技术总结
公开了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置。通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。此种方法可以较精确计算出被检物的重量，节省了传统的称重硬件成本。
技术研发人员：陈志强;李元景;张丽;赵自然;刘耀红;郑娟;顾建平;宗春光
受保护的技术使用者：清华大学;同方威视技术股份有限公司
文档号码：201510434952
技术研发日：2015.07.22
技术公布日：2017.01.25