一种用于ct机的几何校准装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种几何校准装置，尤其涉及一种用于CT机的几何校准装置。
【背景技术】
[0002]CT (Computer Tomography)机也被称作计算机断层扫描设备，其主要包括球管(Tube)、探测器(Detector)、床(Table)和机架(Gantry)。在使用过程中，病人可以躺卧于床上，床可进出机架，床进出机架的方向被称为Z方向。探测器可位于机架内，机架可处于旋转状态。当球管发射的X射线在穿过病人以后，可以被探测器所采集，进而通过后续的重建算法得到CT影像。
[0003]现有的一种用于CT机的探测器如图1所示，其包括多个大型的、扁平的模组101 (Module)，每一个模组又可以包含多个包(Pack)，每个包内可以有多个探测器单元(Cell)。在生产制造这种探测器的过程中，包与包之间以及模组与模组之间都很可能会存在间隙102。这些间隙的大小很难全部控制在预期的范围内，这就会导致最终得到的影像上出现环状或带状伪影。因此，需要在进行CT扫描之前进行几何校准，即:采用适当的装置来产生一些用于计算该间隙的数据，从而算出该间隙，以最大限度地消除这样的伪影。
[0004]但是，现有技术中还没有能够对上述的探测器进行几何校准的装置。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的在于提供一种用于CT机的几何校准装置，以解决现有技术中无法为上述类型的CT机探测器进行几何校准的问题。
[0006]本实用新型的一个实施例提供了一种用于CT机的几何校准装置，包括:板状件、挂接件和针，挂接件与板状件的一端相连接，用于将几何校准装置挂接于CT机的几何校准模架上，针的一端与板状件相连接。
[0007]本实用新型提供的用于CT机的几何校准装置，能够对上述的CT机探测器进行几何校准。
【附图说明】
[0008]通过结合附图对于本实用新型的实施例进行描述，可以更好地理解本实用新型，在附图中:
[0009]图1所示为现有的一种用于CT机的探测器的示意图；
[0010]图2所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置一个实施例的立体示意图；
[0011]图3所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置中的针与板状件的连接结构的一个实施例的装配示意图；
[0012]图4所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置中的针与板状件的连接结构的另一个实施例的装配示意图；
[0013]图5所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置中的检测孔的一个实施例的装配示意图；
[0014]图6所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置在几何校准时的放置位置的一个实施例的示意图。
【具体实施方式】
[0015]以下将描述本实用新型的【具体实施方式】，需要指出的是，在这些实施方式的具体描述过程中，为了进行简明扼要的描述，本说明书不可能对实际的实施方式的所有特征均作详尽的描述。应当可以理解的是，在任意一种实施方式的实际实施过程中，正如在任意一个工程项目或者设计项目的过程中，为了实现开发者的具体目标，为了满足系统相关的或者商业相关的限制，常常会做出各种各样的具体决策，而这也会从一种实施方式到另一种实施方式之间发生改变。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所做出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本实用新型公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本公开揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，应当理解为包含在本实用新型所公开的范围内。
[0016]除非另作定义，权利要求书和说明书中使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“一个”或者“一”等类似词语并不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同元件，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，也不限于是直接的还是间接的连接。
[0017]参考图2，图2所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置200 —个实施例的立体示意图。几何校准装置200可以包括板状件201、挂接件202和针203。挂接件202与板状件201的一端相连接，用于将几何校准装置200挂接于CT机的几何校准模架(Holder)上，203针的一端与板状件201相连接。
[0018]所谓板状件，是指该部件的三维尺寸中，长度和宽度可以明显大于厚度，此外，该部件在长和宽的方向上可以存在一平面区域。比如:该部件的平面区域可以呈如图2所示的矩形，也可以是任何其它形状的平面。在本实用新型的一个实施例中，板状件201可以为塑料材质。在本实用新型的另一个实施例中，板状件201也可以为金属材质。
