一种应用于集成电路检测的定位连接装置的制作方法

本发明涉及集成电路检测装置的技术领域，更具体地说涉及一种应用于集成电路检测的定位连接装置。

背景技术：
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运算放大器集成电路，又称为集成运算放大器，简称为集成运放，是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。现有的运算放大器集成电路的检测一般人工使用万用表直流电压档，测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)，同时用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号)，若万用表表针有较大幅度的摆动，则说明该运算放大器完好；若万用表表针不动，则说明运算放大器已损坏。而诸如此类的手工检测，都要手持检测表相连的探针去接触集成电路检测部位的定位检测点，但如运算放大器集成电路的检测，还需要手动给集成电路加入干扰信号，则单人双手完成检测较为困难。

技术实现要素：
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本发明的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种应用于集成电路检测的定位连接装置，其释放双手，方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种应用于集成电路检测的定位连接装置，包括下夹板和上夹板，下夹板上固定连接有竖直的螺柱，上夹板插套在螺柱上，上夹板上侧的螺柱上插套有第一压簧，第一压簧的两端分别压靠在上夹板和螺套上，螺套螺接在螺柱上，螺柱后侧的上夹板上固定连接有立柱，立柱的上端穿过螺套固定连接有横杆，螺套上侧的螺柱上插套有伸缩管，伸缩管上侧的螺柱上插套有第二压簧，第二压簧的两端分别压靠在伸缩管和帽盖上，帽盖螺接在螺柱上；

所述的伸缩管内插接有伸缩杆，伸缩杆的前端插接有竖直的探针，探针的下端插套有第三压簧并成型有环形的轴台，第三压簧的两端分别压靠在伸缩杆和探针的轴台上，探针的上端穿过伸缩杆成型有提手，提手抵靠在伸缩杆上。

所述伸缩杆的前端成型有圆形的连接头，探针插接在伸缩杆的连接头上。

所述的伸缩管的后端成型有圆形的连接座，伸缩管的连接座插套在螺柱上。

所述伸缩杆长度小于伸缩管的长度，伸缩管上螺接有定位螺钉，定位螺钉的底端抵靠在伸缩杆上。

所述的上夹板上成型有避让槽口。

所述螺套的外壁上成型有立柱的限位槽口，立柱安置于螺套的限位槽口内。

本发明的有益效果在于：

它为代替手实现与与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接的装置，从而可以释放双手，在通过手动为集成电路加入干扰信号，方便单人完成集成电路的检测工作。

附图说明：

图1为发明立体的结构示意图；

图2为发明另一角度的立体结构示意图；

图3为发明正视的结构示意图。

图中：1、下夹板；2、螺柱；3、上夹板；31、避让槽口；4、第一压簧；5、螺套；6、伸缩管；7、伸缩杆；71、连接头；8、探针；81、轴台；82、提手；9、第三压簧；10、定位螺钉；11、第二压簧；12、帽盖；13、立柱；14、横杆。

具体实施方式：

实施例：见图1至3所示，一种应用于集成电路检测的定位连接装置，包括下夹板1和上夹板3，下夹板1上固定连接有竖直的螺柱2，上夹板3插套在螺柱2上，上夹板3上侧的螺柱2上插套有第一压簧4，第一压簧4的两端分别压靠在上夹板3和螺套5上，螺套5螺接在螺柱2上，螺柱2后侧的上夹板3上固定连接有立柱13，立柱13的上端穿过螺套5固定连接有横杆14，螺套5上侧的螺柱2上插套有伸缩管6，伸缩管6上侧的螺柱2上插套有第二压簧11，第二压簧11的两端分别压靠在伸缩管6和帽盖12上，帽盖12螺接在螺柱2上；

所述的伸缩管6内插接有伸缩杆7，伸缩杆7的前端插接有竖直的探针8，探针8的下端插套有第三压簧9并成型有环形的轴台81，第三压簧9的两端分别压靠在伸缩杆7和探针8的轴台81上，探针8的上端穿过伸缩杆7成型有提手82，提手82抵靠在伸缩杆7上。

所述伸缩杆7的前端成型有圆形的连接头71，探针8插接在伸缩杆7的连接头71上。

所述的伸缩管6的后端成型有圆形的连接座，伸缩管6的连接座插套在螺柱2上。

所述伸缩杆7长度小于伸缩管6的长度，伸缩管6上螺接有定位螺钉10，定位螺钉10的底端抵靠在伸缩杆7上。

所述的上夹板3上成型有避让槽口31。

所述螺套5的外壁上成型有立柱13的限位槽口，立柱13安置于螺套5的限位槽口内。

工作原理：本发明为辅助手工检测集成电路的所采用的检测定位点连接装置，其通过上夹板3和下夹板1来夹持集成电路板的边缘，从而固定本装置，然后调节定位，即移动和转动伸缩杆7，使伸缩杆7上的探针8位于检测定位点的上方，而探针8可以通过导线与检测的表具相电连接，同时探针8与检测定位点的接触为弹性接触，能避免接触不良。