偏光板的检查方法
【专利摘要】本发明的目的是提供偏光板的检查方法，所述方法能够以高准确度且简便地判断偏光板是否不良。本发明涉及偏光板的检查方法，更详细涉及如下的偏光板的检查方法：所述方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷，在所述偏光板的至少一个面上接合有脱模薄膜，其中，在满足数式1的情况下，则判断为偏光板是合格品，从而能够识别偏光板的不良和脱模薄膜的不良，能够减少虽然偏光板是合格品但却被判断为不良品的几率，因具有高准确度的特性而能够提高生产率。
【专利说明】偏光板的检查方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及偏光板的检查方法。
【背景技术】
[0002] 在液晶显示器中，会使用各种光学功能性薄膜。作为所述光学功能性薄膜，已知有 薄膜状的偏光板。在所述偏光板的一个面上形成粘合层，所述粘合层用于将偏光板接合在 液晶显示器的玻璃基板等上。在接合于玻璃基板等之前，用脱模薄膜覆盖所述粘合层。
[0003] 在这种偏光板的制造工序中，有时会产生如下的各种缺陷：在薄膜表面或薄膜内 部附着异物、或者产生污染和瑕疵等。因此，在偏光板的制造工序中要进行缺陷检查。缺陷 检查是从光源对层压薄膜照射光，用照相机拍摄偏光板的透射光或反射光，并根据由该拍 摄得到的图像而进行检查。
[0004] 在日本特开2007 - 213016号公报中，公开了一种缺陷检查装置，所述缺陷检查装 置是在使偏光滤光片介于偏光板与照相机之间的状态下，拍摄偏光板的透射光。将偏光滤 光片配置成，其偏光轴与偏光板的偏光轴正交、即成为所谓的交叉尼科尔状态。由此，在偏 光板不存在缺陷时，由于偏光板的透射光的振动方向与偏光滤光片的偏光轴正交，所以，所 述透射光被偏光滤光片遮断。因此，通过透射光而得到的图像（透射图像）的整个面都是黑 色图像。对此，在偏光板存在缺陷时，透过了所述缺陷部分的透射光的偏光状态发生变化， 由此使所述缺陷部分的透射光透过偏光板。因此，与透射图像的缺陷部分相对应的部分的 亮度变高。由此，能够检查偏光板是否存在缺陷。
[0005] 附着在偏光板上的脱模薄膜，在液晶显示器的制造工序中，最终会从偏光板上剥 离。因此，即使脱模薄膜本身存在缺陷，但只要粘合层的保护功能没有受到损伤，则说起来 也没有必要将所述脱模薄膜的缺陷判断是缺陷。但是，在以往的检查方法中，还无法识别偏 光板的缺陷和脱模薄膜的缺陷。
[0006] 现有技术文献
[0007] 专利文献
[0008] 专利文献1 :日本特开2007 - 213016号公报
【发明内容】
[0009] 发明所要解决的课题
[0010] 本发明的目的是提供偏光板的检查方法，所述方法能够以高准确度且简便地判断 偏光板是否不良。
[0011] 用于解决课题的方法
[0012] 1. -种偏光板的检查方法，所述方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并由利 用位于所述偏光板的相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷，在所述偏光板的至少一个 面上接合有脱模薄膜，其中，在满足下述数式1的情况下，则判断为偏光板是合格品。
[0013] [数式 1]
[0014] A/B 刍 0.2
[0015] 在上式中，A是在所述获取的图像中检测到的黑点所占的像素数，B是在所述偏光 板的某一侧配置了偏光滤光片、以使其吸收轴与所述偏光板正交之后，在获取的图像中的 所述黑点的位置处检测到的亮点所占的像素数。
[0016] 2.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述黑点在灰度（gray level) 128 的基准光量下的灰度是15?128。
[0017] 3.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述亮点在灰度（gray level) 0的 基准光量下的灰度是15?255。
