一种主板键盘接口的测试电路及系统的制作方法
【专利摘要】一种主板键盘接口的测试电路及系统，测试电路包括依次连接的启动电路、控制电路、开关电路和键盘排线接口；启动电路用于发送启动测试信号；控制电路用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；开关电路用于接收地址信号，并根据地址信号对所述主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。本实用新型利用控制电路模拟输出键盘按键对应的地址，再结合开关电路模拟键盘敲击被按下，取代了人工逐个敲击测试，实现了自动全键盘测试的效果。测试效率大幅度提高的同时，可靠性显著提高，且大大降低了人力财力的消耗。
【专利说明】—种主板键盘接口的测试电路及系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及计算机测试领域，更具体地说，涉及一种对电脑主板键盘的接口进行自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路及系统。
【背景技术】
[0002]电脑生产厂商主板的矩阵键盘(KBMX)接口在出厂前必须对其进行全键盘的测试，测试方法为:人工逐个敲击键盘，在测试软件界面观察模拟键盘的各个按键是否全部有效(例如按键颜色由灰色变为绿色)进而判断接口是否合格。
[0003]这种人工全键盘敲击的方式，需要耗费大量人力资源且效率低下，有些厂商为减少工时，甚至采用人工敲击部分键盘按键测试，但如果有没测的按键接口或EC引脚有空焊或连锡，则会有漏测的风险而导致不良产品流出。
[0004]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
实用新型内容
[0005]本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述主板键盘接口测试时的测试效率低、可靠性差、耗时耗力的缺陷，提供一种可以实现自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路及系统。
[0006]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，包括依次连接的启动电路、控制电路、开关电路和键盘排线接口 ；
[0007]所述键盘排线接口用于连接待测试主板键盘接口 ；
[0008]所述启动电路用于发送启动测试信号；
[0009]所述控制电路用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；
[0010]所述开关电路用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。
[0011]本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述控制电路包括型号为STC11F04E的单片机，所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片；
[0012]所述单片机的P37引脚连接至所述启动电路；
[0013]所述模拟开关阵列芯片的AXO引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机的PlO引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片的AYO引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P14引脚至P16引脚；
[0014]所述模拟开关阵列芯片的STB引脚、DAT引脚、RST引脚分别一一对应的连接至所述单片机的P35引脚、P33引脚、P32引脚。
[0015]本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述键盘排线接口包括第一键盘排线接口和第二键盘排线接口，所述启动电路还连接至所述第一键盘排线接口 ；所述开关电路包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片；
[0016]所述模拟开关阵列芯片的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口中的24个对应的引脚，所述模拟开关阵列芯片的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚还分别一一对应的连接至所述第二键盘排线接口中的24个对应的引脚。
[0017]本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路包括:一个3脚的排针、连接在所述排针上的短路帽、MOS管、按键开关；
[0018]所述按键开关的一个引脚接地，所述按键开关的另一个引脚连接至所述MOS管的漏极；所述MOS管的漏极连接至所述控制电路，所述MOS管的源极连接至所述排针的2号引脚，所述MOS管的栅极和所述排针的I号引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口中的2个对应的引脚；
[0019]测试时，根据主板键盘接口对应的键盘类型选择第一键盘排线接口或第二键盘排线接口:当选择第一键盘排线接口时，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发，进行自动触发时，所述短路帽插接在所述排针的I号引脚和2号引脚上；当选择第二键盘排线接口时，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发。
