使用开尔文电桥的集成电路(IC)测试插座的制作方法与工艺

文档序号:12951383阅读:来源:国知局
使用开尔文电桥的集成电路(IC)测试插座的制作方法与工艺

技术特征:
1.一种用于电气连接集成电路的插座,其用于使所述集成电路即IC电气连接至板,使得能够向所述板发送信号,所述插座包括:基座,用于在所述基座上收纳所述集成电路;长形弹性管状构件,其容纳在所述基座中;多个驱动座,其配置在所述长形弹性管状构件的一侧,用于向下方的测试装置传导驱动信号,其中各所述驱动座包括横向开放腔;多个感测座,其配置在所述长形弹性管状构件的相对侧,用于向下方的测试装置传导感测信号,其中各所述感测座包括相对于各个所述驱动座的横向开放腔对准的横向开放腔;驱动杆,其与各所述驱动座协作以与所述集成电路相接触,其中所述驱动杆包括所述驱动座的横向开放腔中所配置的摇臂以使得所述驱动杆在该摇臂和所述驱动座的横向开放腔处绕所述驱动座进行枢转,各所述驱动杆被所述长形弹性管状构件施力而处于解除接合位置;感测杆,其与各所述感测座协作以与所述集成电路相接触,其中所述感测杆包括所述感测座的横向开放腔中所配置的摇臂以使得所述感测杆在该摇臂和所述感测座的横向开放腔处绕所述感测座进行枢转,各所述感测杆被所述长形弹性管状构件施力而处于解除接合位置,其中,作用于所述驱动杆的向下力使所述驱动杆向着所述感测座转动,并且作用于所述感测杆的向下力使所述感测杆向着所述驱动座转动,以及始终维持所述驱动杆和所述感测杆之间的间隔,使得在所述驱动杆和所述感测杆之间不存在接触。2.根据权利要求1所述的用于电气连接集成电路的插座,其中,还包括开尔文连接器,所述开尔文连接器连接至所述驱动座和所述感测座。3.根据权利要求2所述的用于电气连接集成电路的插座,其中,所述开尔文连接器通信所述集成电路的实际电阻。4.根据权利要求1所述的用于电气连接集成电路的插座,其中,所述驱动杆包括用以避让所述感测杆的侧缺口。5.根据权利要求1所述的用于电气连接集成电路的插座,其中,所述感测杆包括用以避让所述驱动杆的侧缺口。
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