用于接收传感器输入信号的设备和方法
【专利摘要】一种设备，方法和计算机程序，其中所述设备包括至少一个干涉计，其中至少一个干涉计配置成造成电磁输入信号的干扰；其中所述至少一个干涉计配置成从至少一个传感器接收至少一个传感器输入信号，使得传感器输入信号控制通过所述至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰；其中所述至少一个干涉计配置成提供多个输出，其中通过所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号来提供多个输出中的每个输出；以及至少一个检测器配置成检测所述至少一个干涉计的多个输出并且提供指示至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
【专利说明】用于接收传感器输入信号的设备和方法
【技术领域】
[0001]本发明的实施例一般地涉及用于接收传感器输入信号的设备和方法。具体地，它们涉及用于接收传感器输入信号的设备和方法，其中设备包括至少一个干涉计。
【背景技术】
[0002]可以配置成测量或检测物理变量的传感器是已知的。为了使得传感器的输出可以由电子设备来处理或使用，将传感器输入信号转换成数字格式可能是必要的。具有支持将提供数字输出信号的简单设备将是有益的。
【发明内容】
[0003]根据本公开的各种但并非所有的实施例，提供一种设备，包括:至少一个干涉计，其中至少一个干涉计配置成造成电磁输入信号的干扰；其中所述至少一个干涉计配置成从至少一个传感器接收至少一个传感器输入信号，使得传感器输入信号控制通过所述至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰；其中所述至少一个干涉计配置成提供多个输出，其中通过由所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号来提供多个输出中的每个输出；以及至少一个检测器，配置成检测所述至少一个干涉计的多个输出并且提供指示至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
[0004]在一些实施例中，由至少一个干涉计提供的不同灵敏度中的每个灵敏度可以具有值2Ηχ，其中X是由至少一个干涉计响应于传感器输入信号而引入的相移值，并且N是提供的输出的数目，并且输出的每个与在I和N之间的i的唯一正整数值关联。
[0005]在一些实施例中，指不至少一个传感器输入信号的数字输出信号可以包括一系列的数字，其中每个数字是O或I。
[0006]在一些实施例中，设备可以配置成将指示传感器输入信号的数字输出信号转换成二进制格式。
[0007]在一些实施例中，设备可以包括多个干涉计。多个干涉计可以彼此并排布置。可以在单片电路基底或在单个芯片上提供所述多个干涉计。
[0008]在一些实施例中，设备可以包括至少一个干涉计，其配置成多次接收相同的传感器输入信号并且在不同灵敏度处提供多个不同的输出信号。
[0009]在一些实施例中，传感器输入信号通过向至少一个干涉计引入相移来控制由所述至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰。
[0010]在一些实施例中，电磁输入信号可以包括多个相干分量。
[0011]在一些实施例中，电磁输入信号可以由激光器或单个光子来提供。
[0012]在一些实施例中，至少一个检测器可以配置成将至少一个干涉计的多个输出从电磁信号转换成电信号。
[0013]根据本公开的各种但并非所有的实施例，提供一种方法，包括:从至少一个传感器接收至少一个传感器输入信号；配置至少一个干涉计，以造成电磁输入信号的干扰，其中通过至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰由传感器输入信号控制；提供多个输出，其中多个输出的每个输出由所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号来提供；以及检测所述至少一个干涉计的多个输出并且提供指示至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
[0014]在一些实施例中，由至少一个干涉计提供的不同灵敏度中的每个灵敏度可以具有值2Ηχ，其中X是由至少一个干涉计响应于传感器输入信号而引入的相移值，并且N是提供的输出的数目，并且输出的每个输出与在I和N之间的i的唯一正整数值关联。