[0020]本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路还包括用于模拟CAP指示灯的发光二极管；
[0021]所述发光二极管的负极连接至所述排针的I号引脚，所述发光二极管的正极连接至所述MOS管的栅极。
[0022]本实用新型所述的主板键盘接口的测试电路，其中，所述启动电路发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发；
[0023]所述启动电路包括按键开关；所述按键开关的一个引脚接地，所述按键开关的另一个引脚连接至所述控制电路。
[0024]本实用新型还公开了一种主板键盘接口的测试系统，包括具有测试模块的测试台，还包括与所述测试台连接的所述的主板键盘接口的测试电路。
[0025]实施本实用新型的主板键盘接口的测试电路及系统，具有以下有益效果:本实用新型利用控制电路模拟输出键盘按键对应的地址，再结合开关电路输出模拟按键信号以模拟键盘敲击被按下，利用控制电路自动控制键盘的逐个测试，取代了人工逐个敲击测试，实现了自动全键盘测试的效果。测试效率大幅度提高的同时，可靠性显著提高，且大大降低了人力财力的消耗。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中:
[0027]图1是本实用新型一种主板键盘接口的测试电路的结构示意图；
[0028]图2是本实用新型一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的启动电路的电路图；
[0029]图3是本实用新型一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的控制电路的电路图；
[0030]图4是本实用新型一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的开关电路的电路图；
[0031]图5是笔记本电脑键盘矩阵结构示意图；
[0032]图6是笔记本电脑键盘结构示意图；
[0033]图7是本实用新型一种主板键盘接口的测试电路的较佳实施例的键盘排线接口的结构示意图。
【具体实施方式】
[0034]为了解决现有技术的中主板键盘接口测试时的测试效率低、可靠性差、耗时耗力的缺陷，本实用新型提供一种可以实现自动全键盘测试的主板键盘接口的测试电路及系统。本实用新型利用控制电路模拟输出键盘按键对应的地址，再结合开关电路模拟键盘敲击被按下，利用控制电路自动控制键盘的逐个测试，取代了人工逐个敲击测试，实现了自动全键盘测试的效果。测试效率大幅度提高的同时，可靠性显著提高，且大大降低了人力财力的消耗。
[0035]为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本实用新型的【具体实施方式】。
[0036]图1是本实用新型一种主板键盘接口的测试电路的结构示意图；
[0037]本实用新型的主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，包括依次连接的启动电路100、控制电路200、开关电路300和键盘排线接口400 ；
[0038]所述启动电路100用于发送启动测试信号；
[0039]所述控制电路200用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；
[0040]所述开关电路300用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口中的与按键对应的按键引脚；
[0041 ] 所述键盘排线接口 400用于连接主板侧的待测试主板键盘接口 ；
[0042]测试时，需要将主板键盘接口的测试电路与测试模块连接,测试模块用于根据所述待测试主板键盘接口的按键引脚的导通情况判断所述待测试主板键盘接口是否合格并将测试结果进行显示。待测试主板键盘接口实现依次短暂导通(约15ms)对应的按键引脚，即实现了键盘按键按下同样的效果来测试笔记本电脑主板矩阵键盘的主板键盘接口，当全部数据发送完毕若测试模块的测试程序显示测试正常则测试PASS，否则FAIL。其中，测试模块具体为与键盘测试对应的计算机程序，是现有技术，并非本实用新型的重点，此处不再赘述。
[0043]本实用新型中，利用控制电路200逐个发送与按键对应的地址信号，根据该地址信号，开关电路300控制相应的待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚导通，那么在测试模块的测试软件界面可以看到模拟键盘的按键变绿。如此测试效率和可靠性大幅度提高，平均约4s可以完成一个待测试主板键盘接口的自动全键盘测试。[0044]下面结合图2至图5详细介绍本实用新型的一较佳实施例。
[0045]当所述主板键盘具有CAP指示灯时，所述启动电路100发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发；当所述主板键盘没有CAP指示灯时，所述启动电路100发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发。
