气相色谱仪的制作方法

本发明涉及一种气相色谱仪，用于将试样导入至配置于恒温箱内的色谱柱，由检测器检测在经过色谱柱的过程中所分离了的试样成分，从而进行分析。

背景技术：

以往，已知了一种气相色谱仪，该气相色谱仪包括框体、配置在框体内且将色谱柱容纳于内部的恒温箱以及配置于框体内的检测器。在气相色谱仪中，利用恒温箱来加热色谱柱。并且，将试样导入被加热了的色谱柱中，由检测器检测由于经过色谱柱而被分离了的试样成分(参见例如下述专利文献1)。

另外，在这种气相色谱仪中，通常，在框体内配置有对恒温箱内进行温度调节的温度调节部以及用于对来自检测器的检测信号进行处理的检测器用基板。并且，在气相色谱仪中的分析过程中，一边由温度调节部对恒温箱内进行温度调节，一边由检测器用基板对检测器的检测信号进行处理。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第5206567公报

技术实现要素：

发明要解决的课题

在如上所述的现有气相色谱仪中，通常，温度调节部包含由于SSR(固态继电器)、三端双向可控硅开关元件等进行动作而发热的部件。另外，温度调节部及检测器用基板经由中继基板等分别与主基板连接，且相互靠近。因此，由于温度调节部发热，有时检测器用基板会变成高温，在这种情况下，有时在利用检测器用基板进行的对检测器的检测信号的处理中会产生不佳状况。

本发明正是鉴于上述实际情况而完成的，其目的在于提供一种气相色谱仪，能够利用检测器用基板，对检测器的检测信号进行高精度的处理。

用于解决课题的手段

(1)本发明的气相色谱仪用于通过将试样导入至配置在恒温箱内的色谱柱，利用检测器来检测在经过所述色谱柱的过程中被分离了的试样成分，从而进行分析，包括框体、风扇、温度调节部及检测器用基板。所述框体将所述恒温箱、所述色谱柱及所述检测器容纳于内部，并且在背面侧形成有排气口。所述风扇配置于所述框体内的背面侧，使所述框体内的空气从所述排气口排出。所述温度调节部配置于所述框体内的背面侧，且对所述恒温箱内进行温度调节。所述检测器用基板配置在所述框体内的不受所述温度调节部的发热的影响的位置，且与所述检测器连接。

根据这种结构，能够防止检测器用基板受到温度调节部的发热的影响。

因此，能够利用检测器用基板对检测器的检测信号进行高精度的处理。

另外，由于风扇、排气口及温度调节部均配置于框体内的背面侧，所以能够高效地对温度调节部进行冷却。

因此，能够减小温度调节部的发热的影响。

其结果，能够利用检测器用基板来对检测器的检测信号进行更高精度的处理。

(2)另外，所述检测器用基板也可以配置于所述框体内的前表面侧。

根据这种结构，由于温度调节部在框体内配置于背面侧，检测器用基板在框体内配置于前表面侧，所以能够保持较大的温度调节部和检测器用基板的间隔。

因此，能够可靠地防止检测器用基板受到温度调节部的发热的影响。

(3)另外，也可以在所述恒温箱和所述框体的背面之间形成空间。所述风扇及所述温度调节部也可以配置在所述空间中。

根据这种结构，能够利用恒温箱和框体的背面之间的空闲空间来配置温度调节部。

另外，能够防止在框体内将温度调节部配置在遮挡空气流动的位置。

因此，能够在有效地利用框体内的空闲空间的同时，减小温度调节部的发热的影响。

(4)另外，所述气相色谱仪还可以包括马达。所述马达配置于所述空间并且驱动所述风扇。所述温度调节部也可以配置于所述马达的侧方。

根据这种结构，能够在框体内有效地利用为了配置马达所需的空间来配置温度调节部。

(5)另外，所述气相色谱仪还可以包括流量控制部。所述流量控制部配置于所述空间中的上侧，对导入至所述色谱柱的气体的流量进行控制。所述温度调节部也可以配置于所述空间中的下侧。

根据这种结构，能够在框体内高效地将温度调节部配置在与流量控制部不同的位置。

发明的效果

根据本发明，由于能够防止检测器用基板受到温度调节部的发热的影响，所以能够利用检测器用基板，对检测器的检测信号进行高精度的处理。

附图说明

图1是示出了本发明的一种实施方式的气相色谱仪的结构例的概略俯视剖面图。

图2是示出了图1的气相色谱仪的侧视剖面图。

具体实施方式

1.气相色谱仪的整体结构

图1是示出了本发明的一种实施方式的气相色谱仪1的结构例的概略俯视剖面图。图2是示出了图1的气相色谱仪1的侧视剖面图。

气相色谱仪1包括：框体2、恒温箱3、色谱柱4、加热器5、检测器6、试样导入部7、流量控制部8、马达9、第1风扇11、第2风扇12及温度调节部13。

框体2形成为箱形状。在框体2中形成有多个通气口21、排气口22及开口23。

各通气口21形成于框体2的底面2A。各通气口21在上下方向贯穿框体2的底面2A。多个通气口21配置于框体2的底面2A的左右方向两端部的各端部，且沿前后方向相互隔开间隔地配置。