[0015]在一些实施例中，指不至少一个传感器输入信号的数字输出信号可以包括一系列的数字，其中每个数字是O或I。
[0016]在一些实施例中，该方法可以进一步包括将指不传感器输入信号的数字输出信号转换成二进制格式。
[0017]在一些实施例中，多个干涉计可以每个提供不同的输出。多个干涉计可以彼此并排布置。可以在单片电路基底或在单个芯片上提供所述多个干涉计。
[0018]在一些实施例中，一个干涉计可以多次接收传感器输入信号并且在不同灵敏度处提供多个不同的输出信号。
[0019]在一些实施例中，传感器输入信号通过向至少一个干涉计弓I入相移来控制由所述至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰。
[0020]在一些实施例中，电磁输入信号可以包括多个相干分量。
[0021]在一些实施例中，电磁输入信号可以由激光器或单个光子来提供。
[0022]在一些实施例中，该方法可以进一步包括将至少一个干涉计的多个输出从电磁信号转换成电信号。
[0023]根据本公开的各种但并非所有的实施例，提供一种包括计算机程序指令的计算机程序，当由至少一个处理器执行时，计算机程序指令使得:配置至少一个干涉计以造成电磁输入信号的干扰，其中通过至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰由接收的传感器输入信号来控制；配置至少一个干涉计以提供多个输出，其中由所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号来提供多个输出中的每个输出；以及检测所述至少一个干涉计的多个输出并且提供指示至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
[0024]在一些实施例中，可以提供一种包括程序指令的计算机程序，用于使得计算机来执行如上所述的方法。
[0025]在一些实施例中，可以提供一种物理实体，其体现如上所述的计算机程序。
[0026]在一些实施例中，可以提供携带如上所述的计算机程序的电磁载波信号。
[0027]该设备可以用于提供物理特性的测量。
【专利附图】
【附图说明】
[0028]为了更好的理解本发明的实施例的各种例子，现在将仅通过例子来对附图做出参考，其中:
[0029]图1示意性地示出根据本公开的实施例的设备；
[0030]图2更详细地示意性示出根据本公开的实施例的设备；
[0031]图3是示出在本公开的实施例中、可以由设备提供的输出的曲线图；以及
[0032]图4是使用根据本公开的实施例的设备的方法的框图。
【具体实施方式】
[0033]附图示出设备1，包括:至少一个干涉计11，其中至少一个干涉计11配置成造成电磁输入信号7的干扰；其中所述至少一个干涉计11配置成从至少一个传感器5接收至少一个传感器输入信号9，使得传感器输入信号9控制通过所述至少一个干涉计11造成的电磁输入信号7的干扰；其中所述至少一个干涉计7配置成提供多个输出13，其中，由所述至少一个干涉计11以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号9来提供多个输出13中的每个输出；以及至少一个检测器15，配置成检测所述至少一个干涉计7的多个输出13并且提供指示至少一个传感器输入信号9的数字输出信号17。
[0034]图1示意性地示出根据本公开的实施例的设备I。如下所述，设备I配置成使得一个或多个干涉计11被用于将传感器5的输出转换成数字输出信号17。
[0035]在下面的描述中，除非明确地示出，单词“连接”和“耦合”以及它们的派生物意味着可操作性地连接或可操作性地耦合。可以理解任意数目的中间组件或中间组件的组合包括无中间组件可以存在。
[0036]在图1中示意性地示出示例性设备1，其包括至少一个干涉计11和至少一个检测器15，其将在下面更为详细地描述。
[0037]至少一个干涉计11可以包括可以配置成接收电磁输入信号7以及造成接收的电磁输入信号7的干扰的任意装置。在本公开的实施例中，接收的电磁输入信号7的干扰可以通过向电磁输入信号7添加相移来造成。添加的相移可以通过从传感器5所接收的输入信号9来控制。
[0038]在本公开的一些示例性实施例中，干涉计11中的至少一些干涉计可以是可调谐的，从而可以改变由接收的输入信号9所引入的相移量。在此类的实施例中，设备I可以耦合到控制器，以使得设备I接收合适的控制输入信号。