[0018] 4.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述A为1?10000。
[0019] 5.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述B为1?100000。
[0020] 6.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，在所述A/B为0.1以下时，则判断 为偏光板是合格品。
[0021] 发明效果
[0022] 本发明的偏光板的检查方法，能够减少虽然偏光板是合格品、但却由于脱模薄膜 的不良而被判断为不良品的几率，因具有商准确度的特性而能够提商生广率。
[0023] 本发明的偏光板的检查方法能够简便地识别出偏光板的不良和脱模薄膜的缺陷。
【专利附图】
【附图说明】
[0024] 图1是概略性地表示本发明的偏光板的检查方法（白色模式）的一个具体例子的 图。
[0025] 图2是概略性地表示本发明的偏光板的检查方法（黑色模式）的一个具体例子的 图。
[0026] 图3是表示虽然偏光板本身是合格品、但在接合了不良的脱模薄膜情况下的黑点 缺陷以及亮点缺陷的图。
[0027] 图4是表示在本发明的一个具体例子中的、所获取的图像中的黑点缺陷的图。
【具体实施方式】
[0028] 本发明涉及偏光板的检查方法，所述方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并 由利用位于所述偏光板的相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷，在所述偏光板的至少 一个面上接合有脱模薄膜，其中，在满足数式1的情况下，可判断为偏光板是合格品，从而 能够识别偏光板的不良和脱模薄膜的不良，能够减少虽然偏光板是合格品但却被判断为不 良品的几率，因具有高准确度的特性而能够提高生产率。
[0029] 以下，对本发明进行更详细的说明。
[0030] 作为所制造的偏光板的检查方法的代表性的例子，可以列举出如下的两种方法。
[0031] 第一种检查方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的 相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷（白色模式）。在图1中，概略性地表示了所述方 法。
[0032] 参照图1，由于偏光板将从光源照射的光转换成单一的偏光状态后再进行透射，所 以如上所述在白色模式下检查偏光板时，可判断为偏光板的整个面都是高亮度部分。但是， 在偏光板存在缺陷时，由于所述缺陷而使光无法透射，与缺陷相对应的部分表现为黑点。
[0033] 第二种检查方法是在偏光板的某一侧配置了偏光滤光片以使其吸收轴与所述偏 光板正交之后，从位于一侧的光源照射光，再由利用位于所述偏光板的相反侧的摄影器材 获取的图像来检测缺陷（黑色模式）。在图2中，概略性地表示了所述方法。
[0034] 参照图2,当在偏光板的一侧配置了吸收轴为垂直的偏光滤光片的黑色模式下进 行检查时，由于透射光被遮断，所以如上所述在黑色模式下检查偏光板时，可判断为偏光板 的整个面都是黑色图像。但是，在偏光板存在缺陷时，因透过了该缺陷部分的透射光的偏光 状态被改变，而使缺陷部分的透射光透过偏光板，与缺陷部分相对应的部分表现为亮点。
[0035] 以往，仅仅判断所述黑点缺陷或亮点缺陷的大小，在两个缺陷中的任意一个以上 的缺陷的大小超过一定大小时，可判断为偏光板是不良品。
[0036] 可是，在实际的工业上的大批量制造的工序中，由于在偏光板上附着脱模薄膜的 状态下进行生产，所以在检查偏光板时，在接合了脱模薄膜的状态下进行检查。在与偏光板 接合的脱模薄膜存在缺陷的情况下，也可检测到所述黑点缺陷以及亮点缺陷，由于脱模薄 膜在液晶显示器等的制造工序中最终会从偏光板上剥离，因此需要识别脱模薄膜的缺陷与 偏光板的缺陷。
