样部连接，用于将所述第二检测信号与第二基准电压相比较；其中，所述第一混频器和所述第二混频器属于同一个混频通道，用于对输入到所述混频通道的信号进行双变频；
[0005]所述故障确定装置，分别与所述第一比较部、所述第二比较部相连，用于确定以下检测条件是否成立:所述第一检测信号大于所述第一基准电压，且所述第二检测信号大于所述第二基准电压，且所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中被唯一选通；如果所述检测条件成立，确定所述第一本振信号、所述第二本振信号无故障，如果所述检测条件不成立，确定所述第一本振信号故障，或者所述第二本振信号故障。
[0006]进一步的，所述混频检测通道，还包括指示部，所述指示部分别与所述第一检测信号、所述第二检测信号相连，用于指示所述第一检测信号、所述第二检测信号的大小。
[0007]可选的，所述故障确定装置具体用于:
[0008]如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中被唯一选通，且所述第一检测信号小于所述第一基准电压，确定所述第一本振信号故障；
[0009]如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中被唯一选通，且所述第二检测信号小于所述第二基准电压，确定所述第二本振信号故障；
[0010]如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道未被选通，且所述第一检测信号大于所述第一基准电压，确定所述第一本振信号故障；[0011]如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道未被选通，且所述第二检测信号大于所述第二基准电压，确定所述第二本振信号故障。
[0012]具体的，所述第一基准电压和所述第二基准电压分别由两个输出电压可调的基准电压电路提供。
[0013]进一步的，所述故障确定装置还用于如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道被选通，且还有其他混频通道被选通，确定所述混频通道选通故障。
[0014]可选的，所述装置包括两个所述混频检测通道。
[0015]本发明的实施例提供的本振信号检测装置，包括故障确定装置和至少一个混频检测通道，每个混频检测通道都能够针对一个混频通道中的两个混频器的两个本振信号进行取样，并将取样值分别与基准电压相比较，这样，故障确定装置即可通过确定第一检测信号、第一基准电压，第二检测信号、第二基准电压的大小关系以及第一混频器和第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中的选通情况，确定各路本振信号是否发生了故障，从而大大提高混频器本振信号的故障检测效率并降低了故障检测成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1是本发明实施例提供的本振信号检测装置的一种结构示意图；
[0017]图2是本发明实施例提供的本振信号检测装置的另一种结构示意图。
【具体实施方式】
[0018]本发明提供了一种用于泛在终端网络的认证方法和装置，以下结合附图对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不限定本发明。
[0019]如图1所示，本发明的实施例提供一种本振信号检测装置5，包括:故障确定装置2和至少一个混频检测通道I，每个混频检测通道I包括:第一取样部11，与第一混频器12的第一本振信号Vl连接，用于将第一本振信号Vl转变为第一检测信号Vltest ;第一比较部13，与第一取样部11连接，用于将第一检测信号Vltest与第一基准电压Vlref相比较；
[0020]第二取样部21，与第二混频器22的第二本振信号V2连接，用于将第二本振信号V2转变为第二检测信号V2test，第二本振信号V2与第一本振信号Vl不同；第二比较部23，与第二取样部21连接，用于将第二检测信号V2test与第二基准电压V2ref相比较；
[0021]其中，第一混频器12和第二混频器22属于同一个混频通道3，用于对输入到混频通道3的信号进行双变频；第一比较部13、第二比较部23具体可以为运算放大器等电路元件。
[0022]故障确定装置2，分别与每个所述混频检测通道I的第一比较部13、第二比较部23相连，用于确定以下检测条件是否成立:第一检测信号Vltest大于第一基准电压Vlref，且第二检测信号V2test大于第二基准电压V2ref，且第一混频器12和第二混频器22所属的混频通道3在所有混频通道3中被唯一选通；
