开关回路电阻测试专用插头的制作方法
【专利摘要】一种开关回路电阻测试专用插头。其是采用与静触头相同的铜材制成年截面呈圆形的柱形结构，一端插入在花瓣触头的内部。所述的开关回路电阻测试专用插头的外表面与花瓣触头完全撑开后的最小内环圆面相同，并且两者紧密接触。本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头可有效地提高试验数据的准确性和真实性，对数据分析及设备状态评价提供有效、正确的判断基础，对断路器性能的判断提供有力证明，从而能够避免因接触电阻过大影响该设备的检修试验周期及决策建议。另外，本专用插头还具有结构设计合理、简单、成本低、使用及携带方便等优点。
【专利说明】开关回路电阻测试专用插头
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电力辅助设施【技术领域】，特别是涉及一种开关回路电阻测试专用插头。
【背景技术】
[0002]在电力系统中，许多大电流电气设备在例行试验、诊断性试验和交接试验时都需要准确测量回路的电阻值。断路器是电力系统重要的电气设备，其导电回路的电阻主要取决于断路器的动、静触头间的接触电阻。接触电阻的存在，增加了导体在通电时的损耗，使接触处的温度升高，其值的大小将会影响正常工作时的载流能力，在一定程度上影响短路电流的切断能力。因此，断路器每相导电回路电阻值是断路器安装、检修和质量验收的一项重要数据。测量时接触电阻增大将会直接影响对断路器性能及状态的判断。
[0003]但是，在对35kV、10KV高压真空断路器进行开关回路电阻测试时，如图1所示，高压真空断路器上动触头主要是由触臂1、紧固螺盖2和花瓣触头3组成，其中触臂I的外端安装有紧固螺盖2，花瓣触头3的一端安装在触臂I外端及紧固螺盖2上，在这种情况下试验仪器的接线只能夹在花瓣触头3上，但由于花瓣触头3在自行松弛情况下其与触臂I之间的接触不好，从而有可能造成接触电阻过大，结果导致试验结果不准确，甚至不合格，从而影响了对设备性能及状态的正确判断。
【发明内容】
[0004]为了解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种开关回路电阻测试专用插头。
[0005]为了达到上述目的，本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头是采用与静触头相同的铜材制成且截面呈圆形的柱形结构，一端插入在花瓣触头的外端内部。
[0006]所述的开关回路电阻测试专用插头的外表面与花瓣触头完全撑开后的最小内环圆面相同相同，并且两者紧密接触。
[0007]本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头可有效地提高试验数据的准确性和真实性，对数据分析及设备状态评价提供有效、正确的判断基础，对断路器性能的判断提供有力证明，从而能够避免因接触电阻过大影响该设备的检修试验周期及决策建议。另外，本专用插头还具有结构设计合理、简单、成本低、使用及携带方便等优点。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为已有技术的高压真空断路器上动触头结构示意图。
[0009]图2为本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头使用状态示意图。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图和具体实施例对本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头进行详细说明。与已有技术相同的部件采用相同的附图标号，并省略对其进行的说明。
[0011]如图2所示，本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头4是采用与静触头相同的铜材制成且截面呈圆形的柱形结构，一端插入在花瓣触头3的外端内部。
[0012]所述的开关回路电阻测试专用插头4的外表面与花瓣触头3完全撑开后的最小内环圆面相同相同，并且两者紧密接触。
[0013]现将本实用新型提供的开关回路电阻测试专用插头4使用方法阐述如下:当需要对35kV、10KV高压真空断路器进行开关回路电阻测试时，首先将开关回路电阻测试专用插头4的一端插在花瓣触头3的外端内部，以将花瓣触头3的外端撑开，使花瓣触头3的另一端紧紧接触在触臂I上，模拟开关闭合时花瓣触头3与触臂I紧密接触的状态，以减少接触电阻，保证试验数据的准确性和真实性，然后将试验仪器的接线夹在花瓣触头3上，这时就可以开始进行开关回路电阻测试了。
【权利要求】
1.一种开关回路电阻测试专用插头，其特征在于:所述的开关回路电阻测试专用插头(4)是采用与静触头相同的铜材制成且截面呈圆形的柱形结构，一端插入在花瓣触头(3)的外端内部。
2.根据权利要求1所述的开关回路电阻测试专用插头，其特征在于:所述的开关回路电阻测试专用插头(4)的外表面与花瓣触头(3)完全撑开后的最小内环圆面相同，并且两者紧密接触。
【文档编号】G01R1/04GK203949941SQ201420380781
【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年7月10日 优先权日:2014年7月10日
【发明者】杨晓彤 申请人:国家电网公司, 国网天津市电力公司