排气口22形成于框体2的背面2B的中央部。排气口22在前后方向贯穿框体2的背面2B。

如图1所示，开口23形成于框体2的前表面2C。开口23在前后方向贯穿框体2的前表面2C。开口23通过可开闭的门14而被关闭。另外，在框体2的前表面2C的左右方向的一端部(右端部)配置有操作部15。

如图1及图2所示，恒温箱3容纳于框体2内。恒温箱3形成为箱形状。恒温箱3被放置于框体2的底面2A的中央部，与框体2的背面2B、前表面2C、侧面2D分别隔开间隔地配置。

如图2所示，色谱柱4配置于恒温箱3内。色谱柱4由例如毛细管色谱柱构成。

加热器5配置于恒温箱3内，且配置在色谱柱4的后方。

如图1及图2所示，检测器6配置在恒温箱3上。对检测器6连接了色谱柱4的一端。检测器6例如由氢焰离子化型检测器或导热系数型检测器等构成。检测器6依次对从色谱 柱4导入的载气中所包含的各试样成分进行检测。检测器6与检测器用基板16连接。

检测器用基板16安装在检测器6附近的恒温箱3的侧面。检测器用基板16是用于对来自检测器6的检测信号进行处理的基板，例如，安装有AD转换器、放大器等。

试样导入部7配置于恒温箱3上。对试样导入部7连接了色谱柱4的另一端。在进行分析的时候，从流量控制部8将载气供给至试样导入部7，在试样导入部7内被气化了的试样与载气一起被导入至色谱柱4内。

流量控制部8配置在框体2内。具体地，流量控制部8安装在框体2的背面2B的上部，隔开间隔地配置在恒温箱3的后方。即，流量控制部8配置于框体2内的恒温箱3与背面2B之间的空间24中的上侧。流量控制部8包括例如AFC(Advanced Flow Controller，高级流量控制器)、APC(Auto Pressure Controller，自动压力控制器)，且与试样导入部7连接。

马达9安装在恒温箱3的背面的中央部。即，马达9配置在框体2内的空间24的上下方向中央部且左右方向中央部。

如图2所示，第1风扇11容纳于恒温箱3内。第1风扇11配置在加热器5的后方。构成为向第1风扇11赋予马达9的驱动力。

如图1及图2所示，第2风扇12配置于框体2内的空间24，隔开间隔地配置在排气口22的前方。构成为向第2风扇12赋予马达9的驱动力。即，通过马达9驱动，第2风扇12与第1风扇11一起转动。

温度调节部13配置于框体2内的空间24的下侧。温度调节部13包括：通过在基板上安装SSR(固态继电器)、三端双向可控硅开关元件等而构成的主体部17以及安装于主体部17的散热板18。

虽未图示，但主体部17与加热器5及马达9连接，并对它们进行控制。即，利用温度调节部13的主体部17的控制，通过加热器5及马达9进行动作，来对恒温箱3内进行加热，另外，由第1风扇11对恒温箱3内的空气进行搅拌。由此，恒温箱3内的温度上升并且保持均匀。这样，温度调节部13(主体部17)对恒温箱3内进行温度调节。在气相色谱仪1中，通过温度调节部13(主体部17)的动作，能够执行一边将恒温箱3内的温度维持恒定一边进行分析的恒温分析、或一边使恒温箱3内的温度慢慢地上升一边进行分析的升温分析等。

散热板18形成为侧视L字形，并覆盖主体部17的底面及背面。散热板18由导热系数高的材料构成。散热板18抵接于框体2的底面2A。

此外，虽未图示，但在框体2内具备对气相色谱仪1的整体动作进行控制的主基板。主基板为包含CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)的结构，将检测器用基板16及温度调节部13(主体部17)经由布线与该主基板连接。

当在气相色谱仪1中对试样进行分析之际，与由温度调节部13对恒温箱3内进行温度调节的同时，将作为分析对象的试样注入试样导入部7。并且，试样在试样导入部7中被气化。

在分析过程中，将载气从流量控制部8供给至试样导入部7。

在试样导入部7内被气化了的试样与载气一起被导入至色谱柱4内(参见图2)。试样中所包含的各试样成分在经过色谱柱4内的过程中被分离，并依次被导入检测器6。

并且，在检测器6中，从色谱柱4导入的载气中所包含的各试样成分依次被检测。另外，利用检测器用基板16对来自检测器6的检测信号进行放大等处理，根据该检测信号，在主基板处生成气相色谱。在分析过程中，在温度调节部13中，由主体部17产生的热经由散热板18进行散热。