[0023]如果所述检测条件成立，确定第一本振信号V1、所述第二本振信号V2无故障，如果所述检测条件不成立，确定第一本振信号Vl故障，或者第二本振信号V2故障。
[0024]本发明的实施例提供的本振信号检测装置5，包括故障确定装置2和至少一个混频检测通道I，每个混频检测通道I都能够针对一个混频通道3中的两个混频器11、21的两个本振信号V1、V2进行取样，并将取样值分别与基准电压相比较，这样，故障确定装置2即可通过确定第一检测信号Vltest、第一基准电压Vlref,第二检测信号V2test、第二基准电压V2ref的大小关系以及第一混频器12和第二混频器22所属的混频通道3在所有混频通道3中的选通情况，确定各路本振信号是否发生了故障，从而大大提高混频器本振信号的故障检测效率并降低了故障检测成本。
[0025]进一步的，为了能够比较直观地观察出本振信号的大小及变化趋势，可选的，混频检测通道1，还可包括指示部，所述指示部可分别与第一检测信号Vltest、第二检测信号V2test相连,用于指示第一检测信号Vltest、第二检测信号V2test的大小。
[0026]具体而言，故障确定装置2可具体用于:
[0027]如果第一混频器11和第二混频器21所属的混频通道3在所有混频通道3中被唯一选通，且第一检测信号Vltest小于第一基准电压Vlref,则确定第一本振信号Vl故障；
[0028]如果第一混频器11和第二混频器21所属的混频通道3在所有混频通道3中被唯一选通，且第二检测信号V2test小于第二基准电压V2ref，确定第二本振信号V2故障；
[0029]如果第一混频器11和第二混频器21所属的混频通道3未被选通，且第一检测信号Vltest大于第一基准电压Vlref,确定第一本振信号Vl故障；
[0030]如果第一混频器11和第二混频器21所属的混频通道3未被选通，且第二检测信号V2test大于第二基准电压V2ref，确定第二本振信号V2故障。
[0031 ] 其中，第一基准电压Vlref和第二基准电压V2ref分别由两个输出电压可调的基准电压电路提供。这样，即可根据不同的本振信号强度来相应的选择合适的基准电压，从而对各个本振信号是否故障进行更准确的判断。
[0032]需要说明的是，在使用单个混频二极管实现混频的混频装置中，可能存在多个混频通道，但一般在同一时间只有一个混频通道处于工作状态，而其他混频通道作为备用通道。那么，故障确定装置2还用于如果所第一混频器11和第二混频器21所属的混频通道3被选通，且还有其他混频通道3被选通，确定混频通道3选通故障。
[0033]下面通过具体的实施例对本发明提供的本振信号检测装置5进行详细说明。本实施例中，本振信号检测装置5包括两个混频检测通道1，每个混频检测通道I能够对一个混频通道3中的本振信号进行检测。如图2所示，第一本振信号和第二本振信号为双变频混频装置中两个混频器(未示出)所用的两个本振信号，其中，第一本振信号为中高频信号，第二本振信号为中频信号，正常情况下，混频通道3A和混频通道3B中只有一个工作，即选通信号A和选通信号B中，只能有一个被置为使能有效。混频检测通道IA对混频通道3A的本振信号进行故障检测，混频检测通道IB对混频通道3B的本振信号进行故障检测。
[0034]要确定本振信号是否存在故障，也就是要确定各路本振信号是否施加到正确的通路上，以及确定各路本振信号的信号强度是否满足要求。具体而言，当混频通道3A或3B被选通，其对应的混频检测通道IA或IB中的两个本振信号都大于对应的基准电压，且当混频通道3A或3B未被选通，其对应的混频检测通道IA或IB中的两个本振信号都小于对应的基准电压，此时即可确定该混频装置中本振信号无故障。否则，即可确定该混频装置中本振信号出现故障。
[0035]具体的，可能出现的故障可包括:[0036]本振信号没有施加，但混频通道已被选通的情况。此时，选通信号是否有效，在基准电路设置合适的情况下，四个比较部输出均为“0”，即本振信号小于对应的基准电压，故障确定装置2对选通信号和各比较电路的输出进行综合判断，并将结果送入故障报警电路，故障报警电路发出报警。
[0037]被选通的混频通道中，只有施加了 一路本振信号的情况。例如，选通信号选通了混频通道A，在基准电路设置合适的情况下，如果混频检测通道IA中只有第一比较部13输出为“1”，而第二比较部23输出为“0”，则故障确定装置2对选通信号和各比较电路的输出进行综合判断，并将结果送入故障报警电路，故障报警电路发出报警。
