干式空心电抗器自发热老化试验电路的制作方法

文档序号:6073086阅读:258来源:国知局
干式空心电抗器自发热老化试验电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种干式空心电抗器自发热老化试验电路,用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程,包括电抗器以及从电网引出的且用于为电抗器提供电源的三相进线和中性线,该三相进线和中性线可同时对三台电抗器进行热老化试验;在每一相进线与中性线之间分别电性连接有用于调节相应的电抗器上被施加电压大小的调压器,每一调压器的两端并联有用于检测与调压器对应的电抗器上的输入电压的电压检测器,在每一电抗器的回路中还串联有用于检测每一电抗器上流过的电流的电流检测器,在每一电抗器的两端还并联有用于减小电抗器两端的电源容量的电容补偿器。该试验电路贴近电抗器实际运行的方式,可以有效地模拟电抗器的热老化过程。
【专利说明】干式空心电抗器自发热老化试验电路

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电抗器领域,具体涉及一种用自发热方式进行干式空心电抗器匝间绝缘热老化的试验电路。

【背景技术】
[0002]随着我国对电能质量及电力系统可靠性、安全性要求的日益提高,对空心电抗器的安全运行提出了更高的要求。然而,从全国范围内运行情况来看,不论是国产还是进口的干式空心电抗器在投入运行后,异常和故障时有发生。从统计结果看出,绕组的匝间绝缘击穿占总故障的65%以上。匝间绝缘击穿会导致电抗器发生匝间短路,最终引起电抗器着火燃烧。直接经济损失高达数十万元,工厂、机关、居民等社会部门的突然断电所造成的间接影响及危害更大。弄清干式空心电抗器匝间绝缘的故障原因,降低事故发生的概率十分必要。
[0003]许多研究认为匝间绝缘材料的热老化引起的绝缘性能下降,是导致匝间短路的主要原因。干式空心电抗器的匝间绝缘是聚脂薄膜与环氧树脂组成的复合绝缘,目前绝缘材料热老化对匝间击穿特性影响的研究主要是单独对环氧树脂和聚酯薄膜材料展开,没有对复合材料进行研究。此外,已有研究所采用的材料老化方式都是用烘箱进行的持续的恒温老化,这与实际电抗器的老化过程是不同的。运行中干式空心电抗器绝缘材料的热老化主要是所通电流引起导体电阻发热所致,此时电抗器不同位置绝缘材料的温度不同,且受到温度变化引起的机械张力的作用。鉴于现有热老化方法存在较大缺陷,应找出更好的试验方法及实现其方法的试验电路。
实用新型内容
[0004]本实用新型要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种干式空心电抗器自发热老化试验电路,该试验电路贴近电抗器实际运行的方式,可以有效地模拟电抗器的老化过程。
[0005]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种干式空心电抗器自发热老化试验电路,所述试验电路用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程,所述试验电路包括电抗器以及从电网引出的且用于为所述电抗器提供电源的三相进线和中性线,所述三相进线和所述中性线可同时对三台所述电抗器进行热老化试验;
[0006]在所述每一相进线与所述中性线之间分别电性连接有用于调节相应的所述电抗器上被施加电压大小的调压器,每一所述调压器的输出端并联有用于检测与所述调压器对应的所述电抗器上的输入电压的电压检测器,在每一所述电抗器的回路中还串联有用于检测每一所述电抗器上流过的电流的电流检测器,在每一所述电抗器的两端还并联有用于减小所述电抗器两端的电源容量的电容补偿器。
[0007]在本实用新型所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路中,所述电容补偿器为大小为2.31 IuF的自愈式电容补偿器
[0008]在本实用新型所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路中,所述电压检测器为电压表。
[0009]在本实用新型所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路中,所述电流检测器为电流表。
[0010]实施本实用新型的干式空心电抗器自发热老化试验电路,其有益效果在于:该试验电路的电源直接从电网引出,可同时对三台电抗器进行老化试验;在输入电源上接入调压器以调节相应电抗器上被施加电压的大小,从而调节电抗器输入电流的大小,最终达到控制电抗器温度的目的;在每个电抗器的两端并入大小为2.31IuF的自愈式电容补偿器,可以减小电源的容量;该试验电路以贴近实际运行的方式模拟干式空心电抗器匝间绝缘的老化过程。

【专利附图】

【附图说明】
[0011]下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:
[0012]图1是本实用新型实施例的干式空心电抗器自发热老化试验电路。