[0037] 然而，如上所述，以往仅仅判断黑点缺陷或亮点缺陷的大小，在两个缺陷中的任意 一个以上的缺陷的大小超过一定大小时，判断为偏光板是不良品的情况下，则无法识别脱 模薄膜的缺陷和偏光板的缺陷，从而存在虽然偏光板本身是合格品、但却由于脱模薄膜的 缺陷而被判断为不良品的问题。
[0038] 虽然所述偏光板的黑点缺陷以及亮点缺陷能够表现出多种形状，并且具有多种形 态，但本发明的发明人着眼于表示在白色模式或黑色模式的图像中识别出脱模薄膜缺陷的 特征这一点，从而发现了本发明。在脱模薄膜存在缺陷的情况下，所述缺陷在白色模式下表 现出黑点缺陷，而在黑色模式下表现出亮点缺陷，并且表现出所述亮点缺陷所占的像素数 大于所述黑点缺陷的像素数。
[0039] 图3表示：虽然偏光板本身是合格品，但在接合了不良的脱模薄膜的情况下的缺 陷，像这样，在偏光板的某处检测到黑点缺陷以及亮点缺陷这两者的情况下，在本发明中， 当在黑点缺陷所占的像素数以及亮点缺陷所占的像素数满足下述数式1时，则认定为脱模 薄膜的缺陷，而判断为偏光板是合格品，从而能够识别脱模薄膜的缺陷和偏光板本身的缺 陷。由此，能够减少大量检测出不良品的几率，并能够提高生产率。
[0040] [数式 1]
[0041] A/B 刍 0.2
[0042] (在上式中，A是在所述获取的图像中检测到的黑点所占的像素数，B是在所述偏 光板的某一侧配置了偏光滤光片、以使其吸收轴与所述偏光板正交之后，在获取的图像中 的所述黑点的位置处检测到的亮点所占的像素数。）
[0043] 图4表示：在由本发明的一个具体例子获取的图像中的黑点缺陷。在图4中，由于 黑点所占的像素数是5,因此A为5。利用相同的方法，由表现出亮点缺陷的图像求出B，并 能够求出A/B。
[0044] 在本发明中，黑点和亮点是指分别在白色模式和黑色模式下检测到的异物。因此， 关于黑点和亮点，根据所制造的偏光板的用途或材质等能够有多种定义。
[0045] 例如，黑点在白色模式下并在灰度（gray level) 128的基准光量下的灰度是15? 128,亮点在黑色模式下并在灰度（gray level) 0的基准光量下的灰度是15?255。若将上 述范围的黑点和亮点代入到本发明的上述数式中进行计算，则表现出高可靠度。
[0046] 灰度是表示明暗的数值，根据白色和黑色的明暗程度，用1?255来表示。黑色为 0,白色与256对应。在黑色模式下没有缺陷的部位由于不会透过光，所以灰度为0。
[0047] 在A/B为0. 2以下时，能够判断为偏光板是合格品，优选在A/B为0. 1以下时能够 判断为偏光板是合格品。A/B在上述数值范围内时的缺陷被看作是在脱模薄膜中产生的缺 陷。由此，能够识别脱模薄膜的缺陷和偏光板的缺陷，能够减少在偏光板本身不存在缺陷的 情况下、也由于脱模薄膜的缺陷而被判断为不良品的几率。
[0048] 对A的范围没有特别限定，例如是1?10000。
[0049] 对B的范围没有特别限定，例如是1?100000。
[0050] 在测定B时，对偏光滤光片的位置没有特别限定，例如其可以位于光源与偏光板 之间，也可以位于偏光板与摄影器材之间。
[0051] 对作为本发明的检查对象的偏光板没有特别限定，其是指在本领域通常所使用的 起偏器以及在该起偏器的至少一个面上包含保护薄膜的偏光板，该偏光板是在所述保护薄 膜中的至少一个薄膜上经由粘合层而附着了脱模薄膜。
[0052] 对起偏器没有特别限定，其是指在本领域通常所使用的利用聚乙烯醇类薄膜进行 制造的起偏器，并利用通常的起偏器的制造方法，经过拉伸工序、溶胀工序、染色工序、硼酸 水溶液的处理工序、水洗以及干燥工序等进行制造。