[0038]未被选通的混频通道中，也有本振信号施加的情况。例如，选通信号没有选通混频通道A，在基准电路设置合适的情况下，如果混频检测通道IA中的第一比较部13输出为“1”，而第二比较部23输出为“0”，则故障确定装置2对选通信号和各比较电路的输出进行综合判断，并将结果送入故障报警电路，故障报警电路发出报警。
[0039]需要说明的是，为了对本振信号是否故障进行更为准确的检测，需要对基准电压进行合理的设置，以避免由于基准电压不准确而导致对本振信号的错误判断。
[0040]还需要说明的是，上述实施例中，选通信号的使能或有效值、以及比较部输出的逻辑值中，都以逻辑“I”为有效，但本发明不限于此，本领域的技术人员可以采用其他电路逻辑来实现相应的功能，本发明的实施例对此不做限制。
[0041]尽管为示例目的，已经公开了本发明的优选实施例，本领域的技术人员将意识到各种改进、增加和取代也是可能的，因此，本发明的范围应当不限于上述实施例。
【权利要求】
1.一种本振信号检测装置，其特征在于，包括:故障确定装置和至少一个混频检测通道，每个所述混频检测通道包括: 第一取样部，与第一混频器的第一本振信号连接，用于将所述第一本振信号转变为第一检测信号；第一比较部，与所述第一取样部连接，用于将所述第一检测信号与第一基准电压相比较； 第二取样部，与第二混频器的第二本振信号连接，用于将所述第二本振信号转变为第二检测信号，所述第二本振信号与所述第一本振信号不同；第二比较部，与所述第二取样部连接，用于将所述第二检测信号与第二基准电压相比较； 其中，所述第一混频器和所述第二混频器属于同一个混频通道，用于对输入到所述混频通道的信号进行双变频； 所述故障确定装置，分别与所述第一比较部、所述第二比较部相连，用于确定以下检测条件是否成立:所述第一检测信号大于所述第一基准电压，且所述第二检测信号大于所述第二基准电压，且所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中被唯一选通； 如果所述检测条件成立，确定所述第一本振信号、所述第二本振信号无故障，如果所述检测条件不成立，确定所述第一本振信号故障，或者所述第二本振信号故障。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述混频检测通道，还包括指示部，所述指示部分别与所述第一检测信号、所述第二检测信号相连，用于指示所述第一检测信号、所述第二检测信号的大小。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述故障确定装置具体用于: 如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中被唯一选通，且所述第一检测信号小于所述第一基准电压，确定所述第一本振信号故障； 如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道在所有混频通道中被唯一选通，且所述第二检测信号小于所述第二基准电压，确定所述第二本振信号故障； 如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道未被选通，且所述第一检测信号大于所述第一基准电压，确定所述第一本振信号故障； 如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道未被选通，且所述第二检测信号大于所述第二基准电压，确定所述第二本振信号故障。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一基准电压和所述第二基准电压分别由两个输出电压可调的基准电压电路提供。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的装置，其特征在于，所述故障确定装置还用于如果所述第一混频器和所述第二混频器所属的混频通道被选通，且还有其他混频通道被选通，确定所述混频通道选通故障。
6.根据权利要求1-4中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置包括两个所述混频检测通道。
【文档编号】G01S7/40GK103675778SQ201310726101
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月25日 优先权日:2013年12月25日
【发明者】孟亮, 王晴, 韦志会, 潘国庆, 郇黎明, 王琮, 祁玉林, 庄会慧, 段嵘 申请人:北京航天测控技术有限公司