一种插槽式集成电路检测装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种插槽式集成电路检测装置，它包括有长方形的主体，主体长度方向一侧的顶部向上延伸形成倾斜面，该倾斜面上设有显示屏，主体顶部一端设有操作键盘，主体顶部另一端设有三个从大到小排列的检测夹具，最大的检测夹具位于倾斜面一侧，所述的检测夹具包括有夹座、扣盖，其中，夹座底部固定在主体上，并与主体内的检测元件连接，夹座顶部设有下凹的电路腔，扣盖一端端部两侧设有向下延伸的铰块。本方案具有操作方便的优点，尤其适合产品抽检。
【专利说明】
_种插槽式集成电路检测装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其是指一种插槽式集成电路检测装置。
【背景技术】
[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。集成电路在生产后均需要进行检测，检测后进行入库，但在入库时有时还需要进行抽检，现有的检测方式都是人工一个个用检测笔测试，这种方式检测速度慢，劳动强度高，会大大增加企业生产成本。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、操作方便、使用效果好的插槽式集成电路检测装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案为:一种插槽式集成电路检测装置，它包括有长方形的主体，主体长度方向一侧的顶部向上延伸形成倾斜面，该倾斜面上设有显示屏，主体顶部一端设有操作键盘，主体顶部另一端设有三个从大到小排列的检测夹具，最大的检测夹具位于倾斜面一侧，所述的检测夹具包括有夹座、扣盖，其中，夹座底部固定在主体上，并与主体内的检测元件连接，夹座顶部设有下凹的电路腔，扣盖一端端部两侧设有向下延伸的铰块，铰块通过相应的销轴铰接在夹座一端的两侧侧壁上，扣盖另一端穿过电路腔上方延伸至夹座另一端形成扣柄，扣柄一侧的扣盖底部设有弧形弹片，夹座端部设有与弧形弹片相配合的凹状扣槽。
[0005]所述的弧形弹片采用金属制作成形。
[0006]本实用新型采用一体式结构，采用多个规格的夹具使其检测范围更大，夹具采用嵌插式的，可以随时根据所检电路进行更换，平时只需插入三个常用规格的夹具即可，当待检电路放入电路腔后，扣上扣盖使弧形弹片卡入凹状扣槽即可将电路固定，然后进行检测，本方案具有操作方便的优点，尤其适合产品抽检。
【附图说明】
[0007]图1为本实用新型的整体结构示意图。
[0008]图2为本实用新型的夹座示意图。
【具体实施方式】
[0009]下面结合所有附图对本实用新型作进一步说明，本实用新型的较佳实施例为:参见附图1和附图2，本实施例所述的一种插槽式集成电路检测装置包括有长方形的主体1，主体I长度方向一侧的顶部向上延伸形成倾斜面，该倾斜面上设有显示屏2，主体I顶部一端设有操作键盘3，主体I顶部另一端设有三个从大到小排列的检测夹具4，最大的检测夹具4位于倾斜面一侧，所述的检测夹具4包括有夹座5、扣盖6，其中，夹座5底部固定在主体I上，并与主体I内的检测元件连接，夹座5顶部设有下凹的电路腔7，扣盖6—端端部两侧设有向下延伸的铰块8，铰块8通过相应的销轴9铰接在夹座5—端的两侧侧壁上，扣盖6另一端穿过电路腔7上方延伸至夹座5另一端形成扣柄，扣柄一侧的扣盖6底部设有弧形弹片10，夹座5端部设有与弧形弹片10相配合的凹状扣槽11，所述的弧形弹片10采用金属制作成形。本实施例采用一体式结构，采用多个规格的夹具使其检测范围更大，夹具采用嵌插式的，可以随时根据所检电路进行更换，平时只需插入三个常用规格的夹具即可，当待检电路放入电路腔后，扣上扣盖使弧形弹片卡入凹状扣槽即可将电路固定，然后进行检测。
[0010]以上所述之实施例只为本实用新型之较佳实施例，并非以此限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型之形状、原理所作的变化，均应涵盖在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种插槽式集成电路检测装置，其特征在于:它包括有长方形的主体(1)，主体(I)长度方向一侧的顶部向上延伸形成倾斜面，该倾斜面上设有显示屏(2)，主体(I)顶部一端设有操作键盘(3)，主体(I)顶部另一端设有三个从大到小排列的检测夹具(4)，最大的检测夹具(4)位于倾斜面一侧，所述的检测夹具(4)包括有夹座(5)、扣盖(6)，其中，夹座(5)底部固定在主体(I)上，并与主体(I)内的检测元件连接，夹座(5)顶部设有下凹的电路腔(7)，扣盖(6 )—端端部两侧设有向下延伸的铰块(8)，铰块(8)通过相应的销轴(9 )铰接在夹座(5 ) —端的两侧侧壁上，扣盖(6)另一端穿过电路腔(7)上方延伸至夹座(5)另一端形成扣柄，扣柄一侧的扣盖(6)底部设有弧形弹片(10)，夹座(5)端部设有与弧形弹片(10)相配合的凹状扣槽(Il)02.根据权利要求1所述的一种插槽式集成电路检测装置，其特征在于:弧形弹片(10)采用金属制作成形。
【文档编号】G01R31/28GK205450195SQ201620135386
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年2月23日
【发明人】徐银森
【申请人】四川遂宁市利普芯微电子有限公司