星轮架检具的制作方法
【专利摘要】一种星轮架检具，包括底座、支架，所述底座上放置有支架，其特征在于，所述支架的中部设有固定轴，所述固定轴底端连接有固定架，所述固定架下端连接有仪表盘，所述仪表盘底端固定有准针。其有益效果是：结构简单，小巧轻便，可以用于批量检测星轮架。
【专利说明】星轮架检具
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检具领域，特别是一种星轮架检具。
【背景技术】
[0002]星轮架的上半部分呈“U”形结构，在生产后需要测量上半部分内侧底面的弧度，而现有技术所生产出的检具多为杆状结构，不能探入星轮架内部进行探测。市场上已经有了通过光学仪器来进行精准检测的设备，但是这些设备一般体积较大，而且成本很高，只能用于样品的检测，不能对产品进行批量检测。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是为了解决上述问题，设计了一种星轮架检具。具体设计方案为:
[0004]一种星轮架检具，包括底座、支架，所述底座上放置有支架，其特征在于，所述支架的中部设有固定轴，所述固定轴底端连接有固定架，所述固定架下端连接有仪表盘，所述仪表盘底端固定有准针。
[0005]所述支架为“T”形结构。
[0006]所述固定架贯穿所述支架与所述固定轴相连，且所述支架可沿垂直方向转动。
[0007]所述准针贯穿所述固定架与所述仪表盘连接，且所述仪表盘、准针可沿垂直方向转动。
[0008]通过本实用新型的上述设计方案得到的星轮架检具，其有益效果是:结构简单，小巧轻便，可以用于批量检测星轮架。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型所述星轮架检具的结构示意图；
[0010]图中，1、底座；2、支架；3、固定轴；4、固定架；5、仪表盘；6、准针。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图对本实用新型进行具体描述。
[0012]一种星轮架检具，包括底座1、支架2，所述底座I上放置有支架2，所述支架2的中部设有固定轴3，所述固定轴3底端连接有固定架4，所述固定架4下端连接有仪表盘5，所述仪表盘5底端固定有准针6。
[0013]所述支架2为“T”形结构。
[0014]所述固定架4贯穿所述支架2与所述固定轴3相连，且所述支架4可沿垂直方向转动。
[0015]所述准针6贯穿所述固定架4与所述仪表盘5连接，且所述仪表盘5、准针6可沿垂直方向转动。[0016]使用时，现将所述支架2从底座I上取下，然后将支架2放在星轮架的顶端，然后即可通过对正准针6、转动所述准针6与固定架4进行测量，所述测量值会显示在所述仪表盘5上。
[0017]上述技术方案仅体现了本实用新型技术方案的优选技术方案，本【技术领域】的技术人员对其中某些部分所可能做出的一些变动均体现了本实用新型的原理，属于本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1. 一种星轮架检具，包括底座(1)、支架(2 )，所述底座(1)上放置有支架(2 )，其特征在于，所述支架(2)的中部设有固定轴(3),所述固定轴(3)底端连接有固定架(4),所述固定架(4 )下端连接有仪表盘(5 )，所述仪表盘(5 )底端固定有准针(6 )。
2.根据权利要求1中所述的星轮架检具，其特征在于，所述支架(2)为“T”形结构。
3.根据权利要求1中所述的星轮架检具，其特征在于，所述固定架(4)贯穿所述支架(2)与所述固定轴(3)相连，且所述支架(4)可沿垂直方向转动。
4.根据权利要求1中所述的星轮架检具，其特征在于，所述准针(6)贯穿所述固定架(4 )与所述仪表盘( 5 )连接，且所述仪表盘(5 )、准针(6 )可沿垂直方向转动。
【文档编号】G01B5/20GK203454956SQ201320523199
【公开日】2014年2月26日 申请日期:2013年8月26日 优先权日:2013年8月26日
【发明者】刘涛, 啜殿阁 申请人:天津宝诺机械制造有限公司