[0039]在本公开的一些示例性实施例中，至少一个干涉计11可以包括一个或多个马赫一曾德尔干涉计。在本公开的其他实施例中，可以使用其他类型的干涉计。
[0040]在本公开的一些实施例中，可以提供多个干涉计11。多个干涉计可以彼此并排布置，从而每个干涉计11接收相同的电磁输入信号7，但由每个干涉计11向电磁输入信号添加的相位差是独立于由其他的干涉计11所添加的相位差的。可以在单个的芯片12或其他单片电路基底上布置多个干涉计11。
[0041]在本公开的一些实施例中，至少一个干涉计11可以是无损的，从而当电磁输入信号7通过至少一个干涉计11时没有衰减。
[0042]在图1的示例性实施例中，设备I耦合到电磁辐射的源3，从而至少一个干涉计11配置成从电磁辐射的源3接收电磁输入信号7。
[0043]电磁辐射的源3可以包括电磁输入信号的任意合适的源。例如，电磁辐射的源3可以包括激光器或单个的光子输入。
[0044]电磁输入信号7可以包括任意类型的电磁福射。在本发明的一些实施例中，电磁输入信号7可以包括紫外光、可见光或红外福射。电磁输入信号7可以具有100和2500nm之间的波长。在本公开的一些实施例中，电磁输入信号7的波长可以是大约1550nm。
[0045]在本公开的一些不例性实施例中，电磁输入信号7可以包括多个相干分量。由于分量是相干的，因此取决于添加在分量之间的相位差，分量将彼此干扰。至少一个干涉计11可以配置成引入电磁输入信号7的分量间的相位差并且从而造成相应的分量之间的干扰。
[0046]设备I也配置成耦合到一个或多个传感器5。一个或多个传感器5可以包括用于检测或测量物理变量并且提供传感器输入信号9作为输出的任意装置。可以向设备I提供传感器输入信号9并且该传感器输入信号9可以取决于测量的或检测的物理变量。传感器输入信号9可以提供物理变量的指示，该物理变量已经由传感器5测量。
[0047]使用的传感器5的类型可以取决于将要被检测或测量的物理变量。在本公开的一些示例性实施例中，由传感器5所测量的物理变量可以包括温度、大气条件、压力、噪声、化学或任意其他物理变量的存在。
[0048]设备I可以耦合到传感器5，从而传感器5的输出由至少一个干涉计11作为传感器输入信号9接收。传感器输入信号9可以控制由至少一个干涉计11添加到电磁输入信号7的分量的相位差。这造成电磁输入信号7的分量间的干扰量将被改变，从而由至少一个干涉计11所提供的输出信号13提供由传感器5所测量的物理变量的指示。
[0049]在本发明的实施例中，其中提供多个干涉计11，其中多个干涉计11中的每个干涉计可以配置成具有用于响应传感器输入信号9的不同灵敏度。干涉计11的灵敏度是干涉计11对于传感器输入信号9的响应的幅度的度量。具有灵敏度X的干涉计11将对于传感器输入信号9的给定输入值y引入相移X。当多个干涉计11的每个干涉计配置成具有不同灵敏度时，多个干涉计11的每个干涉计可以引入不同的相移X。
[0050]图1中示出的示例性设备I也包括至少一个检测器15。检测器15可以包括配置成检测由至少一个干涉计11提供的输出13并且将多个输出13从电磁信号转换成电输出信号17的任意装置。
[0051]在本公开的一些示例性实施例中，至少一个检测器15可以包括阈值检测器15。阈值检测器可以配置成如果接收的输入信号13高于阈值时提供正输出“I”并且如果接收的输入信号13低于阈值时提供负输出“O”。将理解到在本发明的其他实施例中，可以使用其他类型的检测器，其不需要是阈值检测器。
[0052]在本公开的一些实施例中，可以并排地提供多个检测器15，从而多个干涉计11的每个输出被提供给不同的检测器15。在此类的实施例中，可以在单个的芯片14或其他单片电路基底上提供多个检测器。在其他的实施例中，可以提供单个的检测器15，其可以配置成顺序地接收多个输入。可以从多个干涉计11或从单个的干涉计11提供多个输入13。
[0053]当设备I在使用中时，传感器5向设备I提供指示测量的或检测的物理变量的传感器输入信号9。传感器输入信号9用于控制由设备I内的干涉计11所引入的干扰量。
[0054]在本发明的一些实施例中，设备I也可以配置成耦合到控制器。控制器可以配置成向干涉计11提供一个或多个控制输入。这可以使得干涉计11的灵敏度将被控制或校准。
[0055]由至少一个干涉计11所提供的多个输出信号13取决于传感器输入信号9,从而多个输出信号13提供测量的或检测的物理变量的指示。
