技术总结
本发明公开了一种V型线性阻抗稳定网络耦合和去耦特性确定方法，属于电磁兼容传导发射测试技术领域。按照本发明方法可以通过计算分析V型线性阻抗稳定网络的耦合和去耦特性，对于已知元件参数的LISN，可以在趋势上预测判断该LISN的耦合和去耦特性是否满足工作需要，本发明方法对于第三方计量校验单位不进行计量的V型LISN的耦合和去耦特性具有预测和判断作用，对于设计和研制生产特性更符合需求的新型LISN具有指导意义。
技术研发人员：苏东林;吕冬翔;戴飞;刘焱
受保护的技术使用者：北京航空航天大学
文档号码：201610498281
技术研发日：2016.06.29
技术公布日：2016.12.07