[0019]在本实用新型的一个实施例中，针203可以垂直地连接到板状件201。具体来说，针203连接到板状件201以后，其可以垂直于板状件201的平面区域。
[0020]在本实用新型的一个实施例中，可以设置两根连接到板状件201的针，这两根针均垂直于板状件201。在本实用新型的一个实施例中，还可以在针上的适当位置设置标注点，以提示用户:当将本几何校准装置挂接到CT机的几何校准模架上后，若CT机上的Z方向定位灯刚好对准该标注点，则可以进行较好的几何校准。
[0021]参考图3，图3所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置中的针与板状件的连接结构的一个实施例的装配示意图。在图3所示的实施例中，针203与板状件201之间通过磁力相连接。如图3所示，可以在板状件上设置磁铁301，其可固定于板状件201，比如，可以在板状件201上开设用于固定磁铁302的孔301，然后将磁铁302嵌于孔302内。相应地，可以在针203上与板状件201连接的一端设置磁力连接件303，磁力连接件303可以是能够被磁铁302的磁力所吸引的金属，这样，针203就可以与磁铁302通过磁力相连接，从而连接到板状件201上。
[0022]参考图4，图4所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置中的针与板状件的连接结构的另一个实施例的装配示意图。在图4所示的实施例中，可以在板状件201上开设通孔402，并可在针203上与板状件201相连接的一端设置机械连接件401。机械连接件401上设置有螺孔，用螺丝(图中未示出)穿过通孔402并拧入螺孔，就可以将针203连接到板状件201上。
[0023]参考图5，图5所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置中的检测孔的一个实施例的装配示意图。几何检测装置经过一段时间的使用以后，其上的针可能会出现弯曲变形，这将明显地影响几何校准的准确性。因此，在本实用新型的一个实施例中，可以在板状件201内设置检测孔501，用于检测针203是否有超过可接受限度的弯曲。比如:可以在板状件201的侧面开设一个或多个检测孔501，每个检测孔的直径可以大于针203的直径，每个检测孔的深度可以大于或等于针203的长度。检测孔501的直径可以只是略大于针203的直径，其具体值可以根据针203得直径加上能够接受的弯曲范围来确定。这样，将针203插入检测孔501时，如果能够正常进入，则说明针203没有发生明显的弯曲，如果无法正常进入，则说明针已发生明显弯曲。检测孔501还可以起到存放不使用的针的作用。
[0024]参考图6，图6所示为本实用新型的用于CT机的几何校准装置在用于几何校准时的放置位置的一个实施例的示意图。如图6所示，在进行几何校准时，可以在CT机的床602上设置几何校准模架603，用于几何校准的被扫描模具(如:水模等)可以被放置在几何校准模架603上，本实用新型的几何校准装置604可以通过其上的挂接件挂于几何校准模架603上。当挂接到几何校准模架603上后，几何校准装置604中的板状件可垂直于床602所在的平面，几何校准装置604中的针可与Z方向平行。此外，还可以用Z方向的定位灯来对齐针上的标注点。当完成上述的设置以后，就可以开始发射X射线以进行几何校准了。
[0025]本实用新型提供的一种用于CT机的探测器的几何校准装置，能够对CT机的探测器进行几何校准。将针通过磁力连接到板状件，还能明显减少针的弯折；额外设计的检测孔，既能够存放未使用的针，又能够检测针是否有明显弯折；使用塑料材质的板状件，能够减小整个装置的重量，从而避免由于该装置放置不当，板状件重量压于针上导致针的弯折。
[0026]本领域内的技术人员应明白，本实用新型可采用完全硬件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。以上所述仅为本实用新型的实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的权利要求范围之内。
【主权项】
1.一种用于CT机的几何校准装置，其特征是，包括:板状件、挂接件和针，所述挂接件与所述板状件的一端相连接，用于将所述几何校准装置挂接于所述CT机的几何校准模架上，所述针的一端与所述板状件相连接。2.根据权利要求1所述的几何校准装置，其特征是，所述针垂直地连接到所述板状件。3.根据权利要求1所述的几何校准装置，其特征是，还包括: 磁铁，其固定于所述板状件；以及 磁力连接件，其位于所述针的一端，用于将所述针与所述磁铁通过磁力连接。4.根据权利要求1所述的几何校准装置，其特征是，还包括: 螺丝，其可穿过开设于所述板状件上的通孔；以及 机械连接件，其位于所述针的一端，其上设置有螺孔，所述螺丝可拧入所述螺孔。5.根据权利要求1-4中的任一项所述的几何校准装置，其特征是，还包括: 检测孔，其位于所述板状件内，其直径大于所述针的直径，其深度大于或等于所述针的长度。
【专利摘要】本实用新型涉及了一种用于CT机的几何校准装置。该装置包括：板状件、挂接件和针，挂接件与板状件的一端相连接，用于将几何校准装置挂接于CT机的几何校准模架上，针的一端与板状件相连接。
【IPC分类】A61B6/03
【公开号】CN205031281
【申请号】CN201520615071
【发明人】刘丹, 王学礼, 徐振华
【申请人】通用电气公司
【公开日】2016年2月17日
【申请日】2015年8月14日