[0056]检测器15将至少一个干涉计11的多个输出13从电磁信号转换成电输出信号17。在一些实施例中，检测器15包括阈值检测器，由该检测器所提供的输出是I或O。因此，设备I的输出包括数字输出，该数字输出包括一系列的数字，其可以具有O或I的值。设备I的数字输出17可以是这样的一种格式，其可以由处理器来处理。在一些示例性实施例中，设备I的数字输出17在其可以由处理器使用前，需要被转换成标准的二进制格式。
[0057]图2更为详细地示出根据本公开的实施例的设备I。如上所述，关于图1，设备I包括至少一个干涉计11和至少一个检测器15。在图2的示例性实施例中，设备包括多个干涉计11和多个检测器15。
[0058]设备I也耦合到电磁辐射的源3，其配置成向设备I提供电磁输入信号7。在图2中示出的实施例中，电磁辐射的源3是激光器。将理解的是电磁辐射的其他合适源也可以使用在本公开的其他实施例中。
[0059]设备I也可以耦合到传感器5，其可以配置成向设备I提供传感器输入信号9，然而在图2中未不出传感器5和传感器输入信号9。
[0060]图2中示出的设备I包括多模干涉计21，其配置成将电磁输入信号7划分成多个电磁输入信号。在本公开的一些不例性实施例中，由多模干涉计21提供的每个电磁输入信号可以是等效的，例如每个电磁输入信号可以具有相同的强度，相位和波长。在本发明的其他实施例中，相应的电磁输入信号可能彼此不等效。在本公开的其他实施例中，可以使用将电磁输入信号I划分成多个信号的其他装置。
[0061]在图2中示出的示例性实施例中，提供四个干涉计11。每个干涉计11具有不同灵敏度，从而对于给定的传感器输入，每个干涉计11响应于给定的传感器输入信号而引入不同的相移。这造成每个干涉计11向检测器15提供不同的输出信号13。
[0062]在图2中示出的具体例子中，第一干涉计11具有灵敏度X，从而对于具有值y的给定传感器输入信号9，由第一干涉计11向电磁输入信号7引入相移X。其他干涉计11的每个的灵敏度通过因子21与第一输入的灵敏度相关。即，第二干涉计11具有灵敏度2x，从而对于具有值y的给定传感器输入信号9，2x的相移由第二干涉计11引入进电磁输入信号
7。类似地，第三干涉计11具有灵敏度4x，从而对于具有值y的给定传感器输入信号9，4x的相多由第三干涉计11引入进电磁输入信号7，并且第四干涉计11具有灵敏度8x，从而对于具有值I的给定传感器输入信号9，8x的相移由第四干涉计11引入到电磁输入信号7。
[0063]将理解到在本公开的其他实施例中，可以提供任意数目的干涉计。对于每个额外的干涉计11，每个干涉计11的灵敏度可以加倍，从而由每个干涉计所提供的不同灵敏度具有值2ΗΧ，其中X是由干涉计11响应给定传感器输入信号所引入的相移的值，N是干涉计11的数目而每个干涉计11与I和N之间的i的唯一正整数值关联。干涉计11的数目可以与向检测器15提供的输出的数目相同，从而输出13的每个也可以与I和N之间的i的唯一正整数值关联。
[0064]令多个干涉计11的灵敏度具有此类的比值可以使得多个干涉计11的输出13更为容易地转换成数字输出。令所有的比值具有21的因子也可以使得数字输出将更为容易地转换成标准二进制输出。
[0065]在图2A的示例性实施例中，提供四个检测器15，从而可以向不同的检测器15提供由干涉计11的每个提供的多个输出信号13的每个输出信号。在图2A的示例性实施例中，检测器15是阈值检测器，其根据从干涉计11所提供的信号13的强度来提供正的或负的输出。
[0066]在图2中示出的实施例中，每个检测器可以是相同的，从而没有差被检测器15添加到设备I的输出信号。
[0067]图3示出可以由图2中示出的示例性设备I中的干涉计11的每个干涉计和检测器15所提供的输出。
[0068]左手曲线图对应于由干涉计11所提供的输出信号13。输出信号是电磁信号，其具有由电磁信号已经通过其的干涉计11所引入的相移。由于每个干涉计11具有不同灵敏度，每个干涉计11向电磁信号引入不同的相移。
[0069]强度可以以在任意合适的单元中测量并且在图3中的曲线中的强度作为O到I之间的值给出。
[0070]在图2的例子中，第一干涉计11具有灵敏度X并且从而图3中的第一曲线51，其指示输出信号13的强度的度量，对应于0.5* (1-C0s(X))。第二干涉计具有灵敏度2x并且从而图3中的第二曲线53，对应于0.5* (1-cos (2x))。类似地，第三干涉计具有灵敏度4x并且从而图3中的第三曲线55，对应于0.5*(l-COS(4x))，并且第四干涉计具有灵敏度Sx并且因此图3中的第四曲线57对应于0.5*(l-cos(8x))。