[0046]较佳实施例的启动电路100既可以对用于具有CAP指示灯键盘的主板键盘接口进行测试，也可以对用于无CAP指示灯键盘的主板键盘接口进行测试，因为这两种键盘规格不同，所以键盘排线接口 400选用的具体型号也不同，因此，为了能同时用于这两种键盘对应的主板键盘接口的测试，键盘排线接口 400包括两种规格的排线接口，后面会简单阐述键盘排线接口 400部分。
[0047]且启动电路100发送所述启动测试信号的触发方式包括可选的自动触发和手动触发。较佳实施例中，为了实现自动触发，所述启动电路100还连接至所述键盘排线接口400。
[0048]如图2，所述启动电路100包括:型号为H3X1-R的一个3脚的排针J1、连接在所述排针Jl上的短路帽JP1、M0S管QN1、按键开关SW1。所述启动电路100还包括用于模拟CAP指示灯的发光二极管Dl。
[0049]所述按键开关SWl的一个引脚接地，另一个引脚连接至所述MOS管QNl的漏极，所述MOS管QNl的漏极连接至所述控制电路200，即图3中单片机Ul的P37引脚。所述MOS管QNl的源极连接至所述排针Jl的2号引脚，所述MOS管QNl的栅极和所述排针Jl的I号引脚分别连接至所述键盘排线接口 400的对应引脚，即图7中第一键盘排线接口 KBCONl的26号引脚和25号引脚。
[0050]手动触发时，按压按键开关SW1，则单片机Ul的P37引脚直接被拉低，P37引脚接收到低电平的启动测试信号，于是开始测试，为了避免将短路帽JPI丢失，可以将短路帽JPl插接在排针Jl的2号引脚和3号引脚上。
[0051 ] 具有CAP指示灯的情况，进行自动触发时，将短路帽JPl插接在所述排针Jl的I号引脚和2号引脚上，由于在笔记本电脑中第一键盘排线接口 KBCONl的26号引脚(即CAPS_P)是连接3.3V电源，因此，MOS管QNl的删极为高电平，自动测试时，通过测试程序控制主板拉低CAPS_N信号，即第一键盘排线接口 KBCONl的25号引脚输出低电平，由于排针Jl的I号引脚和2号引脚导通，MOS管QNl的源极为低电平，于是MOS管QNl导通，且MOS管QNl的漏极输出低电平至单片机Ul的P37引脚，如此实现自动触发启动电路100发送低电平的启动测试信号。此时，不仅仅实现了自动触发启动电路100，而且如果启动电路100能够正常自动触发，则说明CAPS功能引脚的测试正常，因此，同时实现了 CAPS功能引脚的测试。
[0052]另外，所述发光二极管Dl的负极连接至所述排针Jl的I号引脚，所述发光二极管Dl的正极连接至所述MOS管QNl的栅极。发光二极管Dl在此用于发光模拟CAP指示灯点売。
[0053]需要明确的是，启动电路还可以仅设计为对应于没有CAP指示灯的情况的手动触发方式，只要其能感应用户动作后能够发送触发信号给单片机即可，例如启动电路为连接至单片机的电容式触摸按键、压力传感器等等。启动电路还可以仅设计为对应于有CAP指示灯的情况的自动触发方式，此时将其中的按键开关SWl去掉即可，这些都在本实用新型的保护范围之内。[0054]如图3，所述控制电路200包括型号为STC11F04E的单片机Ul、一个型号为H4X1-R的4脚的排针J2等。单片机Ul的P30引脚和P31引脚分别连接至排针J2的2号引脚和3号引脚，排针J2的I号引脚接电源VCC。
[0055]上述，所述单片机Ul的P37引脚连接至所述启动电路100，用于接收启动测试信号。单片机Ul的PlO引脚至P16引脚连接至开关电路300，用于输出具体的地址信号。
[0056]结合图4,所述开关电路300包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片U2。
[0057]模拟开关阵列芯片U2的STB引脚连接至单片机Ul的P35引脚，DAT引脚连接至单片机Ul的P33引脚，RST引脚连接至P32引脚。CS/CK引脚与VDD引脚短接后连接至电源。其中，模拟开关阵列芯片U2的P/-S引脚接高电平的电源VCC，因此，地址输入方式为并行输入。
[0058]模拟开关阵列芯片U2的AXO引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机Ul的PlO引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片U2的AYO引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机Ul的P14引脚至P16引脚。并行地址输入方式下，AXO引脚~AX3引脚为X端口选择的地址输入，AYO引脚~AY2引脚为Y端口选择的地址输入。
[0059]一旦单片机Ul的P37引脚接收到启动测试信号，则其P32引脚发送模拟开关阵列芯片U2的复位信号，P33引脚发送模拟开关阵列芯片U2的DAT导通/断开信号，P35发送模拟开关阵列芯片U2的STB选通脉冲信号。单片机Ul的PlO引脚至P16引脚输出地址信号，对应的模拟开关阵列芯片U2的AXO引脚至AX3引脚接收的地址信号代表地址数据的低四位，AYO引脚至AY2引脚接收的地址信号代表地址数据的高三位。
[0060]CH446Q是8x16矩阵模拟开关芯片，其内部分为三个部分:接口控制逻辑、128只锁存器、128只模拟开关阵列，即其包含128只模拟开关。
[0061]128只模拟开关分布于由16个X端口和8个Y端口组成的8x16矩阵的每个交叉点，使得任意一个X端口和任意一个Y端口之间能够在需要时导通或者断开，甚至可以使某两个X端口分别导通到某个Y端口，实现任意两个X端口之间或者任意两个Y端口之间的间接导通。例如，表1示出了部分地址信号代表的部分地址数据和与其对应的CH446Q引脚之间的对应关系:
[0062]表1
