CPU器件测试图形向量的生成方法与流程

文档序号:11825132阅读:421来源:国知局
CPU器件测试图形向量的生成方法与流程

本发明涉及图形向量的生成方法,具体而言是CPU器件测试图形向量的生成方法。



背景技术:

CPU器件由于集成度高,功能复杂,按照一般逻辑电路的编程思路,通过分析器件的逻辑功能编制测试图形向量是不可实现的,因此,往往针对待测CPU器件搭建最小系统进行测试。目前,CPU器件的测试思路主要有两种:一是面向器件的结构进行测试,向生产厂家索要向量文件,再将向量文件转换成测试向量。但是,由于测试向量包含了电路结构的设计思路,设计方为了维护自身的权益,往往拒绝提供向量文件。二是针对待测CPU器件的功能进行测试。通常采用“编写源程序,直接烧录测试”的测试方案,不仅源程序复杂,测试程序繁琐,而且不可避免地存在外围器件的影响。因此,设计出一种可降低源程序复杂程度、简化测试程序并能避免外围器件影响的CPU器件测试图形向量的生成方法十分必要。



技术实现要素:

本发明的目的是提供一种可降低源程序复杂程度、简化测试程序并能避免外围器件影响的CPU器件测试图形向量的生成方法。

为实现这一目的,本发明采用如下技术方案:

一种CPU器件测试图形向量的生成方法,包括以下步骤:

a.编写源程序:

按照待测CPU器件的功能,使用汇编语言或C语言分段编写源程序;

b.软件仿真:

采用可对待测CPU器件进行软件开发的仿真软件对所述源程序进行仿真,在仿真结果与源程序设定结果不一致时修改源程序,直至两者结果一致,形成最终源程序和存储器支持的可烧录文件;

c.搭建开发系统:

搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统,所述辅助电路板包括锁存器、外部存储器和待测CPU器件插座,将所述可烧录文件烧录至外部存储器,将CPU器件管脚复用功能分时序分割,并提供电源、时钟、复位、时序控制等信息;

d.引导并运行最终源程序:

由外部存储器提供最终源程序,辅助电路板上锁存器将地址信号锁存,集成电路测试机提供控制信号合并地址和数据信息,并控制CPU器件上电复位后访问外部存储器,将最终源程序拷贝至片内,运行最终源程序,输出结果;

e.形成最初测试图形向量:

集成电路测试机采集并记录CPU器件的输入输出信息,保存为输出状态,形成最初测试图形向量;

f.生成测试图形向量:

摆脱辅助电路板,由集成电路测试机模拟外部存储器,提供CPU器件输入信息,根据CPU器件功能,分析采集到的地址锁存使能端和程序读选通信号的状态,区分复用管脚的分时状态,将最初测试图形向量中CPU器件的输入信息修改为输入状态,将复用管脚输入周期中的信号修改为输入状态,其余信息保持输出状态,生成测试图形向量。

进一步地,所述外部存储器为EEPROM或EPROM。

进一步地,所述仿真软件为支持MCS-51型CPU的Keil仿真软件或者支持AVR型CPU器件的AVR studio仿真软件。

本发明通过集成电路测试机来模拟外部存储器,按照存储器的读写时序给CPU器件传输程序,这样不仅可以有效的避免外围器件的影响,还简化了测试程序,无需事先对CPU器件烧录程序,可直接上机测试。同时,采用分段编写源程序,既降低了源程序的复杂程度,又可以有效地进行故障定位。

附图说明

图1为本发明的流程示意图;

图2为本发明的开发系统结构示意图;

图3为源程序示例图;

图4为测试图形向量说明图。

图中:“1”、“0”表示输入信号;“H”、“L”表示预期输出信号。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细描述,但该实施例不应理解为对本发明的限制。

实施例1

a.编写源程序:

按照CPU器件的功能,使用汇编语言编写源程序;

b.软件仿真:

采用Keil仿真软件对CPU器件的各部分功能进行仿真,形成最终源程序,将最终源程序转换为.hex文件;

c.搭建开发系统:

搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统,所述辅助电路板包括锁存器、外部存储器和待测CPU器件插座,将所述.hex文件烧录至外部存储器,将CPU器件管脚复用功能分时序分割,并提供电源、时钟、复位、时序控制等信息;

d.引导并运行最终源程序:

由外部存储器提供最终源程序,辅助电路板上锁存器将地址信号锁存,集成电路测试机提供控制信号合并地址和数据信息,并控制CPU器件上电复位后访问外部存储器,将最终源程序拷贝至片内,运行最终源程序,输出结果;

e.形成最初测试图形向量:

集成电路测试机采集并记录CPU器件的输入输出信息,保存为输出状态,形成最初测试图形向量;

f.生成测试图形向量:

