1.一种用于提供磁场传感器的传感器信号的方法，其中，所述磁场传感器包括至少四个XMR元件，所述XMR元件被连接在包括并联分支的全桥电路中，其中所述全桥电路的对角线中的两个XMR元件具有相同的形状各向异性，并且其中所述全桥电路的同一分支中的XMR元件具有不同的形状各向异性，其中所述方法包括：
检测所述全桥电路的桥信号，其中所述桥信号包括一个桥信号值序列；
检测所述至少四个XMR元件当中的一个的单元件信号，其中所述单元件信号包括一个单元件信号值序列；以及
如果桥信号值处在预定义桥信号值范围内并且如果单元件信号值处在预定义单元件信号值范围内，则提供所述桥信号以作为传感器信号。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述全桥电路的两个XMR元件包括定义第一形状各向异性的第一长宽比，并且其中所述全桥电路的另外两个XMR元件包括定义第二形状各向异性的第二长宽比，其中第二长宽比是第一长宽比的1/5到2/3，并且其中在检测单元件信号的步骤期间，检测包括第二长宽比的所述另外两个XMR元件当中的一个的单元件信号。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预定义桥信号值范围包括上限阈值和下限阈值，其中如果桥信号值落在上限阈值以下或超出下限阈值，则所述桥信号值处在预定义桥信号值范围内。
4.根据权利要求3所述的方法，其还包括：
检测最大桥信号值和最小桥信号值；以及
基于所检测到的最大桥信号值设定预定义桥信号值范围的上限阈值，并且基于所检测到的最小桥信号值设定预定义桥信号值范围的下限阈值。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预定义单元件信号值范围包括上限阈值和下限阈值，其中如果单元件信号值落在上限阈值以下或超出下限阈值，则所述单元件信号值处在预定义单元件信号值范围内。
6.根据权利要求5所述的方法，其还包括：
检测最大单元件信号值和最小单元件信号值；以及
基于所检测到的最大单元件信号值设定预定义单元件信号值范围的上限阈值，并且基于所检测到的最小单元件信号值设定预定义单元件信号值范围的下限阈值。