一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法
【专利摘要】本发明公开了一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，首先，根据闪变值的实际变化范围，划分若干个闪变值测量量程；然后，根据实际测量的瞬时闪变值，自适应的选择合适的量程进行数据统计；最后，根据数据统计结果计算短时闪变值和长时闪变值。本发明克服了常规闪变测量方法进行限幅处理导致的闪变值误差过大的现象，只需要很小的数据存储量就可以完成计算过程，同时保证了闪变测量的精度，避免了10分钟大数据统计运算造成的阻塞，提高了算法计算效率，可应用在数据存储空间较小、运算速度较低的低端MCU上实现对闪变的监测。
【专利说明】一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法
【技术领域】
[0001]本发明属于电力系统领域，涉及一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，可用于在数据存储容量不足的低成本MCU中实现对闪变的测量。
【背景技术】
[0002]电光源的电压波动造成灯光照度不稳定的人眼视感反应称为闪变，闪变反应了电压波动引起的灯光闪烁对人视感产生的影响。
[0003]由于每个人的感光特性和大脑的反映特性不同，对灯光照度变化的感觉存在差异，决定闪变的因素也比较复杂，所以对于闪变问题一直难以建立精确的数学模型。目前，世界上许多国家均采用有国际电热协会(UIE)制定、推荐，并由国际电工委员会(IEC)发布的测量方法和相应的闪变严重度评估标准。
[0004]IEC闪变测量仪主要由平方检测、解调滤波、视感度加权滤波、平滑滤波以及统计处理几个模块组成。在统计处理模块，进行一次短时闪变的计算要统计若干分钟的瞬时闪变值，比如IEC推荐的10分钟，假设采样频率为500Hz，为保证精度，以浮点型存储数据，则计算三相电压闪变10分钟内需要记录的数据将近4M字节，如此大的数据量对于一些存储空间小运算速度低的低端MCU是无法接受的。
[0005]目前，在低端MCU上实现IEC闪变仪，主要是通过固定测量范围和分级数来达到节省存储空间的目的，即对输入的瞬时闪变值进行了限幅处理，这种方法的闪变值量程受限，并且在瞬时闪变值过大出现限幅后，相当于人为的增加了一个电压突变，严重影响了最终闪变值的计算，无法得到正确的闪变测量结果。
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的技术问题是提供一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，在保证低存储数据量的前提下，实现对闪变量程的自适应变化，并且保证最终测量结果的精确度，同时减少大数据统计工作的计算量。
[0007]实现本发明目的的技术方案如下:
一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，其特征在于:首先根据闪变值的实际变化范围，划分若干个闪变值测量量程；然后根据实际测量的瞬时闪变值，自适应的选择合适的量程进行数据统计；最后根据数据统计结果计算短时闪变值和长时闪变值。
[0008]所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，其特征在于包括如下步骤:
(I)、假设短时闪变最大值为,根据的值划分若干量程:
【权利要求】
1.一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，其特征在于:首先根据闪变值的实际变化范围，划分若干个闪变值测量量程；然后根据实际测量的瞬时闪变值，自适应的选择合适的量程进行数据统计；最后根据数据统计结果计算短时闪变值和长时闪变值。
2.如权利要求1所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，其特征在于包括如下步骤: (1)、假设短时闪变最大值为 Gjms ,根据的值划分若干量程:
3.根据权利要求1所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，其特征在于其中步骤⑴如下: (Ia)、假设短时闪变最大值为，根据的值划分若干量程:
4.根据权利要求1所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法，其特征在于其中步骤⑵如下: (2a)、假设获得的第一个瞬时闪变值为若满足:
【文档编号】G01R31/00GK103713223SQ201410002023
【公开日】2014年4月9日 申请日期:2014年1月3日 优先权日:2014年1月3日
【发明者】刘笑菲, 吴章宪, 蒋剑跃 申请人:烟台东方威思顿电气有限公司