2.温度调节部及检测器用基板的相向配置

在气相色谱仪1中，在框体2内，温度调节部13与第2风扇12一起配置于背面2B侧。此外，在框体2内，背面2B侧是指比起框体2内的中央更靠后方的位置。温度调节部13以与恒温箱3的背面对置的方式，隔开间隔地配置在恒温箱3的后方。温度调节部13配置于马达9的侧方。

此外，马达9的侧方是指包含马达9的上方、下方、左方、右方及它们之间的区域的马达9的周围区域，在本实施方式中，在马达9的右方且下方配置有温度调节部13。

另外，在框体2内，检测器用基板16配置于前表面2C侧。此外，在框体2内，前表面2C侧是指比起框体2内的中央更靠前方的位置。即，保持了较大的检测器用基板16和温度调节部13的间隔。换言之，检测器用基板16配置在不受温度调节部13(主体部17)的发热的影响的位置。

3.框体内的空气流动

在气相色谱仪1中，如果通过温度调节部13的控制，马达9被驱动而第2风扇12旋转的话，则外部气体从多个通气口21以及开口23与门14的间隙被引入至框体2内，并且框体2内的空气从排气口22被排出。由此，在框体2内，将产生从前方向后方的空气流动。具体地，框体2内的空气在恒温箱3的上方及侧方从前方向后方地流动之后，绕至恒温箱3的后方(进入空间24)，其后，从排气口22被排出到框体2外。此时，由于空 气经过温度调节部13的上方及后方以及温度调节部13与恒温箱3之间的空间，温度调节部13被冷却。温度调节部13相对于检测器用基板16，配置于流经框体2内的空气的下游侧。

4.作用效果

(1)在本实施方式中，如图1及图2所示，检测器用基板16配置在框体2中的不受温度调节部13的发热的影响的位置。即，能够防止检测器用基板16受到温度调节部13的发热的影响。

因此，通过检测器用基板16，能够高精度地对检测器6的检测信号进行处理。

另外，由于第2风扇12、排气口22及温度调节部13均配置于框体2内的背面2B侧，所以能够高效地对温度调节部13进行冷却。

因此，能够减小温度调节部13的发热的影响。

其结果，通过检测器用基板16，能够更加高精度地对检测器6的检测信号进行处理。

(2)另外，在本实施方式中，如图1及图2所示，由于温度调节部13在框体2内配置于背面2B侧，检测器用基板16在框体2内配置于前表面2C侧，所以能够保持较大的温度调节部13和检测器用基板16的间隔。

因此，能够可靠地防止检测器用基板16受到温度调节部13的发热的影响。

(3)另外，在本实施方式中，如图1及图2所示，温度调节部13与第2风扇12一起配置在恒温箱3和框体2的背面2B之间的空间24中。

因此，能够利用恒温箱3和框体2的背面2B之间的空闲空间即空间24来配置温度调节部13。

另外，能够防止在框体2内将温度调节部13配置在遮挡空气流动的位置。

因此，能够在有效地利用框体2内的空闲空间的同时，减小温度调节部13的发热的影响。

(4)另外，在本实施方式中，如图1及图2所示，马达9配置在恒温箱3与框体2的背面2B之间的空间24中，恒温箱3配置于马达9的侧方。

因此，能够在框体2内，有效地利用为了配置马达9所需的空间来配置温度调节部13。

(5)另外，在本实施方式中，如图1及图2所示，流量控制部8配置于恒温箱3与框体2的背面2B之间的空间24中的上侧，温度调节部13配置于空间24中的下侧。

因此，能够在框体2内高效地将温度调节部13配置在与流量控制部8不同的位置。

5.变形例

在上述实施方式中，设为排气口22形成于框体2的背面2B来进行了说明，但排气口22只要形成于框体2中的背面2B侧即可。例如，排气口22也可以形成在框体2的底面2A的后方部、或形成在框体2的侧面2D的后方部。

另外，在上述实施方式中，虽然设为温度调节部13配置在恒温箱3的后方(空间24)来进行了说明，但温度调节部13只要配置在其发热不影响到检测器用基板16的位置即可。例如，温度调节部13也可以安装于作为恒温箱3的侧面的、与安装有检测器用基板16的侧面相反一侧的侧面。在这种情况下，温度调节部13只要配置于框体2内的背面2B侧即可。

另外，在上述实施方式中，虽然设为马达9驱动第1风扇11及第2风扇12这两者来进行了说明，但并不限于这种结构，也可以单独地设置用于分别驱动第1风扇11及第2风扇12的马达。

另外，在上述实施方式中，虽然设为空气从多个通气口21以及开口23与门14的间隙流入框体2内来进行了说明，但并不限于这种结构，也可以是空气从形成于框体2的其他开口、间隙等流入框体2内的结构。

符号说明

1 气相色谱仪

2 框体

2B 背面

2C 前表面

3 恒温箱

4 色谱柱

6 检测器

8 流量控制部

9 马达

12 第2风扇

13 温度调节部

16 检测器用基板

22 排气口

24 空间。