技术总结
本发明提供了一种基于涡流反射与透射的无损检测方法，本方法利用常规涡流的反射作用和远场涡流的透射作用对铁磁性试件的表面缺陷和深层缺陷同时进行检测，用于识别表面与内部缺陷且能定量分析，有效解决了单纯远场涡流检测方法不能有效区分铁磁性试件内外缺陷，而常规涡流不能解决深层缺陷检测问题。检测过程中，当涡流传感器沿试件表面移动时，激励线圈对试件进行饱和磁化，同轴检测线圈用于检测试件表面缺陷，激励线圈外的磁屏蔽罩将直接耦合信号屏蔽，远场涡流检测线圈所拾取的为表面和深层缺陷信号。后续的信号进入锁相放大器模块、信号调理模块，由数据采集卡采集处理后的信号在PC机显示，实现铁磁性试件内外缺陷的分类识别与定量分析。
技术研发人员：周德强;潘萌;陈德文;赵健;杜阳;常详;李可
受保护的技术使用者：江南大学
文档号码：201610649995
技术研发日：2016.08.08
技术公布日：2017.02.22