1.一种微波探测系统，其特征在于包括多铁异质结和硅基共面波导，所述硅基共面波导上设置多铁异质结。
2.根据权利要求1所述的一种微波探测系统，其特征在于所述多铁异质结为铁磁金属薄膜和铁电单晶进行层状复合而成的多铁异质结。
3.根据权利要求2所述微波探测系统的探测方法，其特征在于包括如下步骤：
对微波探测系统施加外电场E，并进行电场控制调节标定，建立外电场E与共振频率的一一对应关系f(E)＝γ(H0+kE)，其中H0为外加静磁场强度，γ为电子旋磁比，E为外电场的电场强度，k为线性系数，然后对微波探测系统施加未知微波；
获取微波频率的步骤，对已施加未知微波的微波探测系统进行电场扫描，获得出现微波功率吸收峰处的电场强度E1，根据外电场E与共振频率的对应关系f(E1)＝γ(H0+k E1)，获得被探测微波的频率f(E1)；
获取微波方向的步骤，对已施加未知微波的微波探测系统进行电场扫描，获得出现微波功率吸收峰处的电场强度E1，构建外电场E与共振频率的关系f(E1)＝γ(H0+kE)sinθ，θ为未知微波入射方向与总磁场H方向的夹角，即获得微波方向；
获取微波相位的步骤，对已施加未知微波的微波探测系统进行电阻测量，所述电阻测量为测量铁磁薄膜的电阻；获得电阻的相位变化，微波相位与电阻变化相位一致，即获得微波相位。