[0053] 对保护薄膜没有特别限定，可使用透明性、机械强度、热稳定性、隔水性、各向同性 等都优异的薄膜，例如是由如下薄膜构成的一种以上薄膜，即二丙酰纤维素、三丙酰纤维 素、二乙酰纤维素、三乙酰纤维素等的纤维素类薄膜；环烯烃（cyclo-olefin p〇lymer、C0P)、 环烯煙共聚物（cyclo-olefin copolymer、C0C)、聚降冰片烯（polynorbornene、PNB)、聚丙 烯、聚乙烯、乙烯丙烯共聚物等的聚烯烃类薄膜；聚（甲基）丙烯酸甲酯、聚（甲基）丙烯酸 乙酯等丙烯酸酯类薄膜；聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚间苯二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸丁 二醇酯等聚酯类薄膜，优选为三乙酰纤维素等纤维素类薄膜。
[0054] 对附着于本发明的偏光板上的脱模薄膜没有特别限定，其是在本领域通常所使用 的脱模薄膜，例如是由如下树脂构成的薄膜等，即聚乙烯、聚丙烯、聚一 1 一丁烯、聚一 4 一 甲基一 1 一戊烯、乙烯一丙烯共聚物、乙烯一 1 一丁烯共聚物、乙烯一乙酸乙烯酯共聚物、乙 烯一丙烯酸乙酯共聚物、乙烯一乙烯醇共聚物等聚烯烃类树脂；聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚 间苯二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸丁二醇酯等聚酯类树脂；丙烯酸酯类树脂；苯乙烯类 树脂；聚酰胺类树脂；聚氯乙烯类树脂；聚偏二氯乙烯树脂；聚碳酸酯类树脂。这些薄膜可 以是通过有机硅类、氟类、二氧化硅粉末等进行适当的脱模处理后的薄膜。
[0055] 以下，为了容易理解本发明，而示出了优选实施例，但这些实施例仅用于例示本发 明，并不用于限制所附的权利要求的范围，本领域技术人员很清楚在本发明的范畴以及技 术思想的范围内能够对实施例进行多种变更以及修改，并且这种变更以及修改当然也属于 所附的权利要求的范围。
[0056] [实施例]
[0057] 制作了 6个偏光板样品（VAT - 46 - 216、Dongwoo Fine-Chem)以及6个脱模薄 膜样品（82N、LTC)。
[0058] 在制成的偏光板样品的一个面上分别接合脱模薄膜，并制造了偏光板（样品1? 6)。之后，在所制造的偏光板的下部放置光源来照射光，利用位于偏光板上部的摄影器材而 获取图像，并求出A。然后，在所述偏光板的上部配置了偏光滤光片以使其吸收轴与偏光板 正交之后，获取图像并求出B，再求出A/B。其结果见下述表1。
[0059] [表 1]
[0060]
【权利要求】
1. 一种偏光板的检查方法，所述方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并由利用位 于所述偏光板的相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷，在所述偏光板的至少一个面上 接合有脱模薄膜，其中， 在满足下述数式1的情况下，则判断为偏光板是合格品； [数式1] A/B 刍 0· 2 在上式中，A是在所述获取的图像中检测到的黑点所占的像素数，B是在所述偏光板的 某一侧配置了偏光滤光片、以使其吸收轴与所述偏光板正交之后，在获取的图像中的所述 黑点的位置处检测到的亮点所占的像素数。
2. 根据权利要求1所述的偏光板的检查方法，其中，所述黑点在灰度128的基准光量下 的灰度是15?128。
3. 根据权利要求1所述的偏光板的检查方法，其中，所述亮点在灰度0的基准光量下的 灰度是15?255。
4. 根据权利要求1所述的偏光板的检查方法，其中，所述A为1?10000。
5. 根据权利要求1所述的偏光板的检查方法，其中，所述B为1?100000。
6. 根据权利要求1所述的偏光板的检查方法，其中，在所述A/B为0. 1以下时，则判断 为偏光板是合格品。
【文档编号】G01N21/958GK104280407SQ201410323167
【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年7月8日 优先权日:2013年7月12日
【发明者】裴星俊, 朴宰贤, 许宰宁 申请人:东友精细化工有限公司