基于涡流反射与透射的无损检测方法与流程

文档序号:12268106阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于涡流反射与透射的无损检测方法,其特征在于:

(1)搭建检测系统平台,将涡流传感器放置在铁磁性试件(6)的表面,将激励线圈(2)与功率放大器相连,同轴检测线圈(3)和远场涡流检测线圈(5)与锁相放大器相连接;

(2)根据被测试件(6)的几何参数,设计圆柱形的激励线圈(2)、同轴检测线圈(3)、远场涡流检测线圈(5)和铁磁屏蔽罩(1);

(3)设计响应的信号发生和处理电路;

(4)检测信号以曲线的形式输出;

(5)当涡流传感器扫查到铁磁性试件(6)上的表面缺陷(7)或者深层缺陷(8)时,激励线圈(2)位于缺陷(7、8)部位,此时检测线圈(3、5)感应电压发生变化,经过后续的信号处理,检测信号以曲线的形式输出,实现对缺陷的分类识别和定量分析。

2.根据权利要求1所述,一种基于涡流反射与透射的无损检测方法,其特征在于:涡流传感器主要由激励线圈和检测线圈两个部分组成,其中激励线圈为绕制在圆柱形磁芯上的铜制线圈,激励线圈外部套有同轴的铁磁屏蔽罩,两个检测线圈一个为激励线圈内部的同轴检测线圈,用于检测铁磁性试件表面缺陷,另一个为激励线圈外部的远场涡流检测线圈,用于检测试件的表面与深层缺陷,连杆支架将两个部分组合在一起。

3.根据权利要求1所述一种基于涡流反射与透射的无损检测方法,其特征在于:涡流传感器由同轴检测线圈和远场涡流检测线圈两个部分组成,其中同轴检测线圈用于检测铁磁性试件表面缺陷;远场激励线圈和激励线圈大小相同,两个线圈的轴线横向距离为3倍的线圈直径,激励线圈和检测线圈的底面与铁磁性试件之间保持在10mm的距离。

4.根据权利要求1所述一种基于涡流反射与透射的无损检测方法,其特征在于:激励线圈选用具有高磁导率的空心圆柱形铁氧体磁芯,在磁芯的外部绕制具有高电导率的紫铜漆包线线圈,绕制线圈的宽度和厚度分别为50mm、20mm,线径为1mm,这样不仅能够产生较强的涡流场,还可以增加对检测试件的磁化程度;远场涡流检测线圈选用的磁芯和激励线圈的磁芯大小相同、结构一样,绕制的线圈线径为0.1mm,绕制厚度为10mm;同轴检测线圈磁芯的高度、直径为激励线圈磁芯的一半,绕制的线圈线径为0.1mm,绕制厚度为5mm,较小的几何尺寸可以提高检测的分辨率。

5.根据权利要求1所述一种基于涡流反射与透射的无损检测方法,其特征在于:激励线圈外部罩有壁厚为2mm的磁屏蔽罩,磁屏蔽罩与激励线圈之间不发生接触,铁磁性材料的磁屏蔽对磁场能的吸收以及涡流在屏蔽材料发生多次反射和折射造成原始磁场发生衰减,消除直接耦合信号,提高检测的灵敏度。

6.根据权利要求1所述一种基于涡流反射与透射的无损检测方法,其特征在于:把经过锁相放大器模块处理后的检测信号引入PC机,经过编写的信号处理算法处理后用曲线的形式输出,通过对比和分析来对缺陷进行分类识别和定量分析。

当前第2页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1