[0071]右手曲线对应于由每个检测器所提供的输出。如果干涉计11的输出13的强度小于0.5，则相应的检测器提供负输出或“O”。相反地，如果干涉计11的输出13的强度高于
0.5，则相应的检测器提供正输出或“I”。
[0072]第一右手曲线61对应于来自于第一检测器15的输出17并且当添加的相位差对应于近似90度时，从O切换到I。曲线61具有近似360度的周期。第二右手曲线63对应于来自于第二检测器15的输出17并且当添加的相位差对应于近似45度时，从O切换到I，并且当添加的相位差对应于近似135度时，切换回O。曲线63具有近似180度的周期。类似地，第三右手曲线65对应于来自于第三检测器15的输出17，其在近似于22.5度处从O切换到1，并且在近似于67.5度切换回0，并且具有近似90度的周期。第四右手曲线67对应于来自于第四检测器15的输出17，其在近似于11度处从O切换到I并且在近似34度处切换回0，并且具有近似45度的周期。
[0073]由图2中示出的设备所提供的输出17包括由每个检测器15所提供的分量，并且从而包括一系列的四位数字，其中每个数字是O或I。存在16种不同的可能数字输出，其可以由检测器来提供，这使得将被测量的输出具有最不灵敏干涉计11的一半周期的l/16th的准确性。在该例子中，精确度因此是11.25度。通过使用具有更高灵敏度的更多干涉计11，可以增加设备I的精确度。
[0074]由图2中示出的设备I所提供的数字输出17并不是标准的二进制格式。在本公开的一些实施例中，设备I可以耦合到用于将设备I的数字输出17转换成标准二进制格式的装置。该用于将设备I的数字输出17转换成标准二进制格式的装置可以包括任意合适的装置，例如以合适的程序指令编程的处理器或专用集成电路(ASIC)。
[0075]可以用于将图2中示出的设备I的检测器15的输出17转换成标准二进制格式的示例性算法可以使用例如XOR(异或)函数的函数。
[0076]例如，如果检测器的输出是adcd，其中a是第一检测器的输出，b是第二检测器的输出，c是第二检测器的输出，并且d是第四检测器的输出。则通过使用如下的算法来从图3中示出的输出17获得标准的二进制输出:
[0077]A = a,
[0078]B = A XOR b,
[0079]C = B XOR c,
[0080]D = C XOR d。
[0081]对于其中不同数目的干涉计11，也可以使用类似的算法。例如，对于其中设备I包括N个干涉计11，可以通过使用下面的算法来从由设备I提供的原始数字数据r获得标准二进制代码。
[0082]s_N = r_N
[0083]for j = 1:1:N~1
[0084]s_(N-j) = s_(N-j+l)X0R r_(N-j)
[0085]end
[0086]其中N的值被按顺序分配给干涉计11，从而最不灵敏的干涉计11具有i = N,并且最为灵敏的干涉计11具有i = I。
[0087]在图3中，线59和69指示已经做出的计算。这已经向第一干涉计11引入近似120度的相位差。由设备I所提供的数字输出17是1111，并且在应用了上述的算法后，这给出1010的二进制输出。
[0088]图4示出根据本公开的实施例的方法。
[0089]在块71处,设备I从至少一个传感器5接收至少一个传感器输入信号9。传感器5和传感器输入信号9可以如上关于图1所描述的，从而传感器输入信号9提供已经由传感器5所测量或检测的真实物理变量的指示。
[0090]在块73处，至少一个干涉计11配置成造成电磁输入信号7的干扰。可以如关于图1和图2所述的向设备I提供电磁输入信号7。
[0091]通过至少一个干涉计11的电磁输入信号7的干扰可以由至少一个干涉计11向电磁输入信号7引入相移来造成。向电磁输入信号7添加相移的量可以通过传感器输入信号9来控制，从而由至少一个干涉计11所添加的相移的量对应于传感器输入信号9，该传感器输入信号9由块71中的设备I所接收。
[0092]在块75处，由至少一个干涉计11提供多个输出13。由于由至少一个干涉计11所添加的相移量对应于传感器输入信号9,至少一个干涉计11的多个输出13提供由传感器5测量的物理变量的值的指示。
[0093]在块75处提供的输出13的每个可以由至少一个干涉计11以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号9来提供，如关于图1到图3所描述的。在本公开的一些实施例中，可以提供多个不同的干涉计11，并且每个干涉计11可以具有不同灵敏度，从而每个干涉计11响应于相同的传感器输入信号9而提供不同的输出。在本公开的其他实施例中,可以配置同一干涉计11来提供多个不同的输出，每个输出具有不同灵敏度。