【具体实施方式】
[0013]针对现有技术中的热老化方法都是用烘箱进行的持续恒温老化,这与实际电抗器的老化过程存在较大的差异,无法有效地模拟干式空心电抗器的热老化过程。本实用新型提出了一种干式空心电抗器自发热老化试验电路该试验电路的电源直接从电网引出,可同时对三台电抗器进行老化试验;在输入电源上接入调压器以调节相应电抗器上被施加电压的大小,从而调节电抗器输入电流的大小,最终达到控制电抗器温度的目的;在每个电抗器的两端并入大小为2.311uF的自愈式电容补偿器,可以减小电源的容量;该试验电路以贴近实际运行的方式模拟干式空心电抗器匝间绝缘的热老化过程。
[0014]为了使本实用新型的目的、技术方案以及优点更加清楚明白,以下结合附图和实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
[0015]本实用新型还提供一种干式空心电抗器自发热老化试验电路,用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程。如图1所示,该电路包括第一被试电抗器17、第二被试电抗器18和第三被试电抗器19,以及从电网引出的且用于分别为第一被试电抗器17、第二被试电抗器18和第三被试电抗器19提供电源的A相进线端1、B相进线端2、C相进线端3和中性线进线端4。该A相进线端I和中性线进线端4可以对第一被试电抗器17进行热老化试验;该B相进线端2和中性线进线端4可以对第二被试电抗器18进行热老化试验;该C相进线端3和中性线进线端4可以对第三被试电抗器19进行热老化试验。
[0016]在A相进线端I和中性线进线端4之间电性连接有用于调节第一被试电抗器17上被施加电压大小的第一调压器5,在第一调压器5的输出端并联有用于检测第一被试电抗器17上的输入电压的第一电压检测器8,在第一被试电抗器17的回路整还串联有用于检测第一被试电抗器17上流过的电流的第一电流检测器14,在第一被试电抗器17的两端还并联有用于减小第一被试电抗器17两端的电源容量的第一电容补偿器11。
[0017]在B相进线端2和中性线进线端4之间电性连接有用于调节第二被试电抗器18上被施加电压大小的第二调压器6,在第二调压器6的输出端并联有用于检测第二被试电抗器18上的输入电压的第二电压检测器9,在第二被试电抗器18的回路中还串联有用于检测第二被试电抗器18上流过的电流的第二电流检测器15,在第二被试电抗器18的两端还并联有用于减小第二被试电抗器18两端的电源容量的第二电容补偿器12。
[0018]在C相进线端3和中性线进线端4之间电性连接有用于调节第三被试电抗器19上被施加电压大小的第三调压器7,在第三调压器7的输出端并联有用于检测第三被试电抗器19上的输入电压的第三电压检测器10,在第三被试电抗器19的回路中还串联有用于检测第三被试电抗器19上流过的电流的第三电流检测器16,在第三被试电抗器19的两端还并联有用于减小第三被试电抗器19两端的电源容量的第三电容补偿器13。
[0019]在本实施例中,第一调压器5、第二调压器6和第三调压器7为相调压器,第一电流检测器14、第二电流检测器15和第三电流检测器16为电流表,第一电压检测器8、第二电压检测器9和第三电压检测器10为电压表。第一电容补偿器11、第二电容补偿器12和第三电容补偿器13为大小为2.31IuF的自愈式电容补偿器。本实施例的试验电路同时对三台电抗器进行热老化试验,可以对比三台电抗器的热老化试验结果。
[0020]综上所述,实施本实用新型的一种干式空心电抗器自发热老化试验电路,其有益效果在于:该试验电路的电源直接从电网引出,可同时对三台电抗器进行老化试验;在输入电源上接入调压器以调节相应电抗器上被施加电压的大小,从而调节电抗器输入电流的大小,最终达到控制电抗器温度的目的;在每个电抗器的两端并入大小为2.311uF的自愈式电容补偿器,可以减小电源的容量;该试验电路以贴近实际运行的方式模拟干式空心电抗器匝间绝缘的老化过程。
[0021]上面结合附图对本实用新型的实施例进行了描述,但是本实用新型并不局限于上述的【具体实施方式】,上述的【具体实施方式】仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本实用新型的启示下,在不脱离本实用新型宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,这些均属于本实用新型的保护之内。
【权利要求】
1.一种干式空心电抗器自发热老化试验电路,其特征在于,用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程,所述试验电路包括电抗器以及从电网引出的且用于为所述电抗器提供电源的三相进线和中性线,所述三相进线和所述中性线可同时对三台所述电抗器进行热老化试验; 在每一相进线与所述中性线之间分别电性连接有用于调节相应的所述电抗器上被施加电压大小的调压器,每一所述调压器的输出端并联有用于检测与所述调压器对应的所述电抗器上的输入电压的电压检测器,在每一所述电抗器的回路中还串联有用于检测每一所述电抗器上流过电流的电流检测器,在每一所述电抗器的两端还并联有用于减小所述电抗器两端的电源容量的电容补偿器。
2.根据权利要求1所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路,其特征在于,所述电容补偿器为2.31 IuF的自愈式电容补偿器。
3.根据权利要求1所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路,其特征在于,所述电压检测器为电压表。
4.根据权利要求1所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路,其特征在于,所述电流检测器为电流表。
【文档编号】G01R31/14GK204129172SQ201420602828
【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年10月17日 优先权日:2014年10月17日
【发明者】彭翔, 聂洪岩, 夏辉, 王永红, 龙方宇 申请人:中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心, 哈尔滨理工大学
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