电气试验测试接头的制作方法

文档序号:6196813阅读:264来源:国知局
电气试验测试接头的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种电气试验测试接头,包括测试接头,测试接头为中空的管状结构,测试接头的前端为敞口结构,并在其前端设有一圈向内侧凸起的可动触头限位凸台;在测试接头的管内后端设有弹簧,在测试接头的管内前端设有可动触头;在测试接头的末端连接有接头座,在接头座的末端设有测试线插孔;可动触头与弹簧、弹簧与测试接头、以及测试接头与接头座的测试线插孔之间均相互导通。本实用新型采用在中空的接头中设置可动触头与弹簧的结构,利用弹簧的弹力顶住可动触头,增加可动触头与端子排孔内螺钉连接紧密性,解决了现有的测试线插头与端子排孔硬对硬的接触方式,试验时存在的接触不良或机械振动造成接线断开的问题。
【专利说明】电气试验测试接头
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型涉及电气领域,尤其是一种电气试验测试接头。
【背景技术】
[0002]目前,电力行业检修工作中,进行试验时经常使用到测试线,当将测试线与断路器汇控箱端子排孔相连接时,由于现有的测试线插头与端子排孔是硬对硬的接触方式,试验时存在的接触不良,或机械振动会造成接线断开,这种现象延长了测试时间,影响测试可靠性及测试效率。为此,寻求一种可靠的测试接头十分必要。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的是:提供一种电气试验测试接头,它能有效提高现有的测试线插头与断路器汇控箱端子排孔相连接时的可靠性,提升工作效率,以克服现有技术的不足。
[0004]本实用新型是这样实现的:电气试验测试接头,包括测试接头,测试接头为中空的管状结构,测试接头的前端为敞口结构,并在其前端设有一圈向内侧凸起的可动触头限位凸台;在测试接头的管内后端设有弹簧,在测试接头的管内前端设有可动触头;在测试接头的末端连接有接头座,在接头座的末端设有测试线插孔;可动触头与弹簧、弹簧与测试接头、以及测试接头与接头座的测试线插孔之间均相互导通。
[0005]由于采用了上述技术方案,与现有技术相比,本实用新型采用在中空的接头中设置可动触头与弹簧的结构,利用弹簧的弹力顶住可动触头,增加可动触头与端子排孔内螺钉连接紧密性,解决了现有的测试线插头与端子排孔硬对硬的接触方式,试验时存在的接触不良或机械振动造成接线断开的问题。本实用新型结构简单可靠,成本低廉,使用效果好。
【专利附图】

【附图说明】
[0006]附图1为本实用新型的结构示意图;
[0007]附图2、附图3为本实用新型的使用示意图。
【具体实施方式】
[0008]本实用新型的实施例:电气试验测试接头的结构如图1所示,包括测试接头2,测试接头2为中空的管状结构,测试接头2的前端为敞口结构,并在其前端设有一圈向内侧凸起的可动触头限位凸台6 ;在测试接头2的管内后端设有弹黃4,在测试接头2的管内如端设有可动触头I ;在测试接头2的末端连接有接头座3,在接头座3的末端设有测试线插孔7 ;可动触头I与弹簧4、弹簧4与测试接头2、以及测试接头2与接头座3的测试线插孔7之间均相互导通。
[0009]在使用时,如图2所示,将现有的测试线插头5连接到接头座3试线插孔7中,如图3所示,将测试接头2连接到断路器汇控箱端子8的排孔中。当测试接头2插入端子8的过程中时,可动触头I与端子8中的端子螺钉9接触,并被压缩回测试接头2内,可动触头I因此而压缩弹簧4,由于压缩弹簧4的反作用力,提高了可动触头I与端子螺钉9连接的紧密性,以保证可动触头I与端子螺钉9的可靠接触。
【权利要求】
1.一种电气试验测试接头,包括测试接头(2),其特征在于:测试接头(2)为中空的管状结构,测试接头(2)的前端为敞口结构,并在其前端设有一圈向内侧凸起的可动触头限位凸台(6);在测试接头(2)的管内后端设有弹黃(4),在测试接头(2)的管内如端设有可动触头(I);在测试接头(2)的末端连接有接头座(3),在接头座(3)的末端设有测试线插孔(7);可动触头(I)与弹簧(4)、弹簧(4)与测试接头(2)、以及测试接头(2)与接头座(3)的测试线插孔(7)之间均相互导通。
【文档编号】G01R1/04GK203396796SQ201320523370
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2013年8月26日 优先权日:2013年8月26日
【发明者】史纯清, 陆承虎 申请人:都匀供电局
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1