本发明涉及电子元器件生产领域的一种检测仪器，尤其涉及一种高压二极管特性曲线检测的高压二极管的IR反向漏电流测试装置。
背景技术：
高压二极管是常用的电子元器件，高压二极管的反向击穿性能是高压二极管的重要特性指标，通常是用反向耐压测试仪进行高压二极管的反向击穿电压的测试，现在使用的反向耐压测试仪只能测试高压二极管的反向击穿电压，且一般二极管反向特性仪测试电压只有3-4KV。
技术实现要素：
本发明的目的是针对现有反向耐压测试仪的不足，提出一种可以直观地显示高压二极管的反向击穿特性曲线，且反向电压可以达到50KV的二极管反向测试仪。
本发明是通过以下技术方案实现的：
一种高压二极管的IR反向漏电流测试装置，包括电压调节器、电压采样电路、反向电流取样系统、X轴偏转放大器、Y轴偏转放大器、反向电流保护系统和测试显示系统，电压调节器提供高压二极管检测电源，测试显示系统直接显示高压二管的反向击穿持性曲线，其特征在于：所述的电压调节器为交流半波高压发生器，交流半波高压发生器产生交流半波的峰值加在被测高压二极管上，反向电流取样系统进行反向漏电流取样，当反向漏电流产生突变达到峰值时，电压采样电路测出二极管的反向击穿电压，电压采样电路采集的电压信号经X轴偏转放大器放大后输入到测试显示系统，反向电流取样系统采集的反向漏电流信号经Y轴偏转放大器放大后输入到测试显示系统，测试显示系统将X轴偏转放大器和Y轴偏转放大器的信号同步在显示器上显示形成高压二极管的反向击穿曲线；对上述技术方案作进一步的说明，所述的电压调节器的输出电压波形包括正弦半波电压、阶梯波电压和直流电压，最高峰值电压为50KV；对上述技术方案作进一步的说明，所述的X轴偏转放大器和Y轴偏转放大器可选择不同的输入信号，偏转放大器的放大比例可调节；对上述技术方案作进一步的说明，所述测试显示系统的显示器为示波管；对上述技术方案作进一步的说明，所述 X轴偏转放大器包括 X 轴采样选择开关，含有衰减器的对称式电压采样分压器和 X 轴放大器：X 轴采样选择开关，用于选择被测电子管的阳极、第一栅极和第二栅极中的一个电极作X 轴电压变量；含有衰减器的对称式电压采样分压器，用于防止电流采样电阻上的压降干扰电压采样，以及防止通过电压采样分压器的电流流过电流采样电阻干扰电流测试；X 轴放大器，用于将来自对称式电压采样分压器的电压进行放大，并将放大后的电压送至示波器 X 输入端；对上述技术方案作进一步的说明，所述的轴偏转放大器包括 Y 轴采样选择开关，电流采样电阻，衰减器和 Y 轴放大器：Y 轴采样选择开关，用于选择被测电子管的阳极、第一栅极和第二栅极中的一个电极作为Y 轴电流变量；电流采样电阻，用于获得与流过电流采样电阻的电流成正比的电压，所述电流采样电阻接于整机地与电源地之间；衰减器，用于对电流采样电阻两端的电压进行衰减；Y 轴放大器，用于将来自衰减器的电压通过 Y 轴放大器放大后送至示波器的 Y 轴输入端。
本发明具有测试精度高、显示直观和测试操作方便等特点。
附图说明
图1为高压二极管的IR反向漏电流测试装置原理图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的内容作进一步的说明：
如图所示为高压二极管的IR反向漏电流测试装置原理图，括电压调节器、电压采样电路、反向电流取样系统、X轴偏转放大器、Y轴偏转放大器、反向电流保护系统和测试显示系统。
此测试仪用于高压二极管的反向击穿性能VZ-IR曲线的测试，与一般的二极管反向测试仪仅能测量其反向击穿电压。而此测试仪可以直观地显示高压二极管的反向击穿特性曲线。反向电压可以达到50KV，调节电压调节器调节交流半波高压发生器产生交流半波的峰值，加在被测高压二极管上，通过高压取样系统，对交流半波高压进行取样，送入X轴偏转放大器。通过反向电流取样系统进行反向漏电流取样，送入Y轴偏转放大器。进入X和Y轴偏转的信号，对示波管的扫描进行控制，使得示波管上直接显示高压二管的反向击穿持性曲线，从而直接读出二极管对应高压的反向击穿电流。