1.一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：
通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值；
利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；
通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。
2.如权利要求1所述的方法，还包括步骤：
根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸；
基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸；
通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积。
3.如权利要求1所述的方法，其中通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：
利用厚度已知的不同种类的标定材料块得到射线衰减系数、等效原子序数和质量厚度三者之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。
4.如权利要求1所述的方法，其中通过线性插值来获得与所述等效原子序数和双能高能灰度特征值二者相对应的质量厚度值。
5.如权利要求1所述的方法，其中接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。
6.一种在安检系统中估算被检查物体重量的装置，包括：
通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值的装置；
利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值的装置；
通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息的装置。
7.一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：
通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值；
利用各个像素所对应的所述灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；
通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。
8.如权利要求7所述的方法，还包括步骤：
根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸；
基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸；
通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积。
9.如权利要求7所述的方法，其中通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：
利用厚度已知的标定材料块得到射线衰减系数和质量厚度之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。
10.如权利要求7所述的方法，其中选择铝作为标定材料块来获得所述质量厚度衰减曲线。
11.如权利要求7所述的方法，其中接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。
12.一种在安检系统中估算被检查物体重量的装置，包括：
通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值的装置；
利用各个像素所述灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值的装置；
通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息的装置。