一种波长片位相测量仪的制作方法
【专利摘要】一种波长片位相测量仪，它包括光源，在光源发射光束前进的方向上，依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有通光孔的第一旋转台，1/4波长片，检偏器，置放检偏器的中心带有通光孔的第二旋转台，位于第二旋转台下面的中心带有通光孔的刻度盘，位于刻度盘下面的顶面上带有通光孔的暗箱，位于暗箱内部底面上的光点屏，位于暗箱上的观察窗；所述第一旋转台上的通光孔、第二旋转台上的通光孔、刻度盘上的通光孔以及暗箱顶面上的通光孔，所有这些通光孔的中心都在同一中心线上。结构简单，操作方便，测量误差较小。依照本实用新型位相测量仪测得的位相角能够较精确地在线控制待测波长片的加工厚度。
【专利说明】一种波长片位相测量仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种位相测量仪，具体的是涉及一种波长片位相测量仪。
【背景技术】
[0002]波长片(简称波片)在加工中，能够精确地控制其厚度是很重要的。波长片的厚度与波长片的位相角有关。若能时时测得该波长片的位相角也就能够实时控制该波长片的
加工厚度。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种波长片位相测量仪，可在加工波长片时能够较精确地在线地控制其加工厚度，具有结构简单、操作方便等特点。
[0004]为达到上述目的，本实用新型的技术方案是:
[0005]一种波长片位相测量仪，它包括光源，在光源发射光束前进的方向上，依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有通光孔的第一旋转台，1/4波长片，检偏器，置放检偏器的中心带有通光孔的第二旋转台，位于第二旋转台下面的中心带有通光孔的刻度盘，位于刻度盘下面的顶面上带有通光孔的暗箱，位于暗箱内部底面上的光点屏，位于暗箱上的观察窗；所述第一旋转台上的通光孔、第二旋转台上的通光孔、刻度盘上的通光孔以及暗箱顶面上的通光孔，所有这些通光孔的中心都在同一中心线上。
[0006]进一步，所述光源是激光光源。
[0007]又，所述1/4波长片的晶轴与检偏器的光轴平行。
[0008]如上述本实用新型的结构，检偏器与起偏器的偏振轴正交时，为消光位置。待测波长片置放在第一旋转台上，当旋转第一旋转台使其处于消光位置时，待测波长片的晶轴与起偏器的偏振轴平行；再将第一旋转台旋转45°角，此时离开了消光位置；旋转第二旋转台使检偏器旋转至再次消光位置。检偏器所旋转的角度从刻度盘上读出。该角度即为待测波长片的位相角。若所读出的角度 <设计角时，说明待测波长片的厚度较厚；若所读出的角度>设计角时，说明待测波长片的厚度较薄了。是否是处在消光位置，从暗箱上的观察窗，观察暗箱内部底面上的光点屏上是否有光点，没有光点即为消光位置。
[0009]本实用新型的波长片位相测量仪具有显著的优点。
[0010]如上述本实用新型位相测量仪的结构，只要按照上述所要求的方向旋转第一、二两个旋转台，就可以直接从刻度盘上读出待测波长片的位相角。本实用新型位相测量仪能够直接地从刻度盘上读出待测波长片的位相角，所以，测量位相角的误差较小。因此，依照本实用新型位相测量仪测得的位相角也就能够较精确地控制待测波长片的加工厚度。
[0011]如上述本实用新型位相测量仪的结构，其结构简单，操作方便，随时可以测得待测波长片的位相角，也就可以在线控制待测波长片的加工厚度。
【专利附图】
【附图说明】[0012]图1是本实用新型位相测量仪一实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图进一步说明本实用新型位相测量仪的结构特征。
[0014]如图1所示，本实用新型位相测量仪，包括光源1，在光源I发射光束前进的方向上，依次置有起偏器2，置放待测波长片3的中心带有通光孔的第一旋转台4，1/4波长片5，检偏器6，置放检偏器6的中心带有通光孔的第二旋转台7，位于第二旋转台7下面的中心带有通光孔的刻度盘8，位于刻度盘8下面的顶面上带有通光孔的暗箱9，位于暗箱9内部底面上的光点屏10，位于暗箱9上的观察窗11 ;所述第一旋转台4上的通光孔、第二旋转台7上的通光孔、刻度盘8上的通光孔以及暗箱9顶面上的通光孔，所有这些通光孔的中心都在同一中心线上。
[0015]在本实施例中，所述光源I是激光光源。激光光源的激光波长为532nm。
[0016]所述1/4波长片5的晶轴与检偏器6的光轴平行。在本实施例中，所述1/4波长片5与光源I (激光光源)的激光波长532nm相对应，为532nm零级的1/4波长片。1/4波长片5在光路起到增强线偏振光的作用。
【权利要求】
1.一种波长片位相测量仪，其特征在于，它包括光源，在光源发射光束前进的方向上，依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有通光孔的第一旋转台，1/4波长片，检偏器，置放检偏器的中心带有通光孔的第二旋转台，位于第二旋转台下面的中心带有通光孔的刻度盘，位于刻度盘下面的顶面上带有通光孔的暗箱，位于暗箱内部底面上的光点屏，位于暗箱上的观察窗；所述第一旋转台上的通光孔、第二旋转台上的通光孔、刻度盘上的通光孔以及暗箱顶面上的通光孔，所有这些通光孔的中心都在同一中心线上。
2.根据权利要求1所述的波长片位相测量仪，其特征在于，所述光源是激光光源。
3.根据权利要求1所述的波长片位相测量仪，其特征在于，所述1/4波长片的晶轴与检偏器的光轴平行。
【文档编号】G01M11/02GK203798541SQ201420224066
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年5月4日 优先权日:2014年5月4日
【发明者】郑连生 申请人:上海联能光子技术有限公司