1.一种用于物体(14)几何测量的装置，其具有
-用于物体(14)的支座(12)，
-至少一个相对于支座(12)可固定的基准物体(18,20)，
-在至少一个方向(x，z)上相对于基准物体(18,20)移动的支架(126)，在支架上配置有一个基准物件(128)和一个间距测量设备(70)，所述设置间距测量设备(70)构成为用于测量物体(14)和基准物件(128)之间的间距(38,140)，
-其中在支架(126)或基准物件(128)上，相互呈间距地配置有朝向基准物体(18,20)的第一和第二基准传感器(150,152)，两个基准传感器构成为用于测量到基准物体(18,20)的第一和第二间距(51,53)。
2.根据权利要求1所述的装置，其中形成第一基准传感(150)以用于测量到基准物体(18)朝向支架(126)或朝向基准物件(138)的基准面(22)的第一点(21)的第一间距(51)。
3.根据权利要求1所述的装置，其中形成第二基准传感器(150)以用于测量到基准物体(18)朝向支架(126)或朝向基准物件(138)的基准面(22)的第二点(23)的第二间距(53)。
4.根据权利要求3所述的装置，其中用所述第一和第二基准传感器(150,152)之间的间距(D)校正所述基准面(22)的第一点(21)和第二点(23)之间的间距(d)。
5.根据前述权利要求之一所述的装置，还具有控制设备(60)，借助于所述控制设备，可由所述第一间距(51)和第二间距(52)测定所述支架(126)或其基准物件(128)相对于所述基准物体(18,20)的位置和取向。
6.根据前述权利要求之一所述的装置，其中所述支架(126)在由第一方向(x)和第二方向(z)所展开的平面(x,z)中相对于所述第一和第二基准物体(18,20)移动。
7.根据权利要求6所述的装置，其中所述第一基准传感器(150)和所述第二基准传感器(152)对准第一基准物体(18)，并且其中第三基准传感器(154)对准第二基准物体(20)。
8.根据权利要求6或7所述的装置，其中所述第一基准物体(18)平行于第一方向(x)定向，其中第二基准物体(20)平行于第二方向(z)定向。
9.根据前述权利要求之一所述的装置，其中所述间距测量设备(70)具有一个第一间距传感器(34)和一个第二间距传感器(36)，所述第一和第二传感器相对于基准物件(128)呈可旋转安装。
10.根据权利要求9所述的装置，其中所述第一间距传感器(34)朝向支座(12)，并且其中所述第二间距传感器(36)朝向基准物件(128)。
11.根据前述权利要求之一所述的装置，其中物体支架(102)呈可旋转或可平移地安置在支座(12)上。
12.根据前述权利要求之一所述的装置，其中在支座(12)上方呈可移动配置在基座(110)上的支架(126)可越出物体(14)的对置的外缘(14a,14b)。
13.一种借助于前述权利要求之一所述的装置用于物体(14)几何测量的方法，其中借助于间距测量设备(70)以扫描获取安装在支座(12)上的物体(14)的表面外形(15)，其中：
-借助于间距测量设备(70)测量在物体(14)的测量点(42)和基准物件(128)的基准点(140)之间的多个间距，并产生物体(14)的表面图像，
-借助于第一和第二基准传感器(150,152)推算出支架(126)或其基准物件(128)相对于基准物体(18,20)的位置和取向，和
-基于支架(126)或其基准物件(128)相对于基准物体(18,20)的位置和取向来校正表面图像。
14.一种借助于上述权利要求1-12之一所述的装置用于物体(14)几何测量的计算机程序，其具有：
-借助于间距测量设备(70)以扫描获取安置在支座(12)上的物体(14)的表面外形(15)的程序工具，
-用于测量物体(14)的测量点(42)和基准物件(128)的基准点(140)之间多个间距且用于产生物体(14)的表面图像的程序工具，
-用于借助于第一和第二基准传感器(150,152)推算支架(126)或其基准物件(128)相对于基准物体(18,20)的位置和取向的程序工具，和
-用于基于支架(126)或其基准物件(128)相对于基准物体(18,20)的位置和取向来校正表面图像的程序工具。