【权利要求】
1.一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，其特征在于，包括依次连接的启动电路(100)、控制电路(200)、开关电路(300)和键盘排线接口(400)； 所述键盘排线接口(400)用于连接待测试主板键盘接口 ； 所述启动电路(100)用于发送启动测试信号； 所述控制电路(200)用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号； 所述开关电路(300)用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键 信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。
2.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述控制电路(200)包括型号为STC11F04E的单片机(U1)，所述开关电路(300)包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片(U2)； 所述单片机(Ul)的P37引脚连接至所述启动电路(100)； 所述模拟开关阵列芯片(U2)的AXO引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机(Ul)的PlO引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片(U2)的AYO引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机(Ul)的P14引脚至P16引脚； 所述模拟开关阵列芯片(U2)的STB引脚、DAT引脚、RST引脚分别一一对应的连接至所述单片机(Ul)的P35引脚、P33引脚、P32引脚。
3.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述键盘排线接口(400 )包括第一键盘排线接口( KBCONl)和第二键盘排线接口( CONNl)，所述启动电路(100 )还连接至所述第一键盘排线接口(KBC0N1);所述开关电路(300)包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片(U2); 所述模拟开关阵列芯片(U2)的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口(KBCONl)中的24个对应的引脚，所述模拟开关阵列芯片(U2)的XO引脚至X15引脚以及YO引脚至Y7引脚还分别一一对应的连接至所述第二键盘排线接口(CONNl)中的24个对应的引脚。
4.根据权利要求3所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于， 所述启动电路(100)包括:一个3脚的排针(J1)、连接在所述排针(Jl)上的短路帽(JP1)、M0S 管(QN1)、按键开关(SWl)； 所述按键开关(SWl)的一个引脚接地，所述按键开关(SWl)的另一个引脚连接至所述MOS管(QNl)的漏极；所述MOS管(QNl)的漏极连接至所述控制电路(200)，所述MOS管(QNl)的源极连接至所述排针(Jl)的2号引脚，所述MOS管(QNl)的栅极和所述排针(Jl)的I号引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口(KBCONl)中的2个对应的引脚； 测试时，根据主板键盘接口对应的键盘类型选择第一键盘排线接口(KBC0N1)或第二键盘排线接口(CONNl):当选择第一键盘排线接口(KBCONl)时，所述启动电路(100)发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发，进行自动触发时，所述短路帽(JPl)插接在所述排针(Jl)的I号引脚和2号引脚上；当选择第二键盘排线接口(CONNl)时，所述启动电路(100)发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发。
5.根据权利要求4所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述启动电路(100)还包括用于模拟CAP指示灯的发光二极管(Dl)； 所述发光二极管(Dl)的负极连接至所述排针(Jl)的I号引脚，所述发光二极管(Dl)的正极连接至所述MOS管(QNl)的栅极。
6.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述启动电路(100)发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发； 所述启动电路(100)包括按键开关(SWl);所述按键开关(SWl)的一个引脚接地，所述按键开关(SWl)的另一个引脚连接至所述控制电路(200)。
7.—种主板键盘接口的测试系统，包括具有测试模块的测试台，其特征在于，还包括与所述测试台连接的如 权利要求1-6任一项所述的主板键盘接口的测试电路。
【文档编号】G01R31/28GK203786262SQ201420179194
【公开日】2014年8月20日 申请日期:2014年4月14日 优先权日:2014年4月14日
【发明者】程匹克, 冯琦 申请人:合肥宝龙达信息技术有限公司