一种磁共振超导线圈故障测试工具的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种医疗用具故障检测工具，特别是一种磁共振超导线圈故障测试工具，包括：基准电路，用于发出基准电压；电流放大电路，与所述基准电路连接；采样电路，与所述放大电流电路连接；测试负载电路，与所述采样电路连接；比较反锁电路，分别与所述放大电流电路和所述采样电路连接，并与所述电流放大电路反锁；以及，比较电路，分别与所述采样电路、所述测试负载电路和所述比较反锁电路连接。采用上述技术方案后，本实用新型具有的有益效果是：不需要拆装发射线圈，只需1个人2分钟左右即可完成故障检测；节省人力、缩短检测时间，测试方便、快捷，有利于生产检测和维修工作人员维修，降低生产的时间，生产成本低。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及医疗用具故障检测领域，尤其是指一种磁共振超导线圈故障测试 工具。 一种磁共振超导线圈故障测试工具
【背景技术】
[0002] 贝斯达公司从2013年安装超导磁共振成像系统已达10多台，在安装使用过程中， 发射线圈故障时有发生，而这种故障大多数是发射二极管被意外击穿所致。除了从设备工 艺改进减少二极管故障率外，从维修的角度，要求工程师能快速检测出问题所在，进而排除 故障。目前通常的做法是拆发射线圈的情况下直接用万用表对所有二极管逐个检测；由于 目前超导磁共振系统中有一个部件经常在使用中发生二极管故障，而检测该故障必须将超 导发射线圈拆下，用万用表逐个检测，才能判断，这样做非常不方便，此外，拆发射线圈一般 需要2个人1个多小时才能检测出故障，有时候不一定是线圈故障导致而做无用功；而在不 拆发射线圈的情况下用万用表测接头电阻，检测结果不准确，因为用万用表测试只有在多 个二极管损坏时才能测量出。本实用新型的目的就是要在不拆装超导发射线圈的情况下对 二极管的好坏进行判断，节省时间，提高工作效率。 实用新型内容
[0003] 为解决上述问题，本实用新型提供一种磁共振超导线圈故障测试工具，其不需要 拆装超导发射线圈，只需1个人花2分钟左右即可完成故障检测，节省人力，节省时间。
[0004] 为实现上述目的，本实用新型采用如下的技术方案是：一种磁共振超导线圈故障 测试工具，其特征在于：包括：
[0005] 基准电路，用于发出基准电压；
[0006] 电流放大电路，与所述基准电路连接；
[0007] 采样电路，与所述放大电流电路连接；
[0008] 测试负载电路，与所述采样电路连接；
[0009] 比较反锁电路，分别与所述放大电流电路和所述采样电路连接，并与所述电流放 大电路反锁；以及，
[0010] 比较电路，分别与所述采样电路、所述测试负载电路和所述比较反锁电路连接。 [0011] 优选的是，所述的电流放大电路采用晶体三极管为放大基础元件。
[0012] 优选的是，所述的测试负载电路包括：一字型串联的二极管和电感。
[0013] 优选的是，所述的二极管和所述的电感各采用8个或8个以上。
[0014] 优选的是，所述的比较反锁电路采用单闭环的方式与所述的电流放大电路进行反 锁。
[0015] 优选的是，所述的比较电路包括：红色发光二极管和黄色发光二极管。
[0016] 优选的是，所述的比较电路采用的电压比较器为LM393或LM339。
[0017] 本实用新型的有益效果在于：不需要拆装发射线圈，只需1个人2分钟左右即可完 成故障检测；节省人力、缩短检测时间，测试方便、快捷，有利于生产检测和维修工作人员维 修，降低生产的时间，从而达到降低生产成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0018] 图1是本实用新型的一种实施例结构示意图。
[0019] 图2是本实用新型的另一种实施例结构示意图。
[0020] 图3是本实用新型的另一种实施例结构示意图。
【具体实施方式】
[0021] 请参阅图1-3所示，本实用新型关于一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征 在于：包括：
[0022] 基准电路1，用于发出基准电压；
[0023] 电流放大电路2,与所述基准电路1连接；
[0024] 采样电路3,与所述放大电流电路2连接；
[0025] 测试负载电路4,与所述采样电路3连接；
[0026] 比较反锁电路5,分别与所述放大电流电路2和所述采样电路3连接，并与所述电 流放大电路2反锁；以及，
[0027] 比较电路6,分别与所述采样电路3、所述测试负载电路4和所述比较反锁电路5 连接。
[0028] 其中，所述的测试负载电路4包括：一字型串联的二极管41和电感42。
[0029] 其中，所述的电流放大电路2采用晶体三极管为放大基础元件。
[0030] 其中，所述的二极管41和所述的电感42各采用8个或8个以上。
[0031] 其中，所述的比较反锁电路5采用单闭环的方式与所述的电流放大电路2进行反 锁。
[0032] 其中，所述的比较电路6包括：红色发光二极管61和黄色发光二极管62。
[0033] 其中，所述的比较电路7采用的电压比较器为LM393或LM339。
[0034] 如图2所示，本实用新型的实施例检测的负载线圈是采用一字型串联的二极管41 和电感42,所述的二极管41和所述的电感42各具有8个，所述的二极管41与所述的电感 42的连接方式采用一个二极管41与一个电感42间隔连接。
[0035] 采用上述结构后，本实用新型在上述的实施例的上检测的结果最佳，不需要拆装 发射线圈，只需1个人2分钟左右即可完成故障检测；节省人力、同时缩短检测时间。
[0036] 本实用新型的比较结果是：
[0037] (1)如果有一个或多个二极管41击穿（导通）
[0038] 本测试工具将有一个红色发光二极管61点亮，指示故障。
[0039] (2)如果有一个或多个二极管41开路（不通）
[0040] 本测试工具将有一个黄色发光二极管62点亮，指示故障。
[0041] (3)如果有一个串联电感42开路（不通）
[0042] 本测试工具将有一个黄色发光二极管62点亮，指示故障。
[0043] 以上实施方式仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型 的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本 实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保 护范围内。
【权利要求】
1. 一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：包括： 基准电路，用于发出基准电压； 电流放大电路，与所述基准电路连接； 采样电路，与所述放大电流电路连接； 测试负载电路，与所述采样电路连接； 比较反锁电路，分别与所述放大电流电路和所述采样电路连接，并与所述电流放大电 路反锁；以及， 比较电路，分别与所述采样电路、所述测试负载电路和所述比较反锁电路连接。
2. 根据权利要求1所述的一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：所述的电 流放大电路采用晶体三极管为放大基础元件。
3. 根据权利要求1所述的一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：所述的测 试负载电路包括：一字型串联的二极管和电感。
4. 根据权利要求3所述的一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：所述的二 极管和所述的电感各采用8个或8个以上。
5. 根据权利要求1所述的一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：所述的比 较反锁电路采用单闭环的方式与所述的电流放大电路进行反锁。
6. 根据权利要求1所述的一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：所述的比 较电路包括：红色发光二极管和黄色发光二极管。
7. 根据权利要求1所述的一种磁共振超导线圈故障测试工具，其特征在于：所述的比 较电路采用的电压比较器为LM393或LM339。
【文档编号】G01R35/00GK203849392SQ201320532773
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2013年8月23日 优先权日:2013年8月23日
【发明者】罗斌斌, 郭文, 刘金成, 罗振, 陈文波 申请人:深圳市贝斯达医疗器械有限公司