摆脱辅助电路板,由集成电路测试机模拟外部存储器,提供CPU器件输入信息,根据CPU器件功能,分析采集到的地址锁存使能端和程序读选通信号的状态,区分复用管脚的分时状态,将最初测试图形向量中CPU器件的输入信息修改为输入状态,将复用管脚输入周期中的信号修改为输入状态,其余信息保持输出状态,生成测试图形向量。

实施例2

a.编写源程序:

按照CPU器件的功能,使用C语言编写源程序;

b.软件仿真:

采用Keil仿真软件对CPU器件的各部分功能进行仿真,仿真结果与源程序设定结果不一致,修改源程序,直至两者结果一致,形成最终源程序,将最终源程序转换为.hex文件;

c.搭建开发系统:

搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统,所述辅助电路板包括锁存器、外部存储器和待测CPU器件插座,将所述.hex文件烧录至外部存储器,将CPU器件管脚复用功能分时序分割,并提供电源、时钟、复位、时序控制等信息;

d.引导并运行最终源程序:

由外部存储器提供最终源程序,开发板上锁存器将地址信号锁存,集成电路测试机提供控制信号合并地址和数据信息,并控制CPU器件上电复位后访问外部存储器,将最终源程序拷贝至片内,运行最终源程序,输出结果;

e.形成最初测试图形向量:

集成电路测试机采集并记录CPU器件的输入输出信息,保存为输出状态,形成最初测试图形向量;

f.生成测试图形向量:

摆脱辅助电路板,由集成电路测试机模拟外部存储器,提供CPU器件输入信息,根据CPU器件功能,分析采集到的地址锁存使能端和程序读选通信号的状态,区分复用管脚的分时状态,将最初测试图形向量中CPU器件的输入信息修改为输入状态,将复用管脚输入周期中的信号修改为输入状态,其余信息保持输出状态,生成测试图形向量。

实施例3

a.编写源程序:

按照CPU器件的功能,使用汇编语言编写源程序;

b.软件仿真:

采用AVR studio仿真软件对CPU器件的各部分功能进行仿真,形成最终源程序,将最终源程序转换为.hex文件;

c.搭建开发系统:

搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统,所述辅助电路板包括锁存器、外部存储器和待测CPU器件插座,将所述.hex文件烧录至外部存储器,将CPU器件管脚复用功能分时序分割,并提供电源、时钟、复位、时序控制等信息;

d.引导并运行最终源程序:

由外部存储器提供最终源程序,辅助电路板上锁存器将地址信号锁存,集成电路测试机提供控制信号合并地址和数据信息,并控制CPU器件上电复位后访问外部存储器,将最终源程序拷贝至片内,运行最终源程序,输出结果;

e.形成最初测试图形向量:

集成电路测试机采集并记录CPU器件的输入输出信息,保存为输出状态,形成最初测试图形向量;

f.生成测试图形向量:

摆脱辅助电路板,由集成电路测试机模拟外部存储器,提供CPU器件输入信息,根据CPU器件功能,分析采集到的地址锁存使能端和程序读选通信号的状态,区分复用管脚的分时状态,将最初测试图形向量中CPU器件的输入信息修改为输入状态,将复用管脚输入周期中的信号修改为输入状态,其余信息保持输出状态,生成测试图形向量。

实施例4

a.编写源程序:

按照CPU器件的功能,使用C语言编写源程序;

b.软件仿真:

采用AVR studio仿真软件对CPU器件的各部分功能进行仿真,形成最终源程序,将最终源程序转换为.hex文件;

c.搭建开发系统:

搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统,所述辅助电路板包括锁存器、外部存储器和待测CPU器件插座,将所述.hex文件烧录至外部存储器,将CPU器件管脚复用功能分时序分割,并提供电源、时钟、复位、时序控制等信息;

d.引导并运行最终源程序:

由外部存储器提供最终源程序,辅助电路板上锁存器将地址信号锁存,集成电路测试机提供控制信号合并地址和数据信息,并控制CPU器件上电复位后访问外部存储器,将最终源程序拷贝至片内,运行最终源程序,输出结果;

e.形成最初测试图形向量:

集成电路测试机采集并记录CPU器件的输入输出信息,保存为输出状态,形成最初测试图形向量;

f.生成测试图形向量:

摆脱辅助电路板,由集成电路测试机模拟外部存储器,提供CPU器件输入信息,根据CPU器件功能,分析采集到的地址锁存使能端和程序读选通信号的状态,区分复用管脚的分时状态,将最初测试图形向量中CPU器件的输入信息修改为输入状态,将复用管脚输入周期中的信号修改为输入状态,其余信息保持输出状态,生成测试图形向量。

本说明书中未作详细描述的内容,属于本专业技术人员公知的现有技术。

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