技术特征：
技术总结
本发明涉及半导体领域，公开了一种器件速度参数的测试方法及系统。本发明中，将至少一预设的用于获取信号频率值的测试电路结构设置在芯片电路中；在测试电路结构的信号输入端输入预设的测试信号；获取测试电路结构信号输出端的信号频率值；根据信号频率值获取芯片器件速度参数。这样，通过在芯片电路中设置用于获取信号频率值的测试电路结构的方式，从而根据所获取的信号频率值来获取芯片器件速度参数，相比于现有技术中的芯片器件速度参数的获取方法而言，能够更加直接的获取芯片器件速度参数，并能够获得准确度较高的芯片器件速度参数。
技术研发人员：吕佳
受保护的技术使用者：联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司
技术研发日：2016.03.18
技术公布日：2017.09.26