[0094]在块77处，检测至少一个干涉计11的输出信号13。检测的电磁输出信号13接着可以被转换成数字输出信号17，以提供指示至少一个传感器输入信号9的数字输出信号。数字输出信号17可以包括一系列的数字，每个数字是O或I。如上所述，所使用的检测器15可以包括阈值检测器，其提供负的或正的输出。
[0095]图4中示出的块可以代表方法中的步骤和/或计算机程序中的代码段。对块的具体顺序的说明并不必然意味着对于块存在所需要或优选的顺序，并且块的顺序和布置可以改变。进一步，可以省略一些块。
[0096]本公开的实施例提供一种简单的设备1，其可以用于将模拟的传感器输入信号转换成数字输出信号。本公开的实施例并不需要任何额外的电路装置，例如模数转换器、放大器或反馈电路，以提供数字输出。
[0097]本公开的实施例的设备I也具有低功率使用，因为数字输出由设备I直接提供而不需要任何的额外电路装置。
[0098]本公开的实施例也可以结合任意合适的传感器来使用。这使得设备I可以在范围更大的应用中使用。在本公开的一些实施例中，设备I可以实现在这样的装置内，例如电子通信装置，例如移动电话。
[0099]尽管已经在前面的段落中参考各种例子描述了本发明的实施例，应该理解的是对于给定例子的修改可以在没有偏离本发明的范围下做出。例如，在上述的实施例中提供多个干涉计11。然而，将理解的是在本公开的替代实施例中，可以使用单个的干涉计11并且可以多次的向单个的干涉计11提供相同的输入信号9。可以控制由相同的干涉计11所提供的相位差，以提供具有不同相移的多个不同输出信号13，引入的不同相移对应于干涉计11的不同灵敏度。可以以任意合适的方式来控制灵敏度，例如，灵敏度可以由控制器提供的输入信号来控制，通过改变干涉计11接收传感器输入信号的时间量或通过任意其他合适的装置。
[0100]在本公开的一些示例性实施例中，通过向设备I提供已知的传感器输入信号，可以校准传感器输入信号9的值。在一些实施例中，也可以向设备I提供控制信号，以控制由干涉计11所添加的相差。这允许设备I的校准或用于精调设备I。
[0101]前面描述中所述的物理可以在除这里明确描述的组合外的组合中使用。
[0102]尽管参考某些特征已经描述了功能，那些功能可以由某些的特征来执行，无论是否对其进行了描述。
[0103]尽管已经参考了某些实施例描述了特征，那些特征也可以存在其他的实施例中，无论是否对其进行了描述。
[0104]尽管在上述的说明书中已经致力于将注意力引入被认为是本发明特别重要的那些特征，但应该理解 申请人:要求关于在前面提及和/或在附图中示出的任何可专利特征或特征的组合的保护，而无论是否其进行了特别的强调。
【权利要求】
1.一种设备，包括: 至少一个干涉计，其中所述至少一个干涉计配置成造成电磁输入信号的干扰； 其中所述至少一个干涉计配置成从至少一个传感器接收至少一个传感器输入信号，使得所述传感器输入信号控制通过所述至少一个干涉计造成的所述电磁输入信号的干扰； 其中所述至少一个干涉计配置成提供多个输出，其中通过所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应所述至少一个传感器输入信号来提供所述多个输出中的每个输出；以及 至少一个检测器，其配置成检测所述至少一个干涉计的所述多个输出并且提供指示所述至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
2.根据权利要求1所述的设备，其中由所述至少一个干涉计提供的不同灵敏度中的每个灵敏度具有值2Ηχ，其中X是由所述至少一个干涉计响应传感器输入信号而引入的相移值，并且N是提供的输出的数目，并且所述输出中的每个输出与在I和N之间的i的唯一正整数值关联。
3.根据任意前述权利要求所述的设备，其中指示所述至少一个传感器输入信号的数字输出信号包括一系列的数字，其中每个数字是O或I。
4.根据任意前述权利要求所述的设备，其中所述设备配置成将指示所述传感器输入信号的所述数字输出信号转换成二进制格式。
5.根据任意前述权利要求所述的设备，其中所述设备包括多个干涉计。
6.根据权利要求5所述的设备，其中所述多个干涉计彼此并排布置。
7.根据权利要求5到6的任意一项所述的设备，其中在单片电路基底提供所述多个干涉计。
8.根据权利要求7所述的设备，其中在单个芯片上提供所述多个干涉计。
9.根据任意前述权利要求所述的设备，其中所述设备包括至少一个干涉计，其配置成多次接收相同的传感器输入信号，并且在不同灵敏度处提供多个不同的输出信号。
10.根据任意前述权利要求所述的设备，其中传感器输入信号通过向至少一个干涉计弓I入相移来控制由所述至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰。
11.根据任意前述权利要求所述的设备，其中所述电磁输入信号包括多个相干分量。
12.根据任意前述权利要求所述的设备，其中所述电磁输入信号由激光器来提供。
13.根据权利要求1到11的任意一项所述的设备，其中所述电磁输入信号由单个光子来提供。
14.根据任意前述权利要求所述的设备，其中所述至少一个检测器配置成将所述至少一个干涉计的多个输出从电磁信号转换成电信号。
15.一种方法，包括: 从至少一个传感器接收至少一个传感器输入信号； 配置至少一个干涉计，以造成电磁输入信号的干扰，其中通过所述至少一个干涉计造成的所述电磁输入信号的干扰由所述传感器输入信号来控制； 提供多个输出，其中多个输出中的每个输出由所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应所述至少一个传感器输入信号来提供；以及 检测所述至少一个干涉计的多个输出并且提供指示所述至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
16.根据权利要求15所述的方法，其中由所述至少一个干涉计提供的不同灵敏度中的每个灵敏度具有值2Ηχ，其中X是由至少一个干涉计响应传感器输入信号而引入的相移值，并且N是提供的输出的数目，并且所述输出的每个输出与在I和N之间的i的唯一正整数值关联。
17.根据权利要求15到16的任意一项所述的方法，其中指示所述至少一个传感器输入信号的数字输出信号包括一系列的数字，其中每个数字是O或I。
18.根据权利要求15到17的任意一项所述的方法，进一步包括将指示所述传感器输入信号的所述数字输出信号转换成二进制格式。
19.根据权利要求15到18的任意一项所述的方法，其中多个干涉计的每个干涉计提供不同的输出。
20.根据权利要求19所述的方法，其中多个干涉计彼此并排布置。
21.根据权利要求19到20的任意一项所述的方法，其中在单片电路基底上提供所述多个干涉计。
22.根据权利要求21所述的方法，其中在单个芯片上提供所述多个干涉计。
23.根据权利要求15到22的任意一项所述的方法，其中一个干涉计多次接收传感器输入信号并且在不同灵敏度处提供多个不同的输出信号。
24.根据权利要求15到23的任意一项所述的方法,其中传感器输入信号通过向至少一个干涉计引入相移来控制由所述至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰。
25.根据权利要求15到24的任意一项所述的方法,其中所述电磁输入信号包括多个相干分量。
26.根据权利要求15到25的任意一项所述的方法,其中所述电磁输入信号由激光器来提供。
27.根据权利要求15到25的任意一项所述的方法,其中所述电磁输入信号由单个光子来提供。
28.根据权利要求15到27的任意一项所述的方法，进一步包括将所述至少一个干涉计的所述多个输出从电磁信号转换成电信号。
29.—种包括计算机程序指令的计算机程序，当由至少一个处理器执行时，计算机程序指令使得: 配置至少一个干涉计以造成电磁输入信号的干扰，其中通过至少一个干涉计造成的电磁输入信号的干扰由接收的传感器输入信号来控制； 配置所述至少一个干涉计以提供多个输出，其中通过所述至少一个干涉计以不同灵敏度响应至少一个传感器输入信号来提供多个输出中的每个输出；以及 检测所述至少一个干涉计的所述多个输出并且提供指示所述至少一个传感器输入信号的数字输出信号。
30.一种包括程序指令的计算机程序，用于使得计算机来执行根据权利要求15到28的任意一项所述的方法。
31.一种物理实体，其体现根据权利要求29到30的任意一项所述的计算机程序。
32.—种电磁载波信号，其携带根据权利要求29到30的任意一项所述的计算机程序。
【文档编号】G01D21/02GK104246449SQ201380017621
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2013年1月29日 优先权日:2012年1月31日
【发明者】A·尼斯卡南, 李宏伟 申请人:诺基亚公司